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Profilomètre modèle 130
Profilomètre modèle 130
Mesure des paramètres de rugosité Ra; Rz; Rmax; Rp; Rv; Rq; Sm; s; la; LQ; tp; Lo; D; da; dq, etc., visualisation du profilogramme et mesure des dimensions d'hétérogénéité Trace longueur: 0.5 mm-40mm Plage de mesure par Ra: 0.012 – 50µm Degré de précision 1 (erreur. 2%) Travail dedans > 3mm
Produit en: Moscou, Zélénograd
Contour modèle 220
Contour modèle 220
Retrait et mesure de la géométrie des pièces avec 25 paramètres de rugosité; utilisation de solides de rotation sur la broche en mode de mesure circulaire Trace longueur: 0.1 mm-220mm DIAP.hauteur de mesure: 0.1 µm – 120mm Plage de mesure Ra: 0.005-500 µm Écart de rondeur: jusqu'à 4 µm Equipé d'un ensemble de palpeurs, d'un ensemble de 10 mesures d'étalonnage et de référence, ainsi que d'un ordinateur moderne
Produit en: Moscou, Zélénograd
Microscope à sonde à balayage SMM-2000
Microscope à sonde à balayage SMM-2000
Visualisation et mesure des grains et des défauts de la structure des matériaux, résolution des atomes (prix Nobel 1986), remplacement des microscopes métallographiques et électroniques Augmentation: de X2 mille à X10 millions. Plage de mesure: 0.2 nm à 30 µm Tous les modes de base (STM, contact et vibro-AFM), et plus de 25 modes supplémentaires.
Produit en: Moscou, Zélénograd