СИМЕКС

Предназначен для подготовки проб в виде спрессованных таблеток диаметром до 13 мм, состоящих из исследуемого вещества в смеси с микрокристаллическим бромидом калия (KBr). - принцип действия пресса основан на нагнетании давления в гидравлической системе путём качания рычага. - для контроля рабочего давления пресс оснащен манометром - в комплекте с прессом могут использоваться пресс-формы диаметром 13 мм и 3,5 мм - для исследования готовых проб на фурье-спектрометре используется держатель KBr таблеток и окон-подложек D13мм или микрофокусирующая приставка (для таблеток 3,5 мм)

Для достижения предельной чувствительности при измерениях применяется специальная приставка к фурье-спектрометру ФТ-801, представляющая собой оптический блок со встроенным высокочувствительным МСТ детектором, охлаждаемым жидким азотом. Приставка устанавливается в кюветный отсек спектрометра и подключается к соответствующему внешнему электрическому порту, детектор включается программно. Чувствительность метода при этом повышается во много раз (до 20) – в зависимости от типа штатного неохлаждаемого детектора в спектрометре). Увеличивается также скорость регистрации спектров. Время работы после заполнения криостата (емкостью 200 мл) жидким азотом - не менее 6 часов. Повышение чувствительности спектрометра с помощью приставки с МСТ детектором может потребоваться для многих применений: в волоконной спектроскопии, при регистрации спектров эмиссии маломощных излучателей, при трассовом газовом анализе с высоким спектральным разрешением, при определении наличия в пробах примесей в сверхмалых концентрациях, при использовании многоходовых газовых кювет и т.п. На рисунке: слева в кюветном отсеке - каплер с волокном фирмы Art photonics GmbH, Berlin, Germany, справа - приставка с МСТ детектором. Технические характеристики Рекомендуемое количество сканов при регистрации спектров 16 Время регистрации спектра при 50 сканах (разрешение 4 см-1), сек 20 Емкость криостата, мл 200 Время работы после заполнения криостата, часов 6 Габаритные размеры, мм 225×175×75 Масса, кг 1,45

Одно- и многопроходные кюветы применяются для качественного и количественного спектрального анализа газовых смесей. Использование многопроходных кювет позволяет уверенно детектировать предельно малые концентрации компонентов исследуемого газа (менее единиц ppm). • Поставляются кюветы трех типов: 1. однопроходные, имеющие длину хода 100 мм, со стеклянным корпусом и окнами из ZnSe, KBr, NaCl 2. многопроходные, с длиной хода лучей до нескольких десятков метров 3. многопроходные, с длиной хода лучей до нескольких десятков метров, оснащенные системой нагрева рабочей камеры до 200о С и термоконтроллером Многопроходные кюветы имеют прозрачную рабочую камеру, выполненную из кварцевого стекла; зеркала с золотым (99.999) покрытием обеспечивают коэффициент отражения в ИК области не менее 98%; дополнительно кюветы могут укомплектовываться датчиками давления и температуры, арматурой для управления потоком газа и т.п.

Предназначен для пробоподготовки при исследованиях образцов с помощью ИК микроскопа и приставок зеркального отражения. Позволяет придавать форму тонкого слоя (до нескольких микрон) различным объектам: полимерным фрагментам, микрочастицам ЛКП, порошкообразным веществам, волокнам и т.п. Полученные тонкие слои на зеркальных пластинах из легированной стали исследуются методом двойного пропускания – когда излучение, прошедшее сквозь слой вещества, отражается от поверхности пластины и вновь проходит сквозь вещество. Зарегистрированные таким методом спектры полностью идентичны спектрам пропускания, полученным, например, после прессования веществ с KBr. Достоинствами в данном случае являются: - быстрота пробоподготовки - нет необходимости в использовании гидравлических и ручных прессов и пресс-форм, ступок для растирания и т.п. - нет необходимости в использовании высокочистого KBr или вазелинового масла - образец не утрачивается и, при необходимости, может быть исследован другими методами - при использовании ИК микроскопа можно “просканировать” полученный тонкий слой для выбора наиболее информативного участка, а также, если слой неоднородный по составу, получить спектральные характеристики его составляющих.

Применяются для исследования жидкостей, в том числе - растворов с низкими концентрациями • Имеют разборную конструкцию, позволяющую использовать поставляемые в комплекте прокладки разной толщины • Материал окон – ZnSe (возможен заказ окон из SiO2 и KBr) • Материал прокладок – тефлон (фторопласт) • Толщина прокладок – 0.022 мм, 0.1 мм и др

Основное отличие данной приставки от универсальной приставки НПВО и ЗДО состоит в том, что в качестве рабочего элемента МНПВО используется призма, позволяющая получить несколько отражений от области контакта с исследуемым образцом, что приводит к улучшению качества спектра и повышению чувствительности метода (полосы поглощения становятся более выраженными). Регистрация спектров зеркального и диффузного отражения (ЗДО) на данной приставке не предусмотрена. Приставка МНПВО эффективна при регистрации спектров поглощения образцов, размеры (количество) которых достаточны для обеспечения контакта со всей площадью рабочей грани призмы: * жидкостей любой степени вязкости (растворов,суспензий, масел и т.д.); * твердых эластичных образцов (полимерных фрагментов достаточно большого размера, резин, пластиков и т. д.); * порошкообразных образцов в количествах, достаточных для нанесения на всю поверхность и образцов в виде тонких пленок; Универсальный прижим оснащен прецизионным рычажным механизмом для быстрого опускания наконечника и микрометрическим винтом, позволяющим предварительно устанавливать оптимальную степень давления – это обеспечивает быстроту смены проб и повторяемость результатов при измерениях. Для удобства при работе с жидкими и пастообразными образцами предусмотрена возможность поворота консоли прижима на 180о. Примечание: приставка МНПВО не исключает возможности регистрировать спектры образцов, размеры которых меньше площади рабочей грани призмы (наличие системы визуального контроля исследуемой поверхности повышает удобство при работе с малоразмерными объектами), но общая эффективность метода при этом существенно ниже, чем при использовании универсальной приставки НПВО и ЗДО. Пропускание в рабочем диапазоне спектра, % от входного сигнала не менее 25 · Рекомендуемое число сканирований при регистрации спектров 25 · Время регистрации спектра при 25 сканах (разрешение 4 см-1), сек 30 · Глубина проникновения излучения в образец, мкм 5 – 15 · Минимальная площадь твердого образца, мм2 1 · Минимальный объем исследуемой жидкости, мл 0. 3 · Допустимый диапазон рН анализируемых объектов от 5 до 9 · Материал кристалла-подложки ZnSe CVD, Ge · Диаметр пятна фокусировки, мм 3 · Количество отражений 3 · Размер рабочей грани призмы, мм 21 Х 6 · Увеличение микрообъектива 4Х · Общее увеличение визуального канала 75Х · Поле зрения оптической системы, мм 2 Х 2,5 · Разрешение цифровой видеокамеры 640 Х 480 · Габаритные размеры,мм 145×125×240 · Масса, кг 2

Применяется для регистрации спектров пропускания твердых образцов среднего размера и произвольной формы – полимерных пленок различной толщины, оптических деталей, полупроводниковых пластин, крупных кристаллов и т.п. • Благодаря быстросъемным гайкам обеспечивает удобное закрепление образцов

ИК фурье-спектрометры "ФТ-801" могут дополнительно оснащаться специальной оптической приставкой, позволяющей эффективно использовать световодные системы. 4 типа световодных зондов позволяют измерять спектры пропускания и отражения (НПВО) в твердых, жидких и газообразных средах Современные ИК световоды обладают высоким собственным пропусканием и достаточной механической прочностью, что позволяют перенести измерения из лаборатории непосредственно на производство - для контроля протекания техпроцессов, проверки качества сырья и готовой продукции. Области применения: · Химическая и микробиологическая промышленность · Фармацевтическая промышленность · Медицина и косметология · Пищевая промышленность · Нефтепродукты, ГСМ · Криминалистика

Предназначена для измерения методом нарушенного полного внутреннего отражения с одновременной визуализацией микрообъекта на встроенном и внешнем мониторе, а также методом зеркально-диффузного отражения с углом падения 45о при верхнем расположении образца. Приставка в режиме однократного НПВО используется для регистрации спектров поглощения: жидкостей любой степени вязкости (растворов, суспензий, масел и т.д.), в том числе, обладающих высокой химической активностью; цельных объектов произвольной формы, включая образцы с очень высокой твердостью (любые полимеры, фрагменты лакокрасочных покрытий и т.д.); порошкообразных веществ, включая порошки с очень высокой твердостью (наркотики, фармпрепараты, взрывчатые вещества, неорганические соединения); образцов в виде тонких пленок; образцов в виде волокон. Максимальная твердость и химическая стойкость алмаза существенно расширяют возможности метода; отсутствует необходимость в периодической замене кристалла. Приставка позволяет регистрировать спектры без трудоемкой пробоподготовки, а наличие системы визуального контроля исследуемой поверхности с качественной видеокамерой и встроенным мини-монитором высокой четкости повышает эффективность при работе с малоразмерными образцами – фрагментами тонких волокон, микрочастицами и т.п. Встроенный монитор имеет функции цифрового 10Х увеличения (ZOOM), инвертирования и пр. Изображение может быть одновременно выведено на экран компьютера (используется USB-интерфейс) с последующим сохранением в виде файла. Съемный фланец обеспечивает быструю и удобную смену образцов и очистку поверхности кристалла. Конструкция с выступающим над базовой плоскостью алмазным элементом НПВО позволяет исследовать образцы с достаточно большими габаритными размерами. Высокое качество и повторяемость результатов достигается благодаря отсутствию влияния толщины слоя вещества на форму спектра и интенсивность полос поглощения. Образец сохраняет исходные физико-химические свойства и, при необходимости, может быть в дальнейшем исследован другими методами. Универсальный прижим приставки оснащен прецизионным рычажным механизмом для быстрого опускания наконечника и микрометрическим винтом, позволяющим предварительно устанавливать оптимальную степень давления – это обеспечивает быстроту смены проб и повторяемость результатов при измерениях. Для удобства при работе с жидкими и пастообразными образцами, а также в режиме ЗДО, предусмотрена возможность поворота консоли прижима на 180о. Приставка укомплектована двумя сменными наконечниками – со сферической рабочей частью и с плоской шарнирной головкой. Высокая твердость алмаза позволяет использовать большие усилия прижима, что является определяющим фактором для получения качественных спектров. Для регистрации спектров зеркального и диффузного отражения (ЗДО) применяется сменный столик. Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз. Метод используется для определения спектральных характеристик оптических деталей, тонких пленок на поверхности, кристаллов, прочих крупных цельных объектов произвольной формы и размера.

Применяется при исследовании образцов, спрессованных в таблетки малого диаметра с KBr (метод удобен при спектральном анализе порошкообразных веществ - приставка позволяет работать с малыми количествами образца, используя для изготовления таблеток ручной пресс). • Диаметр пятна фокусировки – менее 3 мм • В конструкции используется параболическая зеркальная оптика • В приставку могут помещаться окна-подложки после нанесения на них пастообразных, жидких веществ, либо экстрактов с последующим высушиванием слоев • Ограниченное применение – при исследовании цельных образцов с размерами менее 5 мм (предпочтительно использовать микрофокусирующую приставку вертикального типа)

Позволяет регистрировать спектры пропускания объектов с размерами от 500 мкм (драгоценные камни, оптические детали, полупроводниковые материалы). Применяется также при исследовании образцов, спрессованных в таблетки малого диаметра с KBr (метод удобен при спектральном анализе порошкообразных веществ - приставка позволяет работать с малыми количествами образца, используя для изготовления таблеток ручной пресс). • Диаметр пятна фокусировки – менее 3 мм • В конструкции используется параболическая зеркальная оптика • Приставка укомплектована набором сменных диафрагм-держателей для образцов разного размера • В держатель могут помещаться окна-подложки из ИК-прозрачных материалов после нанесения на них пастообразных, жидких веществ, либо экстрактов с последующим высушиванием слоев • Предметный столик имеет возможность плавного перемещения в вертикальном и горизонтальном направлениях для достижения максимального уровня сигнала

Предназначена для исследования различных типов твердых образцов, в том числе, оптических и полупроводниковых материалов, драгоценных камней и других объектов произвольной формы • Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол падения центрального луча на образец – 15° • Позволяет исследовать образцы малых размеров (диаметр исследуемого участка - от 1 мм) • Приставка укомплектована набором сменных диафрагм-держателей для образцов разного размера • При использовании мини-пресса позволяет исследовать образцы в виде тонкого слоя, раскатанного по зеркальной пластине из легированной стали (излучение дважды проходит сквозь слой вещества, отражаясь от зеркальной поверхности) • Не применяется: для исследования сыпучих и жидких веществ