جستجو کردن

منبع لیزر برای تحریک طیف های انتشار اتمی در هنگام انجام تجزیه و تحلیل طیف با کیفیت بالا از سنگ های سخت-فلزات ، مواد معدنی ، شیشه ها و دیگران طراحی شده است. منبع بر اساس یک yag دو پالس است: laser لیزر با مدولاسیون q-factor الکترو نوری که در طول موج اساسی 1064 نانومتر کار می کند. مدت زمان هر پالس بیش از 10 ns نیست و تاخیر بین آنها از 0 تا 60 میکرو ثانیه قابل تنظیم است. توانایی پرتو لیزر برای تمرکز بر مساحت 300 تا 1000 میکرون امکان انجام میکروآنالیز از گنجاندن ها ، انجام اسکن دو بعدی سطح یا تجزیه و تحلیل محلی نمونه ها را بدون آسیب به سطح فراهم می کند. یک مزیت اساسی منبع لیزر بیان آن و عدم آماده سازی نمونه ویژه برای طیف گسترده ای از مواد رسانا و غیر رسانا است. مشاهده بصری و اشاره پرتو به نمونه با استفاده از میکروسکوپ استریوسکوپی یکپارچه در سیستم و همچنین یک دوربین ویدئویی دیجیتال با وضوح بالا با انتقال تصویر به رایانه انجام می شود. حرکت جدول ابزار با یک نمونه ثابت هم به صورت دستی برای تنظیم و هم با استفاده از موتورهای پله ای در دو مختصات در طول تجزیه و تحلیل امکان پذیر است که اسکن سطح و ضبط طیف را با اشاره به تصویر ویدئویی فراهم می کند. این نصب می تواند در ارتباط با هر دستگاه طیف – "Grand" ، "Aspect" ، "Express" ، "Kolibri-2" ، STE-1 ، DFS-458 ، MFS-8 ، PGS-2 و دیگران استفاده شود. منبع لیزر برای تحریک طیف های انتشار اتمی در هنگام انجام تجزیه و تحلیل طیف با کیفیت بالا از سنگ های سخت-فلزات ، مواد معدنی ، شیشه ها و دیگران طراحی شده است. منبع بر اساس یک yag دو پالس است: laser لیزر با مدولاسیون q-factor الکترو نوری که در طول موج اساسی 1064 نانومتر کار می کند. مدت زمان هر پالس بیش از 10 ns نیست و تاخیر بین آنها از 0 تا 60 میکرو ثانیه قابل تنظیم است. توانایی پرتو لیزر برای تمرکز بر مساحت 300 تا 1000 میکرون امکان انجام میکروآنالیز از گنجاندن ها ، انجام اسکن دو بعدی سطح یا تجزیه و تحلیل محلی نمونه ها را بدون آسیب به سطح فراهم می کند. یک مزیت اساسی منبع لیزر بیان آن و عدم آماده سازی نمونه ویژه برای طیف گسترده ای از مواد رسانا و غیر رسانا است. مشاهده بصری و اشاره پرتو به نمونه با استفاده از میکروسکوپ استریوسکوپی یکپارچه در سیستم و همچنین یک دوربین ویدئویی دیجیتال با وضوح بالا با انتقال تصویر به رایانه انجام می شود. حرکت جدول ابزار با یک نمونه ثابت هم به صورت دستی برای تنظیم و هم با استفاده از موتورهای پله ای در دو مختصات در طول تجزیه و تحلیل امکان پذیر است که اسکن سطح و ضبط طیف را با اشاره به تصویر ویدیو فراهم می کند. این نصب می تواند در ارتباط با هر دستگاه طیف – "Grand" ، "Aspect" ، "Express" ، "Kolibri-2" ، STE-1 ، DFS-458 ، MFS-8 ، PGS-2 و دیگران استفاده شود.

یک طیف سنج انتشار نوری دسکتاپ منحصر به فرد با منبع تحریک طیف ترکیبی که ترکیبی از جرقه لیزر و تخلیه جرقه الکتریکی در هوا است — LIES برای تجزیه و تحلیل طیف سریع نمونه های حامل جریان ، تجزیه و تحلیل ترکیب عنصری مونولیت های جامد (شیشه ، سرامیک ، پلاستیک ، فلزات ، آلیاژها ، گرانیت ها و غیره) طراحی شده است.) ، پودر های مختلف فشرده (از جمله خاک ، سنگ ، نمونه های زمین شناسی و غیره)). طیف سنج می تواند برای تجزیه و تحلیل میکرو نمونه های ناهمگن (هم در سطح و هم در عمق) ، برای تجزیه و تحلیل نمونه های میکرو ، نمونه های شکل پیچیده استفاده شود. دروغ را می توان در متالورژی آهنی ، غیر آهنی ، پودر استفاده کرد ؛ علم فلز ؛ صنعت معدن ، معدن و پردازش ؛ زمین شناسی و اکتشاف زمین شناسی ؛ تولید مواد ساختمانی ؛ تولید مواد با خلوص بالا ؛ در محیط زیست و حفاظت از محیط زیست ؛ در کشاورزی و صنایع غذایی ؛ در آزمایشگاه های پزشکی قانونی ، پزشکی و داروسازی و غیره. LIES یک طیف سنج انتشار جرقه لیزر ترکیبی دسکتاپ برای تجزیه و تحلیل طیفی مونولیت های جامد است منحصر به فرد بودن طیف سنج ترکیبی انتشار جرقه لیزر در این واقعیت نهفته است که بر خلاف طیف سنج لیزر کلاسیک ، که در آن جرقه لیزر دو عملکرد را به طور همزمان انجام می دهد: ابلیشن (استخراج ماده تجزیه شده از نمونه) و تحریک طیف اتم ها و یون های استخراج شده ، طیف سنج دروغ از یک تخلیه استفاده نمی کند ، بلکه از دو-جرقه لیزر و جرقه الکتریکی که عملکردهای فوق را به اشتراک می گذارد: جرقه لیزر ابلیشن و جرقه الکتریکی را انجام می دهد به عنوان منبع تحریک طیف اتم ها و یون های ماده تجزیه و تحلیل شده عمل می کند. این رویکرد به طور قابل توجهی (3-10 بار!) ویژگی های اندازه گیری طیف سنج (حساسیت و قابلیت بازتولید) را بهبود می بخشد.

طیف سنج پلاسمایی جفت شده به صورت القایی طیف سنج انتشار نوری ERIDAN 500 با منبع تحریک پلاسما (ISP) که به طور القایی جفت شده است ، دارای طیف سنج خلاء دوگانه با محدوده 170-930 نانومتر و سیستم ثبت آشکارساز CCD است.

طیف سنج دو منظوره پلاسما امکان ضبط همزمان هر خط طیفی را همزمان با وضوح بالا در محدوده غلظت از کسری از ppb تا ده ها درصد فراهم می کند و طیف گسترده ای از گزینه ها را برای حل هر وظیفه تحقیقاتی ارائه می دهد. این برای تجزیه و تحلیل تقریبا هر نوع نمونه محیطی – آب ، خاک ، بارش طراحی شده است. راه اندازی سریع نیازی به گرمایش طولانی مدت ندارد. مصرف کم آرگون استفاده آسان

این نصب برای تحریک طیف های انتشار اتمی نمونه های پودر در یک قوس الکتریکی با روش تزریق ریختن طراحی شده است. این دستگاه عملکرد بالایی از تجزیه و تحلیل های معمول را فراهم می کند ، مصرف کمی از الکترودهای گرافیت دارد و در ارتباط با هر دستگاه طیف – "Grand" ، STE-1 ، dfs-458 ، MFS-8 ، PGS-2 و غیره استفاده می شود.

ISKROLINE 250K یک طیف سنج انتشار اتمی نوری در یک طرح دسکتاپ است (همچنین می تواند با یک میز قابل تنظیم ارتفاع کشویی برای نصب طیف سنج بر روی آن مجهز شود). این به شکل یک مونوبلاک با تجهیزات خلاء پلاگین و لوازم جانبی رایانه (مانیتور ، صفحه کلید ، "دستکاری ماوس") ساخته شده است. این دستگاه برای تجزیه و تحلیل سریع فلزات و آلیاژها (نمونه های رسانا جامد) برای تعیین کمی و کیفی مواد افزودنی و ناخالصی های مختلف آلیاژ (در پایه های مختلف) در طول فرآیند ذوب ، در طول تجزیه و تحلیل صدور گواهینامه و همچنین برای تعیین درجه در طول کنترل ورودی طراحی شده است. در خط طیف سنج های اسکرولین ، اصلاح 250K بین اسکرولین 100 و اسکرولین 300 قرار دارد. از نظر ابعاد ، این عملا یک "بافت" است: منطقه اشغال شده روی میز توسط مدل 250 با i100 یکسان است ، تفاوت فقط در ارتفاع طیف سنج است ، به دلیل طیف سنج اضافی برای کار در منطقه طول موج طولانی طیف (که در اصطلاح "قرمز" نامیده می شود) بالاتر است. استفاده از طیف سنج اضافی امکان بهبود وضوح طیفی در محدوده اصلی را فراهم کرد ، جایی که بیشترین تعداد خطوط طیفی تحلیلی عناصر اصلی آلیاژ و ناخالصی در آن قرار دارد. یعنی: از 167 نانومتر تا 350 نانومتر ، که اجازه پراکندگی 0.98 نانومتر در میلی متر را برای دستیابی به وضوح طیف کمتر از 20 نانومتر (0.017 نانومتر) می دهد. در عین حال ، در طیف سنج دوم (در محدوده 350 نانومتر تا 800 نانومتر) ، می توان قرائت یک مدل قدیمی تر – SPARKLINE 300 را به دست آورد ، که برای این طیف طیف و دستگاهی با چنین ابعاد بسیار بسیار ارزشمند است. چنین ویژگی های برجسته ای به ISKROLINE 250k اجازه می دهد تا هنگام تجزیه و تحلیل نمونه های پیچیده با آلیاژ بالا حتی بدون استفاده از سیستم برای حسابداری تأثیر عناصر "سوم" (که در حال حاضر در پیکربندی اساسی در نرم افزار Ppm Pro وجود دارد) احساس اعتماد به نفس بیشتری داشته باشد. طیف سنج همچنین هنگام تجزیه و تحلیل نمونه های خالص در مقایسه با مدل جوانتر ISKROLINE 100 عملکرد بهتری دارد. از نظر ساختاری ، این دستگاه یک تک بلوک است که در اطراف دو طیف سنج با یک سیستم تحریک طیف بر اساس یک ژنراتور تخلیه LCR SPARKS با یک سه پایه باز ساخته شده است ، با یک سیستم ثبت طیف در 17 آشکارسازهای ccd خطی ، تحت کنترل نرم افزار اختصاصی "Ppm Pro" ، سیستم ها: تامین گاز ، جاروبرقی و مسکن.

طیف سنج های خلاء برای تجزیه و تحلیل سریع آلیاژها بر اساس آهن ، مس ، آلومینیوم و سایر فلزات در آزمایشگاه های کارخانه و تحقیق طراحی شده اند ، از جمله تعیین عناصر دارای خطوط تحلیلی در زمینه ماوراء بنفش خلاء (VUV) (به عنوان مثال ، S ، P و C در فولاد).

ژنراتور برای تولید یک قوس الکتریکی و تخلیه جرقه در تاسیسات تجزیه و تحلیل طیف انتشار اتمی طراحی شده است. ژنراتور به طور خاص برای استفاده در تجزیه و تحلیل طیف نمونه های ترکیب پیچیده برای تعیین همزمان ناخالصی و اجزای آلیاژ در طیف گسترده ای از غلظت ها طراحی شده است.