جستجو کردن

منبع لیزر برای تحریک طیف های انتشار اتمی در هنگام انجام تجزیه و تحلیل طیف با کیفیت بالا از سنگ های سخت-فلزات ، مواد معدنی ، شیشه ها و دیگران طراحی شده است. منبع بر اساس یک yag دو پالس است: laser لیزر با مدولاسیون q-factor الکترو نوری که در طول موج اساسی 1064 نانومتر کار می کند. مدت زمان هر پالس بیش از 10 ns نیست و تاخیر بین آنها از 0 تا 60 میکرو ثانیه قابل تنظیم است. توانایی پرتو لیزر برای تمرکز بر مساحت 300 تا 1000 میکرون امکان انجام میکروآنالیز از گنجاندن ها ، انجام اسکن دو بعدی سطح یا تجزیه و تحلیل محلی نمونه ها را بدون آسیب به سطح فراهم می کند. یک مزیت اساسی منبع لیزر بیان آن و عدم آماده سازی نمونه ویژه برای طیف گسترده ای از مواد رسانا و غیر رسانا است. مشاهده بصری و اشاره پرتو به نمونه با استفاده از میکروسکوپ استریوسکوپی یکپارچه در سیستم و همچنین یک دوربین ویدئویی دیجیتال با وضوح بالا با انتقال تصویر به رایانه انجام می شود. حرکت جدول ابزار با یک نمونه ثابت هم به صورت دستی برای تنظیم و هم با استفاده از موتورهای پله ای در دو مختصات در طول تجزیه و تحلیل امکان پذیر است که اسکن سطح و ضبط طیف را با اشاره به تصویر ویدئویی فراهم می کند. این نصب می تواند در ارتباط با هر دستگاه طیف – "Grand" ، "Aspect" ، "Express" ، "Kolibri-2" ، STE-1 ، DFS-458 ، MFS-8 ، PGS-2 و دیگران استفاده شود. منبع لیزر برای تحریک طیف های انتشار اتمی در هنگام انجام تجزیه و تحلیل طیف با کیفیت بالا از سنگ های سخت-فلزات ، مواد معدنی ، شیشه ها و دیگران طراحی شده است. منبع بر اساس یک yag دو پالس است: laser لیزر با مدولاسیون q-factor الکترو نوری که در طول موج اساسی 1064 نانومتر کار می کند. مدت زمان هر پالس بیش از 10 ns نیست و تاخیر بین آنها از 0 تا 60 میکرو ثانیه قابل تنظیم است. توانایی پرتو لیزر برای تمرکز بر مساحت 300 تا 1000 میکرون امکان انجام میکروآنالیز از گنجاندن ها ، انجام اسکن دو بعدی سطح یا تجزیه و تحلیل محلی نمونه ها را بدون آسیب به سطح فراهم می کند. یک مزیت اساسی منبع لیزر بیان آن و عدم آماده سازی نمونه ویژه برای طیف گسترده ای از مواد رسانا و غیر رسانا است. مشاهده بصری و اشاره پرتو به نمونه با استفاده از میکروسکوپ استریوسکوپی یکپارچه در سیستم و همچنین یک دوربین ویدئویی دیجیتال با وضوح بالا با انتقال تصویر به رایانه انجام می شود. حرکت جدول ابزار با یک نمونه ثابت هم به صورت دستی برای تنظیم و هم با استفاده از موتورهای پله ای در دو مختصات در طول تجزیه و تحلیل امکان پذیر است که اسکن سطح و ضبط طیف را با اشاره به تصویر ویدیو فراهم می کند. این نصب می تواند در ارتباط با هر دستگاه طیف – "Grand" ، "Aspect" ، "Express" ، "Kolibri-2" ، STE-1 ، DFS-458 ، MFS-8 ، PGS-2 و دیگران استفاده شود.

این نصب برای تحریک طیف های انتشار اتمی نمونه های پودر در یک قوس الکتریکی با روش تزریق ریختن طراحی شده است. این دستگاه عملکرد بالایی از تجزیه و تحلیل های معمول را فراهم می کند ، مصرف کمی از الکترودهای گرافیت دارد و در ارتباط با هر دستگاه طیف – "Grand" ، STE-1 ، dfs-458 ، MFS-8 ، PGS-2 و غیره استفاده می شود.

ISKROLINE 250K یک طیف سنج انتشار اتمی نوری در یک طرح دسکتاپ است (همچنین می تواند با یک میز قابل تنظیم ارتفاع کشویی برای نصب طیف سنج بر روی آن مجهز شود). این به شکل یک مونوبلاک با تجهیزات خلاء پلاگین و لوازم جانبی رایانه (مانیتور ، صفحه کلید ، "دستکاری ماوس") ساخته شده است. این دستگاه برای تجزیه و تحلیل سریع فلزات و آلیاژها (نمونه های رسانا جامد) برای تعیین کمی و کیفی مواد افزودنی و ناخالصی های مختلف آلیاژ (در پایه های مختلف) در طول فرآیند ذوب ، در طول تجزیه و تحلیل صدور گواهینامه و همچنین برای تعیین درجه در طول کنترل ورودی طراحی شده است. در خط طیف سنج های اسکرولین ، اصلاح 250K بین اسکرولین 100 و اسکرولین 300 قرار دارد. از نظر ابعاد ، این عملا یک "بافت" است: منطقه اشغال شده روی میز توسط مدل 250 با i100 یکسان است ، تفاوت فقط در ارتفاع طیف سنج است ، به دلیل طیف سنج اضافی برای کار در منطقه طول موج طولانی طیف (که در اصطلاح "قرمز" نامیده می شود) بالاتر است. استفاده از طیف سنج اضافی امکان بهبود وضوح طیفی در محدوده اصلی را فراهم کرد ، جایی که بیشترین تعداد خطوط طیفی تحلیلی عناصر اصلی آلیاژ و ناخالصی در آن قرار دارد. یعنی: از 167 نانومتر تا 350 نانومتر ، که اجازه پراکندگی 0.98 نانومتر در میلی متر را برای دستیابی به وضوح طیف کمتر از 20 نانومتر (0.017 نانومتر) می دهد. در عین حال ، در طیف سنج دوم (در محدوده 350 نانومتر تا 800 نانومتر) ، می توان قرائت یک مدل قدیمی تر – SPARKLINE 300 را به دست آورد ، که برای این طیف طیف و دستگاهی با چنین ابعاد بسیار بسیار ارزشمند است. چنین ویژگی های برجسته ای به ISKROLINE 250k اجازه می دهد تا هنگام تجزیه و تحلیل نمونه های پیچیده با آلیاژ بالا حتی بدون استفاده از سیستم برای حسابداری تأثیر عناصر "سوم" (که در حال حاضر در پیکربندی اساسی در نرم افزار Ppm Pro وجود دارد) احساس اعتماد به نفس بیشتری داشته باشد. طیف سنج همچنین هنگام تجزیه و تحلیل نمونه های خالص در مقایسه با مدل جوانتر ISKROLINE 100 عملکرد بهتری دارد. از نظر ساختاری ، این دستگاه یک تک بلوک است که در اطراف دو طیف سنج با یک سیستم تحریک طیف بر اساس یک ژنراتور تخلیه LCR SPARKS با یک سه پایه باز ساخته شده است ، با یک سیستم ثبت طیف در 17 آشکارسازهای ccd خطی ، تحت کنترل نرم افزار اختصاصی "Ppm Pro" ، سیستم ها: تامین گاز ، جاروبرقی و مسکن.

طیف سنج شعله برای تعیین سریع طیف گسترده ای از غلظت ها (تا 8 مرتبه) سدیم ، لیتیوم ، پتاسیم ، کلسیم ، باریوم ، سزیم ، روبیدیوم در محلول های تکنولوژیکی طراحی شده است. اتم ها در شعله هوا-استیلن تحریک می شوند. این دستگاه شامل یک مشعل سه شکاف با کنترل شعله ، یک اسپری پنوماتیک ، یک محفظه اسپری ، یک سیستم ورودی تابش نوری به طیف سنج Kolibri-2 و یک سیستم تامین خودکار هوا و استیلن با توانایی کنترل و تنظیم جریان گاز است. استفاده از یک مشعل سه شکاف باعث افزایش دمای شعله در بالای شکاف مرکزی مشعل به دلیل لایه های شعله خارجی می شود. این امکان تعیین غلظت کم کلسیم و باریوم را فراهم می کند. در عین حال ، ممکن است ناخالصی ها را در محلول های بسیار متمرکز بدون مسدود کردن اسلات های مشعل تعیین کنید. سیستم روشنایی طیف سنج آینه لنز است ، به همین دلیل ، تابش جمع آوری شده از هر دو طرف مشعل به پلی کروماتور وارد می شود.

این طیف سنج برای انجام تجزیه و تحلیل طیف کمی و کیفی مواد و مواد مختلف (پودر ، فلزات ، محلول ها) در آزمایشگاه های کارخانه و تحقیق طراحی شده است. طیف سنج به دلیل ترتیب عمودی سیستم نوری Paschen-Runge جمع و جور است. این شامل دو تجزیه کننده MAES با 10 خط فوتودیود نصب شده در امتداد یک دایره با شعاع 520 میلی متر ، یک شبکه دیفرانکشن مقعر غیر کلاسیک ، یک میز ویژه با یک کامپیوتر یکپارچه و یک منبع تحریک طیف است.

طیف سنج های خلاء برای تجزیه و تحلیل سریع آلیاژها بر اساس آهن ، مس ، آلومینیوم و سایر فلزات در آزمایشگاه های کارخانه و تحقیق طراحی شده اند ، از جمله تعیین عناصر دارای خطوط تحلیلی در زمینه ماوراء بنفش خلاء (VUV) (به عنوان مثال ، S ، P و C در فولاد).

طیف سنج انتشار ثابت کلاس آزمایشگاهی Iskroline 300 برای تجزیه و تحلیل طیف سریع و دقیق فلزات و آلیاژها با پایه های مختلف (Fe ، Al ، Cu ، Zn ، Pb ، Sn ، Ni ، Ti ، Co ، Mg) طراحی شده است. اسکرولین 300 پرچمدار در میان طیف سنج های جرقه ای است که توسط گروه اسکرولین تولید می شود. این یک رویکرد سازش ناپذیر به کیفیت تولید و پارامترهای دستگاه است. اگه بتونيم يکي از گره ها رو بهتر کنيم ، بهتر شده! هیچ صرفه جویی در اجزای. دقیق ترین تولید مکانیک ، تنظیم دقیق اجزای نوری و تست استرس مکرر تمام اجزای الکترونیکی به ما امکان می دهد بالاترین کیفیت تولید دستگاه را تضمین کنیم.

طیف سنج بر اساس طرح چرنی-ترنر بر اساس یک شبکه دیفرانکشن مسطح و یک تحلیلگر MAES با یک خط از فوتودتکتورها ایجاد شده است. این دستگاه به دلیل خنک شدن و تثبیت دمای محدوده فوتودتکتور و همچنین به دلیل طراحی بدون پوسته ، که در آن هیچ بازتاب مجدد تابش بر روی شیشه پوشش وجود ندارد و سطح پس زمینه در طیف ثبت شده کاهش می یابد ، دقت فوتومتریک را افزایش داده است. طرح نوری و طراحی طیف سنج برای به دست آوردن طیف با کیفیت بالا با سطح تابش پس زمینه پایین در هر یک از مناطق در محدوده طیف 190-1100 نانومتر بهینه شده است. انتخاب منطقه کار با تغییر و چرخش شبکه های دیفرانکشن انجام می شود. محفظه مهر و موم شده طیف سنج با یک گاز بی اثر پر شده است. تابش با استفاده از خازن کوارتز یا کابل فیبر نوری با اتصال SMA-905 به طیف سنج تزریق می شود. طرح نوری و طراحی طیف سنج توسط حق ثبت اختراع محافظت می شود.

این یک منبع تحریک برای طیف های تخلیه قوس در هوا ، الکترودهای کربن ، طیف سنج دوگانه هوا با محدوده 200-930 نانومتر و ثبت نام در آشکارسازهای خطی ccd است. تجزیه و تحلیل spectral express از مواد پودر و نمونه های رسانا.