جستجو کردن

ISKROLINE 250K یک طیف سنج انتشار اتمی نوری در یک طرح دسکتاپ است (همچنین می تواند با یک میز قابل تنظیم ارتفاع کشویی برای نصب طیف سنج بر روی آن مجهز شود). این به شکل یک مونوبلاک با تجهیزات خلاء پلاگین و لوازم جانبی رایانه (مانیتور ، صفحه کلید ، "دستکاری ماوس") ساخته شده است. این دستگاه برای تجزیه و تحلیل سریع فلزات و آلیاژها (نمونه های رسانا جامد) برای تعیین کمی و کیفی مواد افزودنی و ناخالصی های مختلف آلیاژ (در پایه های مختلف) در طول فرآیند ذوب ، در طول تجزیه و تحلیل صدور گواهینامه و همچنین برای تعیین درجه در طول کنترل ورودی طراحی شده است. در خط طیف سنج های اسکرولین ، اصلاح 250K بین اسکرولین 100 و اسکرولین 300 قرار دارد. از نظر ابعاد ، این عملا یک "بافت" است: منطقه اشغال شده روی میز توسط مدل 250 با i100 یکسان است ، تفاوت فقط در ارتفاع طیف سنج است ، به دلیل طیف سنج اضافی برای کار در منطقه طول موج طولانی طیف (که در اصطلاح "قرمز" نامیده می شود) بالاتر است. استفاده از طیف سنج اضافی امکان بهبود وضوح طیفی در محدوده اصلی را فراهم کرد ، جایی که بیشترین تعداد خطوط طیفی تحلیلی عناصر اصلی آلیاژ و ناخالصی در آن قرار دارد. یعنی: از 167 نانومتر تا 350 نانومتر ، که اجازه پراکندگی 0.98 نانومتر در میلی متر را برای دستیابی به وضوح طیف کمتر از 20 نانومتر (0.017 نانومتر) می دهد. در عین حال ، در طیف سنج دوم (در محدوده 350 نانومتر تا 800 نانومتر) ، می توان قرائت یک مدل قدیمی تر – SPARKLINE 300 را به دست آورد ، که برای این طیف طیف و دستگاهی با چنین ابعاد بسیار بسیار ارزشمند است. چنین ویژگی های برجسته ای به ISKROLINE 250k اجازه می دهد تا هنگام تجزیه و تحلیل نمونه های پیچیده با آلیاژ بالا حتی بدون استفاده از سیستم برای حسابداری تأثیر عناصر "سوم" (که در حال حاضر در پیکربندی اساسی در نرم افزار Ppm Pro وجود دارد) احساس اعتماد به نفس بیشتری داشته باشد. طیف سنج همچنین هنگام تجزیه و تحلیل نمونه های خالص در مقایسه با مدل جوانتر ISKROLINE 100 عملکرد بهتری دارد. از نظر ساختاری ، این دستگاه یک تک بلوک است که در اطراف دو طیف سنج با یک سیستم تحریک طیف بر اساس یک ژنراتور تخلیه LCR SPARKS با یک سه پایه باز ساخته شده است ، با یک سیستم ثبت طیف در 17 آشکارسازهای ccd خطی ، تحت کنترل نرم افزار اختصاصی "Ppm Pro" ، سیستم ها: تامین گاز ، جاروبرقی و مسکن.

یک طیف سنج کوچک Ir Fourier با جعبه های یکپارچه و دو آشکارساز ، از جمله MST بسیار حساس خنک شده. حالت های عملیاتی: انتقال و بازتاب ، NIP ، اندازه گیری با استفاده از سنج های فیبر نوری (نسخه هایی با یک یا دو جفت کانکتور داخلی امکان پذیر است). امکان اتصال میکروسکوپ IR و تلسکوپ برای ثبت طیف های تابش خارجی وجود دارد. طیف سنج می تواند به عنوان یک قابل حمل مورد استفاده قرار گیرد و از جمله موارد دیگر برای نظارت سریع بر فرآیندهای تکنولوژیکی ، کنترل کیفیت مایعات در مخازن و خطوط لوله ، در طول تجزیه و تحلیل های خطی اجسام بیولوژیکی ، تجزیه و تحلیل گاز از راه دور استفاده می شود. این نصب برای ایجاد تصاویر با کیفیت بالا بر روی مواد مختلف طراحی شده است و تولید مهر و موم و تمبر های کلیشه لاستیکی را با وضوح حداقل 1800 dpi فراهم می کند.

توضیحات < br>
این بر اساس پلت فرم نوآورانه Shtrik ایجاد شده است که بر اساس یک سیستم کنترل منحصر به فرد است که سخت افزار و نرم افزار آن به طور کامل توسط متخصصان شرکت ما توسعه یافته است.
این نصب برای ایجاد تصاویر با کیفیت بالا بر روی مواد مانند لاستیک ، فلز ، پلاستیک طراحی شده است و تولید مهر و موم و تمبر کلیشه را با وضوح حداقل 1800 dpi فراهم می کند.
لیزر فیبر مورد استفاده در نصب در ترکیب با سیستم اسکنرهای گالوانومتری حکاکی با کیفیت بالا را در حالت استاتیک تضمین می کند ، نیازی به خنک کننده آب و نگهداری ویژه ندارد.
هنگام مونتاژ سیستم ، فقط از قطعات آزمایش شده و گواهی شده استفاده می شود که عمر مفید ویژه ای را بدون سرمایه گذاری اضافی تضمین می کند. < br>
ویژگی ها: < br>
یک سیستم موقعیت یابی نمونه با دقت بالا دو مختصات ، که جدول شی را در امتداد محورهای X ، Y حرکت می دهد. به عنوان یک نتیجه از سیستم موقعیت یابی و حکاکی متوالی قطعات تصویر ، امکان پردازش با قطعات با دقت بالا با ابعاد تا 200 × 300 میلی متر در حالت خودکار با توجه به برنامه پردازش تنظیم شده توسط اپراتور وجود دارد;
الگوریتم حکاکی لایه ای خودکار با استفاده از مکانیسم با دقت بالا برای حرکت سر اسکن در امتداد مختصات Z به شما امکان می دهد تصاویر 3d بسیار دقیق تا عمق 5 میلی متر را در جاهای خالی فلزی (فولاد ، برنج ، آلومینیوم ، تیتانیوم و غیره) ایجاد کنید.);
فرآیند طولانی حکاکی لایه به لایه تصاویر سه بعدی عمیق (احتمالا ده ها ساعت) بدون دخالت اپراتور به لطف یک الگوریتم خودکار ارائه می شود;
Gorenje مجهز به یک سیستم داخلی برای حذف محصولات احتراق از منطقه قرار گرفتن در معرض تابش لیزر است که در نتیجه ، حفاظت از لنز بدون بو و اسکن از محصولات تولید تضمین شده است ، که به ویژه هنگام حکاکی لاستیک و پلاستیک مهم است;
بدنه نصب به طور کامل مناطق پردازش و انتشار تابش لیزر را پوشش می دهد و حکاکی با توجه به برنامه ای که توسط اپراتور در حالت خودکار تنظیم شده است با بسته شدن پوشش های نصب انجام می شود. این طراحی از نصب اجازه می دهد تا آن را به عنوان دستگاه های لیزر کلاس خطر 1 طبقه بندی شود.

طیف سنج های خلاء برای تجزیه و تحلیل سریع آلیاژها بر اساس آهن ، مس ، آلومینیوم و سایر فلزات در آزمایشگاه های کارخانه و تحقیق طراحی شده اند ، از جمله تعیین عناصر دارای خطوط تحلیلی در زمینه ماوراء بنفش خلاء (VUV) (به عنوان مثال ، S ، P و C در فولاد).

- جستجو و شناسایی منابع اشعه گاما با شناسایی ترکیب رادیونوکلید - اندازه گیری دوز محیط معادل تشعشعات گاما ترکیب فشرده سازی و حساسیت بالا امکان تجزیه و تحلیل طیف و شناسایی رادیونوکلیدها بدون استفاده از PC ماژول gps داخلی آلارم صدا ، نور و لرزش

مشخصات فنی: محدوده غلظت های اندازه گیری شده 0.005٪ - ده ها است % محدوده طیف 178-410 نانومتر است گیرنده های تابش 4 آشکارسازهای چند عنصر خطای نسبی (بسته به غلظت) 1 ٪ است...20% زمان تجزیه و تحلیل 10..40 ثانیه الزامات برای آرگون 99.998% منبع تغذیه 2208 50 هرتز ، باتری مصرف برق در حالت تجزیه و تحلیل نقطه کیلو وات وزن کنسول TG وزن ماژول نوری 2.5 کیلوگرم است

تعیین موقعیت دستگاه تشخیص در فضا در طول اندازه گیری ها سیم پیچ کابل با انتقال جریان ارائه نتایج اندازه گیری در قالب نقشه های توزیع محتوای رادیونوکلیدهای کنترل شده یا میزان دوز تابش گاما حالت متخصص برای تجزیه و تحلیل طیف سخت افزاری با شناسایی خودکار ترکیب رادیونوکلید نمونه نرم افزار garm expert برای پردازش و تجزیه و تحلیل داده های بعدی و همچنین نقشه برداری تابش

محاسبه دوز موثر مورد انتظار تشعشعات داخلی در سال از 137cs و 134Cs نرم افزار انعطاف پذیر کنترل توابع طیف سنج ، تشکیل پایگاه داده و گزارش نتایج نظرسنجی بهره وری کنترل سریع 15 نفر در ساعت است امکان اشتراک گذاری AT1316(AT1316A) و AT1322(AT1322/1) امکان اسکان در مینی بوس به عنوان بخشی از آزمایشگاه کنترل تابش سیار

طیف سنج SF-256uvi برای اندازه گیری ضریب طیف انتقال جهت مواد شفاف مایع و جامد در محدوده طیف از 190 تا 1100 نانومتر طراحی شده است. طیف سنج توسط یک کامپیوتر خارجی کار می کند. اصل عملکرد طیف سنج بر اساس اندازه گیری نسبت دو جریان نور است: نمونه ای که از نمونه آزمایش به نمونه ای که از نمونه مقایسه عبور کرده است. تابش تک رنگ که از تک رنگ کننده خارج می شود با استفاده از مدولاتور آینه ای به دو کانال (کانال نمونه و کانال مقایسه) تقسیم می شود و به محفظه کویت ارسال می شود ، سپس جریان های تابشی از هر دو کانال به طور متناوب به گیرنده تابش هدایت می شوند. سیگنال های دریافت شده از گیرنده تابش به کدهای دیجیتال تبدیل می شوند و با استفاده از یک میکروپروسسور یا یک کامپیوتر خارجی پردازش می شوند. نتایج اندازه گیری روی مانیتور و چاپگر نمایش داده می شود.

مشخصات فنی: جریان پلاسما 5..40A مدت زمان پالس تخلیه 150 μe است .._ قوس ثابت فرکانس, 50...250 تي قطبیت مستقیم ، معکوس ، متغیر است محدوده غلظت های اندازه گیری شده از ناخالصی ها در روغن ها. 9.2.1000 pl. (فرز برش) محدوده غلظت های اندازه گیری شده عناصر در مواد. 0.001% - ده ها % محدوده ویسکوزیته روغن تجزیه و تحلیل شده خطای اندازه گیری نسبی (0.5% -5%) زمان تجزیه و تحلیل 10-40 است