جستجو کردن

این طراحی شده است تا بازتاب نمونه های جامد را اندازه گیری کند و پوشش ها را با بازتاب با زاویه بروز نزدیک به حالت عادی تجزیه و تحلیل کند. با استفاده از این پیشوند ، می توان بازتاب عناصر نوری ، پوشش های ضد انعکاس و غیره را تعیین کرد.

* شامل یک تلسکوپ آینه ای همراه با طیف سنج فوریه و یک چراغ جستجو با یک فرستنده IR است • برای ثبت طیف های مخلوط گاز و گاز آئروسل در مسیرهای تا 100 متر طول استفاده می شود * قطر آینه اصلی تلسکوپ 170 میلی متر است * میدان دید زاویه ای + / - 3 درجه است. * یک بازتابنده اضافی می تواند در کیت گنجانده شود

این روش در مطالعه نمونه های فشرده شده در قرص های با قطر کوچک با KBr استفاده می شود (این روش برای تجزیه و تحلیل طیف مواد پودری مناسب است-پیشوند به شما امکان می دهد با مقادیر کمی از نمونه با استفاده از پرس دستی برای تولید قرص کار کنید). * قطر نقطه فوکوس کمتر از 3 میلیمتر است * طراحی از اپتیک آینه پارابولیک استفاده می کند * بسترهای پنجره ای را می توان پس از استفاده از مواد خمیری ، مایع یا عصاره روی آنها در پیشوند قرار داد و سپس لایه ها را خشک کرد * استفاده محدود-در مطالعه نمونه های کامل با ابعاد کمتر از 5 میلیمتر (ترجیحا با استفاده از ضمیمه میکروفوکوس عمودی)

برای نصب کوارتز دستگاه سنجش از نوع SF در طیف سنج FSM ، از نگهدارنده dc 10-10 استفاده می شود که دارای یک نوار اتصال استاندارد 50x75 میلی متری است که با آن در پایه برای pk50-75 دستگاه سنجش طیف سنج فوریه مادون قرمز fsm قرار می گیرد.

کنسول ها برای کنترل پارامترهای ویفرهای نیمه هادی با قطر تا 200 میلی متر در حالت انتقال یا بازتاب طراحی شده اند. پارامترهای صفحات توسط یک روش غیر تماس بسیار حساس در نقاط مشخص شده توسط اپراتور کنترل می شوند.

پایه برای دستگاه سنجش PC 50-75 برای نصب طراحی شده است: کوارتز دستگاه سنجش نوع SF در دارنده DC 10-10; کوارتز دستگاه سنجش از نوع KFC در دارنده KFC DC; دستگاه سنجش KR1, culplabsible CUVETTE KR20, فیلم نگهدارنده ، تبلت نگهدارنده ، نگهدارنده نمونه جامد.

این برای کنترل فرآیندهای راکتورها ، اتاق های خلاء ، خطوط لوله گاز و غیره طراحی شده است.

این برای اندازه گیری با روش بازتاب داخلی کل مختل شده با تجسم همزمان یک میکرو شی در یک مانیتور یکپارچه و خارجی و همچنین با روش بازتاب پراکنده اسپکولار با زاویه بروز 45 درجه در موقعیت بالایی نمونه طراحی شده است. پیشوند در حالت تک NIP برای ثبت طیف های جذب استفاده می شود: مایعات هر درجه ویسکوزیته (راه حل ها ، تعلیق ها ، روغن ها و غیره)) ، از جمله کسانی که فعالیت شیمیایی بالایی دارند; اجسام جامد با شکل دلخواه ، از جمله نمونه هایی با سختی بسیار بالا (هر پلیمری ، قطعات پوشش رنگ و غیره)); مواد پودری ، از جمله پودرهای با سختی بسیار بالا (داروها ، داروها ، مواد منفجره ، ترکیبات غیر آلی); نمونه ها به شکل فیلم های نازک; نمونه ها به شکل الیاف. حداکثر سختی و مقاومت شیمیایی الماس به طور قابل توجهی امکانات روش را گسترش می دهد ؛ نیازی به جایگزینی دوره ای کریستال نیست. جعبه بالا به شما اجازه می دهد تا طیف ها را بدون آماده سازی نمونه وقت گیر ثبت کنید و وجود یک سیستم بازرسی بصری برای سطح مورد مطالعه با یک دوربین ویدئویی با کیفیت بالا و یک مینی مانیتور با کیفیت بالا در هنگام کار با نمونه های کوچک افزایش می یابد–قطعات الیاف نازک ، ریز ذرات و غیره. مانیتور داخلی دارای عملکردهای زوم دیجیتال 10x ، معکوس کردن و غیره است. تصویر را می توان به طور همزمان بر روی صفحه نمایش کامپیوتر (با استفاده از رابط USB) نمایش داد و سپس به عنوان یک فایل ذخیره کرد. فلنج قابل جابجایی تغییر سریع و راحت نمونه و تمیز کردن سطح کریستال را تضمین می کند. طراحی با یک عنصر الماس که از سطح پایه npvo بیرون زده است به شما امکان می دهد نمونه هایی با ابعاد کلی به اندازه کافی بزرگ را بررسی کنید. کیفیت بالا و تکرار پذیری نتایج به دلیل عدم تأثیر ضخامت لایه ماده بر شکل طیف و شدت نوارهای جذب حاصل می شود. نمونه خواص فیزیکی-شیمیایی اصلی خود را حفظ می کند و در صورت لزوم می تواند با روش های دیگر بیشتر مورد بررسی قرار گیرد. گیره اتصال جهانی مجهز به مکانیسم اهرم دقیق برای کاهش سریع نوک و پیچ میکرومتر است که به شما امکان می دهد درجه بهینه فشار را از قبل تنظیم کنید–این تغییر سریع نمونه و تکرار نتایج اندازه گیری را تضمین می کند. برای راحتی در هنگام کار با نمونه های مایع و خمیر مانند ، و همچنین در حالت ZDO ، امکان چرخش کنسول بستن توسط 180o وجود دارد.جعبه بالا با دو نوک قابل تعویض مجهز شده است–با یک قسمت کار کروی و با یک سر چرخشی مسطح. سختی بالای الماس اجازه استفاده از نیروهای گیره بزرگ را می دهد که یک عامل تعیین کننده برای به دست آوردن طیف های با کیفیت بالا است. یک جدول جایگزین برای ثبت طیف های بازتاب اسپکولار و پراکنده استفاده می شود. نمونه در سطح شی قرار دارد و سطح مورد مطالعه رو به پایین است. این روش برای تعیین ویژگی های طیفی قطعات نوری ، فیلم های نازک روی سطح ، کریستال ها و سایر اشیاء جامد بزرگ با شکل و اندازه دلخواه استفاده می شود.

برای اندازه گیری پوشش های بسیار نازک با ضخامت در محدوده نانومتر و مطالعه لایه های تک مولکولی استفاده می شود.

این طراحی شده است تا ترکیب شیمیایی رسانه های مایع ، پودر های غیر ساینده و فیلم های پلیمری را مطالعه کند. روش بازتاب داخلی کل مختل شده چندگانه امکان ساده سازی قابل توجهی در تهیه نمونه ها را فراهم می کند و می تواند برای پیاده سازی روش های بیان کنترل کیفیت محصول استفاده شود.

FSM 2211 بر اساس طیف سنج FSM 2211 است ، یک تداخل سنج نوع میشلسون با جبران خود که نیازی به تنظیم پویا ندارد. مشخصات فنی: محدوده طیف ، cm-1 3700-12500 رزولوشن طیف ، cm - 1 2 نسبت سیگنال به نویز (زمان اندازه گیری 1 دقیقه در محدوده 2100-2200 سانتی متر-1 و وضوح 4 سانتی متر-1) >60,000 حداقل زمان برای به دست آوردن یک طیف کامل کمتر از 1 است تقسیم کننده پرتو چند لایه CaF2 بر اساس Ge منبع تشعشع یک لامپ هالوژن است آشکارساز فوتودیود InGaAs Si فوتودیود ابعاد محفظه cuvette ، میلی متر 150x190x170 ابعاد کلی ، میلی متر 520x370x250 وزن ، کیلوگرم 28

یک طیف سنج کوچک Ir Fourier با جعبه های یکپارچه و دو آشکارساز ، از جمله MST بسیار حساس خنک شده. حالت های عملیاتی: انتقال و بازتاب ، NIP ، اندازه گیری با استفاده از سنج های فیبر نوری (نسخه هایی با یک یا دو جفت کانکتور داخلی امکان پذیر است). امکان اتصال میکروسکوپ IR و تلسکوپ برای ثبت طیف های تابش خارجی وجود دارد. طیف سنج می تواند به عنوان یک قابل حمل مورد استفاده قرار گیرد و از جمله موارد دیگر برای نظارت سریع بر فرآیندهای تکنولوژیکی ، کنترل کیفیت مایعات در مخازن و خطوط لوله ، در طول تجزیه و تحلیل های خطی اجسام بیولوژیکی ، تجزیه و تحلیل گاز از راه دور استفاده می شود. این نصب برای ایجاد تصاویر با کیفیت بالا بر روی مواد مختلف طراحی شده است و تولید مهر و موم و تمبر های کلیشه لاستیکی را با وضوح حداقل 1800 dpi فراهم می کند.

توضیحات < br>
این بر اساس پلت فرم نوآورانه Shtrik ایجاد شده است که بر اساس یک سیستم کنترل منحصر به فرد است که سخت افزار و نرم افزار آن به طور کامل توسط متخصصان شرکت ما توسعه یافته است.
این نصب برای ایجاد تصاویر با کیفیت بالا بر روی مواد مانند لاستیک ، فلز ، پلاستیک طراحی شده است و تولید مهر و موم و تمبر کلیشه را با وضوح حداقل 1800 dpi فراهم می کند.
لیزر فیبر مورد استفاده در نصب در ترکیب با سیستم اسکنرهای گالوانومتری حکاکی با کیفیت بالا را در حالت استاتیک تضمین می کند ، نیازی به خنک کننده آب و نگهداری ویژه ندارد.
هنگام مونتاژ سیستم ، فقط از قطعات آزمایش شده و گواهی شده استفاده می شود که عمر مفید ویژه ای را بدون سرمایه گذاری اضافی تضمین می کند. < br>
ویژگی ها: < br>
یک سیستم موقعیت یابی نمونه با دقت بالا دو مختصات ، که جدول شی را در امتداد محورهای X ، Y حرکت می دهد. به عنوان یک نتیجه از سیستم موقعیت یابی و حکاکی متوالی قطعات تصویر ، امکان پردازش با قطعات با دقت بالا با ابعاد تا 200 × 300 میلی متر در حالت خودکار با توجه به برنامه پردازش تنظیم شده توسط اپراتور وجود دارد;
الگوریتم حکاکی لایه ای خودکار با استفاده از مکانیسم با دقت بالا برای حرکت سر اسکن در امتداد مختصات Z به شما امکان می دهد تصاویر 3d بسیار دقیق تا عمق 5 میلی متر را در جاهای خالی فلزی (فولاد ، برنج ، آلومینیوم ، تیتانیوم و غیره) ایجاد کنید.);
فرآیند طولانی حکاکی لایه به لایه تصاویر سه بعدی عمیق (احتمالا ده ها ساعت) بدون دخالت اپراتور به لطف یک الگوریتم خودکار ارائه می شود;
Gorenje مجهز به یک سیستم داخلی برای حذف محصولات احتراق از منطقه قرار گرفتن در معرض تابش لیزر است که در نتیجه ، حفاظت از لنز بدون بو و اسکن از محصولات تولید تضمین شده است ، که به ویژه هنگام حکاکی لاستیک و پلاستیک مهم است;
بدنه نصب به طور کامل مناطق پردازش و انتشار تابش لیزر را پوشش می دهد و حکاکی با توجه به برنامه ای که توسط اپراتور در حالت خودکار تنظیم شده است با بسته شدن پوشش های نصب انجام می شود. این طراحی از نصب اجازه می دهد تا آن را به عنوان دستگاه های لیزر کلاس خطر 1 طبقه بندی شود.