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Dimensions compactes Automatisation complète du système Conception originale du spectromètre Ouverture élevée de l'appareil avec une perte optique minimale. Le circuit confocal est réalisé selon le schéma original, fournit des dimensions compactes et des dérivations minimales des éléments optiques. Le microscope optique intégré fournit une recherche pratique de l'emplacement pour les mesures. La conception utilise des composants mécaniques de précision et de l'optique. Peut être utilisé dans les laboratoires industriels et les universités de recherche

Conçu pour les études complexes des propriétés physiques de la surface par la microscopie optique classique, la microscopie laser confocale, la spectroscopie confocale et la microscopie à sonde à balayage (microsocopie à force atomique). Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur I permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.).

14 moteurs pas à pas de haute précision contrôlent toutes les pièces mobiles du microscope, et un logiciel intelligent brouille la frontière entre l'imagerie optique et l'imagerie SPM. NEXT fournit un grossissement continu depuis des images optiques panoramiques à l'échelle millimétrique jusqu'à une résolution atomique, et des opérations intermédiaires telles que le pointage laser vers le porte-à-faux, le positionnement de l'échantillon, l'approche douce et la configuration des techniques SPM avancées se produisent automatiquement.

Conçu pour effectuer des études complètes des propriétés de surface par microscopie optique, spectroscopie et microscopie à sonde à balayage. Il permet d'obtenir des spectres complets de diffusion Raman et / ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM. La conception du complexe Centaur I HR permet de travailler à la fois avec des méthodes séparées (par exemple, avec la microscopie à force atomique) et de combiner des méthodes (ASM-Raman, laser confocal et ASM).

Microscope à sonde à balayage Certus Light V est une version compacte du SPM avec une fonctionnalité et un coût minimes. La principale différence par rapport à la version principale de Certus Light est la numérisation de l'échantillon et un système d'alimentation plus précis. L'instrument se compose d'une tête de lecture en porte-à-faux, d'un scanner plat multifonctionnel, d'un système d'alimentation et d'une installation de la tête. L'appareil fonctionne avec une configuration minimale de l'unité de commande électronique intégrée directement dans le corps principal, c'est-à-dire l'appareil est un monobloc. Il est possible de contrôler à distance l'appareil via une tablette avec l'utilisation d'un LOGICIEL spécialisé pour le système d'exploitation Android.

La configuration de base du microscope à sonde à balayage Certus est conçue pour répondre à une large gamme de tâches de recherche et d'analyse. la numérisation parallèle à Plat sur les axes x, Y et Z permet d'obtenir une image de surface et d'effectuer une modification ultérieure de l'image avec un minimum de distorsion et de perte d'informations; Balayage à la fois par une sonde (un scanner ordinaire à l'intérieur de la tête de balayage Certus) et par un scanner d'échantillon XYZ ultra-rapide. l'introduction parallèle de la sonde à l'échantillon résout le problème de l'introduction manuelle laborieuse de la sonde à l'échantillon. L'alimentation est assurée par trois supports motorisés; la conception ouverte de la tête de balayage permet d'observer la surface de l'échantillon sous un angle de 0 à 90°, d'installer des appareils et des équipements supplémentaires; la configuration modulaire permet d'installer le microscope à sonde à balayage Certus Standard sur des microscopes optiques traditionnels (droits ou inversés), de les combiner avec des instruments optiques et de les mettre à niveau vers les versions Certus Optic et Centaur; mise en œuvre des principales techniques SPM. Pour changer le mode de fonctionnement du microscope à sonde à balayage (par exemple, passer d'un mode de microscope à force atomique à un mode de microscope à tunnel à balayage), il suffit de changer le support de sonde.