جستجو کردن

تولید نئودیمیم با الکترولیز

یک دستگاه جابجایی پیزو تک محور ، طراحی شده برای حرکت و موقعیت دستگاه های مختلف در امتداد همان محور. به طور خاص ، برای حرکت لنزها در امتداد محور نوری برای تغییر موقعیت تمرکز نسبت به سطح نمونه ها یا اشیاء در حجم نمونه. علاوه بر این ، چنین تغییراتی یک عنصر ضروری میکروسکوپ های کنفوکال سه بعدی است. در ترکیب با حرکات دو مختصاتی که در سطح XY کار می کنند ، چنین سیستم هایی امکان به دست آوردن یک تصویر سه بعدی کامل از اشیاء مختلف را فراهم می کند.

قسمت پایین دستگاه (H) از پایه ای با مقیاس ، دو نگهدارنده با پنج غلتک قابل تعویض تشکیل شده است. قسمت فوقانی (ب) از پایه ای با مقیاس ، دو نگهدارنده با دو غلتک قابل تعویض تشکیل شده است.

این برای بررسی های پیچیده خواص فیزیکی سطح با روش های میکروسکوپ نوری کلاسیک ، میکروسکوپ لیزر کنفوکال ، طیف سنجی کنفوکال و میکروسکوپ سنج اسکن (میکروسکوپ نیروی اتمی) طراحی شده است. این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur I اجازه می دهد تا از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال ، میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و تکنیک های ترکیبی (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) استفاده شود.).

واحد کنترل الکترونیکی EG 5000 آخرین اصلاح سری کنترل کننده های eg است. طراحی شده برای کنترل میکروسکوپ های اسکن ، دستگاه های موقعیت یابی نانو ، تمام تغییرات. ویژگی های اصلی متمایز عبارتند از: استفاده از یک fpga cyclone v قدرتمند که امکان پردازش سریعتر داده ها و خروجی سیگنال کنترل را فراهم می کند. یک کامپیوتر یکپارچه با سیستم عامل لینوکس و نرم افزار نصب شده به شما اجازه می دهد تا سیستم را متحد کنید و از مشکلات در هنگام نصب و به روز رسانی نرم افزار جلوگیری کنید.

عنوان ssho-10.13/11 قدرت ، کیلو وات 72 قطر ، میلی متر 1000 ارتفاع ، میلیمتر 1300

میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) همراه با میکروسکوپ نوری مستقیم و معکوس کلاس تحقیقاتی. این برای تحقیقات با روش های میکروسکوپی نیروی نوری و اتمی در نظر گرفته شده است. سر اسکن Certus XYZ SPM برای تصویربرداری AFM (توپوگرافی به طور کلی) و / یا موقعیت سنج نسبت به سطح نمونه; یک دستگاه موقعیت یابی و اسکن (XY ((Z) Piezostolic) Ratis برای موقعیت نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ و / یا اسکن نمونه; میکروسکوپ نوری مستقیم (Olympus BX 51 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; میکروسکوپ نوری معکوس (Olympus IX 71 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; حرکت مکانیکی Z برای لنز; حرکت پیزو تک محور برای لنز Vectus برای دقت فوکوس اضافی ، فوکوس خودکار و تصاویر 3D لایه ای گسترده; یک دستگاه موقعیت یابی نمونه برای انتخاب یک منطقه روی یک سطح یا در یک حجم; یک کنترل کننده eg-3000 برای کنترل تمام قسمت های مجموعه; نرم افزار NSpec.

این قفسه مجهز به قفسه های افقی است که ورق فلزی تا 2.5x1. 25m بارگیری/تخلیه می شود

کوره اتاقی با کنترل دیجیتال SNOT 14.20.15 / 6.2 برای محصولات آتش نشانی و عملیات حرارتی فلزات طراحی شده است.

دستگاه خمشی 3 نقطه ای جهانی برای آزمایش مواد سفت و نیمه سفت: چوب ، پلاستیک ، شیشه ، سرامیک ، کامپوزیت و غیره با حداکثر بار 50 ، 100 و 250 kN. محدوده اندازه گیری از 30 تا 250 میلی متر ، قابل تنظیم دستی.

عنوان SAT-0.25 / 7.8 ظرفیت نصب شده ، کیلو وات 28 ثبات دما در حالت حالت ثابت ، درجه سانتیگراد ± 5