Microscope à sonde à balayage SMM-2000
Visualisation et mesure des grains et des défauts de la structure des matériaux, résolution des atomes (prix Nobel 1986), remplacement des microscopes métallographiques et électroniques
Augmentation: de X2 mille à X10 millions.
Plage de mesure: 0.2 nm à 30 µm
Tous les modes de base (STM, contact et vibro-AFM), et plus de 25 modes supplémentaires.
Produit en: Moscou, Zélénograd