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Microscope à sonde à balayage Certus Light V est une version compacte du SPM avec une fonctionnalité et un coût minimes. La principale différence par rapport à la version principale de Certus Light est la numérisation de l'échantillon et un système d'alimentation plus précis. L'instrument se compose d'une tête de lecture en porte-à-faux, d'un scanner plat multifonctionnel, d'un système d'alimentation et d'une installation de la tête. L'appareil fonctionne avec une configuration minimale de l'unité de commande électronique intégrée directement dans le corps principal, c'est-à-dire l'appareil est un monobloc. Il est possible de contrôler à distance l'appareil via une tablette avec l'utilisation d'un LOGICIEL spécialisé pour le système d'exploitation Android.

La configuration de base du microscope à sonde à balayage Certus est conçue pour répondre à une large gamme de tâches de recherche et d'analyse. la numérisation parallèle à Plat sur les axes x, Y et Z permet d'obtenir une image de surface et d'effectuer une modification ultérieure de l'image avec un minimum de distorsion et de perte d'informations; Balayage à la fois par une sonde (un scanner ordinaire à l'intérieur de la tête de balayage Certus) et par un scanner d'échantillon XYZ ultra-rapide. l'introduction parallèle de la sonde à l'échantillon résout le problème de l'introduction manuelle laborieuse de la sonde à l'échantillon. L'alimentation est assurée par trois supports motorisés; la conception ouverte de la tête de balayage permet d'observer la surface de l'échantillon sous un angle de 0 à 90°, d'installer des appareils et des équipements supplémentaires; la configuration modulaire permet d'installer le microscope à sonde à balayage Certus Standard sur des microscopes optiques traditionnels (droits ou inversés), de les combiner avec des instruments optiques et de les mettre à niveau vers les versions Certus Optic et Centaur; mise en œuvre des principales techniques SPM. Pour changer le mode de fonctionnement du microscope à sonde à balayage (par exemple, passer d'un mode de microscope à force atomique à un mode de microscope à tunnel à balayage), il suffit de changer le support de sonde.

● Plage de grossissement: 50-800x ● Objectifs interchangeables 5x/0,12, 10x/0,25, 20x/0,40, 40X/0,60 (sur demande), 50x / 0,70, 80x / 0,80 avec une durée de travail accrue ● Oculaire 10x/18mm ● Illuminateur: illuminateur LED avec source stabilisée et batterie intégrée. Réglage de l'éclairage avec changement d'intensité linéaire. Chargeur inclus. ● Trépied de microscope réglable en hauteur avec course de 35 mm. possibilité d'incliner le trépied à un angle de ±20 degrés vers l'avant et vers l'arrière pour capturer une surface incurvée sans déplacer le microscope de son emplacement de montage ● Déplacement de l'objectif 30x30mm sur les axes X-Y ● Poignées de mise au point grossière et précise ● Fixation magnétique robuste à 3 points avec des supports articulés pour la fixation sur des surfaces convexes et concaves courbes en acier, y compris sur des coudes de tuyaux d'un diamètre de 60 mm ● Embouts antidérapants ● Fixation métallique pour surfaces non magnétiques à cliquet ● Base pour fixer le microscope en fonctionnement stationnaire ● Monture à baïonnette pour appareil photo ● C-mount pour caméscope ● Bouchon de transport pour la sortie vidéo ● Étui de transport pour microscope avec appareil photo.

Visualisation et mesure des grains et des défauts de la structure des matériaux, résolution des atomes (prix Nobel 1986), remplacement des microscopes métallographiques et électroniques Augmentation: de X2 mille à X10 millions. Plage de mesure: 0.2 nm à 30 µm Tous les modes de base (STM, contact et vibro-AFM), et plus de 25 modes supplémentaires.