جستجو کردن

مشخصات فنی: محدوده طیف عملیاتی ، nm از 190 تا 900 وضوح طیف ، nm ، نه بیشتر: - در محدوده 190 تا 600 نانومتر شامل - در محدوده بالای 600 تا 900 نانومتر شامل 2 3 حد تشخیص منگنز ، pg ، بیش از 3 حد تشخیص نیکل ، pg ، بیش از 20 زمان تنظیم حالت کار طیف سنج ها ، حداقل ، بیش از 15 زمان عملکرد مداوم طیف سنج ها ، h ، حداقل 8 طیف سنج ها توسط یک شبکه جریان متناوب سه فاز تغذیه می شوند: - ولتاژ منبع تغذیه ، V - فرکانس ، هرتز 380 (50 ± 1) ابعاد کلی طیف سنج ، میلی متر ، بیش از 800 x 475 x 310 جرم طیف سنج ، کیلوگرم ، بیش از 50 قدرت مصرف شده توسط طیف سنج ، kV * A ، نه بیشتر: - در حالت های آماده به کار و تنظیمات پارامترهای تحلیلی - در حالت اتمی سازی و تصفیه 0.1 6 زمان متوسط برای شکست ، ساعت ، حداقل 4000

مشخصات فنی: روش یونیزاسیون تخلیه درخشش پالس پلاسما آرگون گاز تخلیه ، مصرف کمتر از 1 لیتر در ساعت تحلیلگر جرم زمان پرواز با آینه یونی بدون شبکه قطعنامه 4000 تعداد اجزای همزمان تعریف شده نامحدود است محدوده جرم 1-1000 متر / z محدودیت های تشخیص 1-100 ppb رزولوشن لایه به لایه تا 5 نانومتر عمق تجزیه و تحلیل تا 30 میکرون است زمان تجزیه و تحلیل یک نمونه جامد 30 دقیقه است (با گزینه یک سیستم رولتور-3-5 دقیقه) سیستم خلاء 1 پمپ تقویت کننده و 2 TMN (240 لیتر در ثانیه) ابعاد کلی 1450×780×1550 میلیمتر

این قفسه مجهز به قفسه های افقی است که ورق فلزی تا 2.5x1. 25m بارگیری/تخلیه می شود

دیفرانکتومتر چند منظوره اشعه ایکس DRON-8 (8H) با یک گونیومتر عمودی theta-theta و موقعیت افقی نمونه اجازه می دهد تا تجزیه و تحلیل دیفرانکشن اشعه ایکس از ترکیب فاز ، وضعیت ساختاری و جهت گیری طیف گسترده ای از اشیاء با اشکال و اندازه های مختلف را انجام دهد.

دیفرانکتومتر اشعه ایکس DRON-8T مدل پرچمدار خط دیفرانکتومترهای ثابت اشعه ایکس Jsc IC Burevestnik است. این دستگاه مجهز به گونیومتر عمودی زاویه وسیع با دقت بالا با قابلیت بازتولید زاویه ای 0.0001 درجه است و عمدتا برای مطالعه اجسام کریستالی بسیار کامل (کریستال های تک ، فیلم های اپیتاکسیال) در هندسه با وضوح بالا طراحی شده است.

این دستگاه برای تجزیه و تحلیل ترکیب فاز و وضعیت ساختاری اشیاء پلی کریستالی با منشأ مختلف طراحی شده است.