جستجو کردن

دوربین فیلمبرداری و سروهای نگهدارنده های الکترود ساخته شده در سه پایه برای حفظ خودکار شکاف بین الکترود در هنگام تبخیر نمونه توسط تجزیه و تحلیل رایانه ای در زمان واقعی تصویر تخلیه قوس و همچنین تنظیم اولیه این شکاف نسبت به محور نوری طراحی شده اند. نگهدارنده های الکترود با استفاده از یک واحد خنک کننده حلقه بسته با آب خنک می شوند.

طیف سنج جرقه دسکتاپ Iskroline 100 یک تحلیلگر اکسپرس مدرن از ترکیب فلزات و آلیاژها است. این دستگاه بر اساس روش تجزیه و تحلیل طیف انتشار است که از وابستگی شدت خطوط طیف به محتوای عنصر در نمونه استفاده می کند. هدف اصلی دستگاه تجزیه و تحلیل دقیق و سریع نمونه های رسانا با پایه های مختلف (Fe ، Al ، Cu ، Zn ، Pb ، Sn ، Ni ، Ti ، Co ، Mg و غیره) است.). این آنالایزر طیفی برای تجزیه و تحلیل کمی ترکیب فلزات غیر آهنی و فلزات آهنی (چدن ، آلیاژ کم ، آلیاژ متوسط ، بسیاری از فولاد های آلیاژ بالا و غیره) طراحی شده است.) برای اکثر عناصر آلیاژ و ناخالصی های شناخته شده ، از جمله گوگرد ، فسفر و کربن. Iskroline 100 یک طیف سنج انتشار مدرن در فضای باز برای تجزیه و تحلیل طیف فلزات و آلیاژها است این دستگاه قادر به حل اکثر وظایف تحلیلی صنعت سنگین است. در این راستا ، دامنه کاربرد Sparkline 100 بسیار گسترده است: در متالورژی آهنی و غیر آهنی ، تجزیه و تحلیل صریح ترکیب شیمیایی آلیاژها برای کنترل ذوب و کنترل صدور گواهینامه محصولات نهایی. در متالورژی ثانویه ، این همان است ، و همچنین مرتب سازی و از بین بردن ضایعات آهنی و غیر آهنی. در تولید ریخته گری-کنترل ورودی (تعیین و تایید درجه آلیاژ) ، کنترل ذوب و کنترل خروجی محصولات نهایی ، کنترل صدور گواهینامه. در فلزکاری ، مهندسی مکانیک و غیره - کنترل ورودی فلز در تولید ، شناسایی و تایید برند مواد خریداری شده. به ویژگی های تجزیه و تحلیل طیفی چدن توجه کنید این طیف سنج جرقه می تواند تنها وسیله آزمایش غیر مخرب ترکیب فلزات و آلیاژها در شرکت های کوچک و متوسط باشد و به عنوان بخشی از مجتمع های پیچیده تولید و تحلیلی در آزمایشگاه ها و کارگاه های شرکت های بزرگ متالورژی آهنی و غیر آهنی کار کند. هر خط طیفی در محدوده 167-460 نانومتر (از جمله خطوط فسفر ، گوگرد و کربن) با وضوح 0.02-0.03 نانومتر در دسترس است. Iskroline 100 یک مدل اقتصادی از طیف سنج انتشار دسکتاپ با بهترین نسبت قیمت/قابلیت های تحلیلی در کلاس با کیفیت تولید و قابلیت اطمینان بالا است. اگر برای کار در حیاط شارژ یا کارگاه /انبار برای تجزیه و تحلیل ، از جمله قطعات بزرگ ، به نسخه تلفن همراه طیف سنج Iskroline 500 با یک پروب از راه دور نیاز دارید ، توصیه می کنیم مدل طیف سنج تلفن همراه Iskroline 500 را در نظر بگیرید. شما می توانید قیمت ها و ویژگی های این طیف سنج ها را در پیکربندی مورد علاقه خود با متخصصان ما بررسی کنید. طیف سنج انتشار Iskroline 100 در ثبت دولتی ابزارهای اندازه گیری روسیه ، بلاروس ، قزاقستان و غیره گنجانده شده است. این دستگاه با الزامات ایمنی تجهیزات الکتریکی و سازگاری الکترومغناطیسی مطابقت دارد (GOST R 52319-2005 ، GOST R 51522.1-2011). Iskroline 100 شامل یک سیستم تحریک طیف بر اساس ژنراتور تخلیه LCR SPARKS ، یک طیف سنج خلاء 1S2133 ، یک سیستم ثبت نام در 9 آشکارسازهای ccd خطی و سیستم ها: کنترل ، تامین گاز ، جاروبرقی و همچنین مسکن است.

منبع لیزر برای تحریک طیف های انتشار اتمی در هنگام انجام تجزیه و تحلیل طیف با کیفیت بالا از سنگ های سخت-فلزات ، مواد معدنی ، شیشه ها و دیگران طراحی شده است. منبع بر اساس یک yag دو پالس است: laser لیزر با مدولاسیون q-factor الکترو نوری که در طول موج اساسی 1064 نانومتر کار می کند. مدت زمان هر پالس بیش از 10 ns نیست و تاخیر بین آنها از 0 تا 60 میکرو ثانیه قابل تنظیم است. توانایی پرتو لیزر برای تمرکز بر مساحت 300 تا 1000 میکرون امکان انجام میکروآنالیز از گنجاندن ها ، انجام اسکن دو بعدی سطح یا تجزیه و تحلیل محلی نمونه ها را بدون آسیب به سطح فراهم می کند. یک مزیت اساسی منبع لیزر بیان آن و عدم آماده سازی نمونه ویژه برای طیف گسترده ای از مواد رسانا و غیر رسانا است. مشاهده بصری و اشاره پرتو به نمونه با استفاده از میکروسکوپ استریوسکوپی یکپارچه در سیستم و همچنین یک دوربین ویدئویی دیجیتال با وضوح بالا با انتقال تصویر به رایانه انجام می شود. حرکت جدول ابزار با یک نمونه ثابت هم به صورت دستی برای تنظیم و هم با استفاده از موتورهای پله ای در دو مختصات در طول تجزیه و تحلیل امکان پذیر است که اسکن سطح و ضبط طیف را با اشاره به تصویر ویدئویی فراهم می کند. این نصب می تواند در ارتباط با هر دستگاه طیف – "Grand" ، "Aspect" ، "Express" ، "Kolibri-2" ، STE-1 ، DFS-458 ، MFS-8 ، PGS-2 و دیگران استفاده شود. منبع لیزر برای تحریک طیف های انتشار اتمی در هنگام انجام تجزیه و تحلیل طیف با کیفیت بالا از سنگ های سخت-فلزات ، مواد معدنی ، شیشه ها و دیگران طراحی شده است. منبع بر اساس یک yag دو پالس است: laser لیزر با مدولاسیون q-factor الکترو نوری که در طول موج اساسی 1064 نانومتر کار می کند. مدت زمان هر پالس بیش از 10 ns نیست و تاخیر بین آنها از 0 تا 60 میکرو ثانیه قابل تنظیم است. توانایی پرتو لیزر برای تمرکز بر مساحت 300 تا 1000 میکرون امکان انجام میکروآنالیز از گنجاندن ها ، انجام اسکن دو بعدی سطح یا تجزیه و تحلیل محلی نمونه ها را بدون آسیب به سطح فراهم می کند. یک مزیت اساسی منبع لیزر بیان آن و عدم آماده سازی نمونه ویژه برای طیف گسترده ای از مواد رسانا و غیر رسانا است. مشاهده بصری و اشاره پرتو به نمونه با استفاده از میکروسکوپ استریوسکوپی یکپارچه در سیستم و همچنین یک دوربین ویدئویی دیجیتال با وضوح بالا با انتقال تصویر به رایانه انجام می شود. حرکت جدول ابزار با یک نمونه ثابت هم به صورت دستی برای تنظیم و هم با استفاده از موتورهای پله ای در دو مختصات در طول تجزیه و تحلیل امکان پذیر است که اسکن سطح و ضبط طیف را با اشاره به تصویر ویدیو فراهم می کند. این نصب می تواند در ارتباط با هر دستگاه طیف – "Grand" ، "Aspect" ، "Express" ، "Kolibri-2" ، STE-1 ، DFS-458 ، MFS-8 ، PGS-2 و دیگران استفاده شود.

دیفرانکتومتر چند منظوره اشعه ایکس DRON-8 (8H) با یک گونیومتر عمودی theta-theta و موقعیت افقی نمونه اجازه می دهد تا تجزیه و تحلیل دیفرانکشن اشعه ایکس از ترکیب فاز ، وضعیت ساختاری و جهت گیری طیف گسترده ای از اشیاء با اشکال و اندازه های مختلف را انجام دهد.

اسپکترومتر برای تعیین محتوای عناصر در محدوده Ca تا U در مواد در حالت های جامد ، پودری ، محلول و همچنین رسوب بر روی سطح یا رسوب بر روی فیلترها طراحی شده است. اصل عملکرد طیف سنج بر اساس تابش نمونه با تابش اولیه از یک لوله اشعه ایکس ، اندازه گیری شدت تابش فلورسنت ثانویه از نمونه در طول موج های مربوط به عناصر تعیین شده و محاسبه بعدی کسر جرم این عناصر با توجه به یک ویژگی کالیبراسیون از پیش ساخته شده است که وابستگی محتوای عنصر تعیین شده به شدت اندازه گیری شده است. تابش فلورسنت ثانویه با استفاده از یک تحلیلگر کریستال به یک طیف تجزیه می شود. به همین دلیل ، طیف سنج دارای وضوح بالا است و بنابراین توانایی تجزیه و تحلیل دقیق مواد چند جزء پیچیده را دارد.

طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس اسپکتروسکان MAX-GF1 (2) E دو روش جداسازی یک سیگنال تحلیلی را ترکیب می کند: پراش روی تراشه (پراکندگی موج-WDX) و روش پراکندگی انرژی (EDX). طیف سنج برای تعیین محتوای عناصر در محدوده Ca تا U در مواد در حالت های جامد ، پودری ، محلول و همچنین رسوب بر روی سطح یا رسوب بر روی فیلترها طراحی شده است.با کمک کانال های پراکندگی انرژی ثابت ، هر یک یا دو عنصر اضافی در محدوده منیزیم (میلی گرم) تا کلسیم (Ca) می تواند تعیین شود. اصل عملکرد طیف سنج بر اساس تابش نمونه با تابش اولیه از یک لوله اشعه ایکس ، اندازه گیری شدت تابش فلورسنت ثانویه از نمونه در طول موج های مربوط به عناصر تعیین شده و محاسبه بعدی کسر جرم این عناصر با توجه به یک ویژگی کالیبراسیون از پیش ساخته شده است که وابستگی محتوای عنصر تعیین شده به شدت اندازه گیری شده است.