جستجو کردن

اسپکترومتر برای تعیین محتوای عناصر در محدوده Na تا U در مواد در حالت های جامد ، پودری ، محلول و همچنین رسوب بر روی سطح یا رسوب بر روی فیلترها طراحی شده است. اصل عملکرد طیف سنج اشعه ایکس بر اساس تابش نمونه با تابش اولیه از یک لوله اشعه ایکس ، اندازه گیری شدت تابش فلورسنت ثانویه از نمونه در طول موج های مربوط به عناصر تعیین شده و محاسبه بعدی کسر جرم این عناصر با توجه به یک ویژگی کالیبراسیون از پیش ساخته شده است که وابستگی محتوای عنصر تعیین شده به شدت اندازه گیری شده است. تابش فلورسنت ثانویه با استفاده از یک تحلیلگر کریستال به یک طیف تجزیه می شود. به همین دلیل ، طیف سنج فلورسنت اشعه ایکس دارای وضوح بالایی است و بنابراین توانایی تجزیه و تحلیل دقیق مواد چند جزء پیچیده را دارد.

ابعاد جمع و جور اتوماسیون کامل سیستم طرح اصلی طیف سنج دیافراگم بالا دستگاه با حداقل تلفات نوری. مدار کانفوکال با توجه به طرح اصلی ساخته شده است ، ابعاد جمع و جور و حداقل رانش عناصر نوری را فراهم می کند. میکروسکوپ نوری داخلی جستجوی مکان مناسب برای اندازه گیری را فراهم می کند. اجزای مکانیکی دقیق و اپتیک در طراحی استفاده می شود. هم در آزمایشگاه های صنعتی و هم در دانشگاه های تحقیقاتی قابل استفاده است.

این یک منبع تحریک برای طیف های تخلیه قوس در هوا ، الکترودهای کربن ، طیف سنج دوگانه هوا با محدوده 200-930 نانومتر و ثبت نام در آشکارسازهای خطی ccd است. تجزیه و تحلیل spectral express از مواد پودر و نمونه های رسانا.

طیف سنج در حالت مانیتورینگ کار می کند و طیف وسیعی از اندازه ها را از 5 تا 200 نانومتر پوشش می دهد و امکان گسترش محدوده بالایی تا 10 میکرون را دارد.

- جستجو و شناسایی منابع اشعه گاما با شناسایی ترکیب رادیونوکلید - اندازه گیری دوز محیط معادل تشعشعات گاما ترکیب فشرده سازی و حساسیت بالا امکان تجزیه و تحلیل طیف و شناسایی رادیونوکلیدها بدون استفاده از PC ماژول gps داخلی آلارم صدا ، نور و لرزش

مشخصات فنی: مدت زمان پالس تخلیه 150 میکرو ثانیه است ... یک قوس ثابت. فرکانس 50..250 هرتز قطبیت مستقیم ، معکوس ، دوقطبی است محدوده غلظت های اندازه گیری شده 0.001% - ده ها % عناصر موجود در مواد خطای نسبی (بسته به 0.5٪. از غلظت) 0%

ویژگی های فنی اصلی محدوده طول موج ، nm 400-940 این محدوده توسط مجموعه ای از Led های مجزا با طول موج تابش زیر ، nm فراهم می شود 400, 440, 470, 525, 590, 670, 770, 880, 940 محدوده اندازه گیری: - SKNP, %; - تراکم نوری ، B محدوده کنترل: - تراکم نوری ، B - غلظت ، واحد conc. 1-100 0,03 -2 2 - 3 0,001-9999 محدودیت های خطای مطلق مجاز در اندازه گیری SCNP ، % ± 1 حدود خطای مطلق مجاز در اندازه گیری تراکم نوری: - در محدوده 0.03 تا 0.5 B ، B - در محدوده 0.51 تا 1.09 B ، B - در محدوده 1.1 تا 2.0 B ، B ± 0,015 ± 0,045 ± 0,45 فوتومتر توسط: - از منبع تغذیه AC از طریق آداپتور شبکه - از یک منبع انرژی مستقل ولتاژ 220±22V فرکانس 50.0±0.5 هرتز چهار باتری 1.5 ولت AA هر کدام; چهار باتری AA هر کدام 1.2 ولت قدرت مصرف شده توسط فوتومتر ، در * A ، بیش از 7 ابعاد کلی ، میلی متر ، بیش از 240x200x100 وزن ، کیلوگرم ، بیش از 1.6

ISKROLINE 250K یک طیف سنج انتشار اتمی نوری در یک طرح دسکتاپ است (همچنین می تواند با یک میز قابل تنظیم ارتفاع کشویی برای نصب طیف سنج بر روی آن مجهز شود). این به شکل یک مونوبلاک با تجهیزات خلاء پلاگین و لوازم جانبی رایانه (مانیتور ، صفحه کلید ، "دستکاری ماوس") ساخته شده است. این دستگاه برای تجزیه و تحلیل سریع فلزات و آلیاژها (نمونه های رسانا جامد) برای تعیین کمی و کیفی مواد افزودنی و ناخالصی های مختلف آلیاژ (در پایه های مختلف) در طول فرآیند ذوب ، در طول تجزیه و تحلیل صدور گواهینامه و همچنین برای تعیین درجه در طول کنترل ورودی طراحی شده است. در خط طیف سنج های اسکرولین ، اصلاح 250K بین اسکرولین 100 و اسکرولین 300 قرار دارد. از نظر ابعاد ، این عملا یک "بافت" است: منطقه اشغال شده روی میز توسط مدل 250 با i100 یکسان است ، تفاوت فقط در ارتفاع طیف سنج است ، به دلیل طیف سنج اضافی برای کار در منطقه طول موج طولانی طیف (که در اصطلاح "قرمز" نامیده می شود) بالاتر است. استفاده از طیف سنج اضافی امکان بهبود وضوح طیفی در محدوده اصلی را فراهم کرد ، جایی که بیشترین تعداد خطوط طیفی تحلیلی عناصر اصلی آلیاژ و ناخالصی در آن قرار دارد. یعنی: از 167 نانومتر تا 350 نانومتر ، که اجازه پراکندگی 0.98 نانومتر در میلی متر را برای دستیابی به وضوح طیف کمتر از 20 نانومتر (0.017 نانومتر) می دهد. در عین حال ، در طیف سنج دوم (در محدوده 350 نانومتر تا 800 نانومتر) ، می توان قرائت یک مدل قدیمی تر – SPARKLINE 300 را به دست آورد ، که برای این طیف طیف و دستگاهی با چنین ابعاد بسیار بسیار ارزشمند است. چنین ویژگی های برجسته ای به ISKROLINE 250k اجازه می دهد تا هنگام تجزیه و تحلیل نمونه های پیچیده با آلیاژ بالا حتی بدون استفاده از سیستم برای حسابداری تأثیر عناصر "سوم" (که در حال حاضر در پیکربندی اساسی در نرم افزار Ppm Pro وجود دارد) احساس اعتماد به نفس بیشتری داشته باشد. طیف سنج همچنین هنگام تجزیه و تحلیل نمونه های خالص در مقایسه با مدل جوانتر ISKROLINE 100 عملکرد بهتری دارد. از نظر ساختاری ، این دستگاه یک تک بلوک است که در اطراف دو طیف سنج با یک سیستم تحریک طیف بر اساس یک ژنراتور تخلیه LCR SPARKS با یک سه پایه باز ساخته شده است ، با یک سیستم ثبت طیف در 17 آشکارسازهای ccd خطی ، تحت کنترل نرم افزار اختصاصی "Ppm Pro" ، سیستم ها: تامین گاز ، جاروبرقی و مسکن.

تجزیه کننده AR-35 یک مجموعه تحلیلی کاملا خودکار است که برای تجزیه و تحلیل فلورسنت اشعه ایکس مداوم ترکیب شیمیایی پالپ ها و محلول ها در یک جریان طراحی شده است. این دستگاه دارای یک سر اندازه گیری کنترل شده توسط نرم افزار تلفن همراه با یک لوله اشعه ایکس و کانال های طیف سنجی ثابت (تا 8) است که هر یک از آنها می تواند به هر عنصر شیمیایی (از Ca تا U) تنظیم شود. در طول عملیات ، سر تا 15 جریان cuvettes را با توجه به یک برنامه داده شده ، انجام اندازه گیری ها ، دور می زند. چند کانال (تا 15 محصول تجزیه و تحلیل شده). سازگاری با سیستم های اتوماسیون برای نمونه گیری ، تحویل نمونه ، پردازش و ارائه نتایج تجزیه و تحلیل ، سازماندهی ذخیره سازی آرشیو داده های تجزیه و تحلیل. ارتباط با سیستم کنترل فرآیند خودکار کارخانه بیانگر بالا ، دقت تجزیه و تحلیل ، حد تشخیص پایین ، بازتولید تجزیه و تحلیل. قابلیت اطمینان بالا. اصل عملکرد آنالایزر بر اساس تحریک تابش فلورسنت اتم های ماده مورد مطالعه توسط تابش از یک لوله اشعه ایکس است. تابش فلورسنت یک عنصر شیمیایی خاص توسط یک کریستال تجزیه کننده آزاد می شود ، پس از آن تابش با طول موج خاصی توسط یک آشکارساز اشعه ایکس ثبت می شود. شدت تابش فلورسنت ثبت شده از یک طول موج خاص به طور مستقیم متناسب با کسر جرم عنصر شیمیایی در ماده مورد مطالعه است.