جستجو کردن

پارامترهای اندازه گیری شده فعالیت یونی (pX) غلظت یون مولر (M) (mol / L) جرم (C) غلظت یون (mg / L) EMF سیستم های الکترود (mV) پتانسیل ردوکس Eh (mV) غلظت اکسیژن (٪،mg / dm3) مصرف اکسیژن بیوشیمیایی مطابق با rd 52.24.420- 95 دمای آب (°C) کانال پتانسیومتریک EMF ، Eh ، mV محدوده ± 1200 تشخیص 1 خطا ± 2 pH (pX) محدوده 0..14 بی احترامی 0.01 خطا ± 0.02 است ATK محدوده 0..60 درجه سانتیگراد خطای ± 0.04 واحد pH آمپرومتریک کانال cO2 محدوده 0..20 میلی گرم / dm3 0...200% تشخیص 0.01 میلی گرم / dm3 0.1% خطا از 0 تا 10 میلی گرم / dm3 ± 0.1 از 10 تا 20 میلی گرم/dm3 ± 0.2 از 0 تا 20 ٪ ± 0.2 از 20 تا 100 ٪ ± 1 ATK محدوده 0..50 درجه سانتیگراد خطا ± 0.1 میلی گرم / dm3 ± 1%

این برای کنترل فرآیندهای راکتورها ، اتاق های خلاء ، خطوط لوله گاز و غیره طراحی شده است.

راهنمای خارج از محور 1.25" ، با امکان تغییر فاصله آینه منحرف کننده از محور نوری و یک دستگاه تمرکز سفت و سخت. شما فقط یک بار پس از نصب و تمرکز دوربین اصلی باید راهنما را متمرکز کنید. تمرکز بعدی ممکن است تنها پس از تغییر یا نصب مجدد تجهیزات اصلی مورد نیاز باشد.

قطر آینه اصلی 406 میلیمتر باز شدن نسبی آینه اصلی F / 3 قطر آینه ثانویه 160 میلیمتر باز شدن نسبی معادل F / 8 فاصله کانونی معادل 3200 میلیمتر حرکت سطح کانونی فراتر از بالای آینه اصلی 325 میلیمتر فاصله بین آینه ها 784 میلیمتر ضخامت آینه اصلی 55 میلیمتر ضخامت آینه ثانویه 20 میلیمتر قطر سوراخ مرکزی در آینه اصلی 120 میلیمتر مواد آینه LK-7 (شیشه نوری با ضریب دمای پایین انبساط خطی) با توافق ، اپتیک را می توان از Sitall ساخته شده است دقت اپتیک از تحریف جبهه موج کل سیستم 1/4λ یا کمتر ، انحراف استاندارد (RMS) 1 / 25λ یا کمتر ، معیار Strehl 0.95 یا بیشتر است پوشش های آینه ای Al + SiO2 (کوارتز)

سنگ شکن فکی "DSCH 180h250" برای خرد کردن سنگ ها با مقاومت فشاری تا 240 مگاپاسکال طراحی شده است.

دستگاهی برای تهیه نمونه های فلزی برای تجزیه و تحلیل طیف. برای تهیه نمونه های فلزی از یک پارچه یا کاغذ امیری با اندازه معین و مواد ساینده استفاده می شود. سرعت چرخش 1500 دور در دقیقه توقف سریع موتور توسط یک واحد کنترل اتوماتیک فراهم می شود. نسخه ای در محفظه ای ساخته شده از مواد کامپوزیت با دو دیسک وجود دارد که هر کدام می توانند نوع ساینده خاص خود را داشته باشند.

این برای اندازه گیری با روش بازتاب داخلی کل مختل شده با تجسم همزمان یک میکرو شی در یک مانیتور یکپارچه و خارجی و همچنین با روش بازتاب پراکنده اسپکولار با زاویه بروز 45 درجه در موقعیت بالایی نمونه طراحی شده است. پیشوند در حالت تک NIP برای ثبت طیف های جذب استفاده می شود: مایعات هر درجه ویسکوزیته (راه حل ها ، تعلیق ها ، روغن ها و غیره)) ، از جمله کسانی که فعالیت شیمیایی بالایی دارند; اجسام جامد با شکل دلخواه ، از جمله نمونه هایی با سختی بسیار بالا (هر پلیمری ، قطعات پوشش رنگ و غیره)); مواد پودری ، از جمله پودرهای با سختی بسیار بالا (داروها ، داروها ، مواد منفجره ، ترکیبات غیر آلی); نمونه ها به شکل فیلم های نازک; نمونه ها به شکل الیاف. حداکثر سختی و مقاومت شیمیایی الماس به طور قابل توجهی امکانات روش را گسترش می دهد ؛ نیازی به جایگزینی دوره ای کریستال نیست. جعبه بالا به شما اجازه می دهد تا طیف ها را بدون آماده سازی نمونه وقت گیر ثبت کنید و وجود یک سیستم بازرسی بصری برای سطح مورد مطالعه با یک دوربین ویدئویی با کیفیت بالا و یک مینی مانیتور با کیفیت بالا در هنگام کار با نمونه های کوچک افزایش می یابد–قطعات الیاف نازک ، ریز ذرات و غیره. مانیتور داخلی دارای عملکردهای زوم دیجیتال 10x ، معکوس کردن و غیره است. تصویر را می توان به طور همزمان بر روی صفحه نمایش کامپیوتر (با استفاده از رابط USB) نمایش داد و سپس به عنوان یک فایل ذخیره کرد. فلنج قابل جابجایی تغییر سریع و راحت نمونه و تمیز کردن سطح کریستال را تضمین می کند. طراحی با یک عنصر الماس که از سطح پایه npvo بیرون زده است به شما امکان می دهد نمونه هایی با ابعاد کلی به اندازه کافی بزرگ را بررسی کنید. کیفیت بالا و تکرار پذیری نتایج به دلیل عدم تأثیر ضخامت لایه ماده بر شکل طیف و شدت نوارهای جذب حاصل می شود. نمونه خواص فیزیکی-شیمیایی اصلی خود را حفظ می کند و در صورت لزوم می تواند با روش های دیگر بیشتر مورد بررسی قرار گیرد. گیره اتصال جهانی مجهز به مکانیسم اهرم دقیق برای کاهش سریع نوک و پیچ میکرومتر است که به شما امکان می دهد درجه بهینه فشار را از قبل تنظیم کنید–این تغییر سریع نمونه و تکرار نتایج اندازه گیری را تضمین می کند. برای راحتی در هنگام کار با نمونه های مایع و خمیر مانند ، و همچنین در حالت ZDO ، امکان چرخش کنسول بستن توسط 180o وجود دارد.جعبه بالا با دو نوک قابل تعویض مجهز شده است–با یک قسمت کار کروی و با یک سر چرخشی مسطح. سختی بالای الماس اجازه استفاده از نیروهای گیره بزرگ را می دهد که یک عامل تعیین کننده برای به دست آوردن طیف های با کیفیت بالا است. یک جدول جایگزین برای ثبت طیف های بازتاب اسپکولار و پراکنده استفاده می شود. نمونه در سطح شی قرار دارد و سطح مورد مطالعه رو به پایین است. این روش برای تعیین ویژگی های طیفی قطعات نوری ، فیلم های نازک روی سطح ، کریستال ها و سایر اشیاء جامد بزرگ با شکل و اندازه دلخواه استفاده می شود.

رشته خارجی ضخامت 9 میلی متر (به استثنای طول نخ)