جستجو کردن

یکی از ویژگی های مهم مدل Photocor Compact-Z توانایی اندازه گیری پتانسیل zeta است. این به طور قابل توجهی دامنه دستگاه را گسترش می دهد. اطلاعات مربوط به میزان پتانسیل زتا در بسیاری از وظایف تولید و تحقیق مهم است. روش پراکندگی نور الکتروفورتیک برای اندازه گیری پتانسیل زتا استفاده می شود.

طیف‌سنج اشعه ایکس dso-2g (شکل.1) برای پالایش خودکار جهت گیری کریستال های تک سیلیکونی نسبت به سطح کریستال ، برای پالایش نیمه اتوماتیک جهت گیری نادرست محورهای هندسی و کریستالوگرافی و همچنین برای تعیین دستی و پالایش خودکار جهت گیری بخش پایه طراحی شده است. روش اندازه گیری بر اساس تجزیه و تحلیل بازتاب های پراش حاصل از چرخش یک منبع اشعه ایکس کم قدرت در نزدیکی سطح تجزیه و تحلیل شده یک کریستال تک ثابت است. در این حالت ، موقعیت مکانی سطح تجزیه و تحلیل شده با استفاده از سنسور فاصله لیزر تعیین می شود.

مشخصات فنی: محدوده عملیاتی LM-3 220-650 نانومتر محدوده عملیاتی LM-4 220-900 نانومتر شبکه دیفرانکشن (ماکت) 1200 ضربه در میلی متر شعاع خمیدگی 125 میلی متر است مساحت حداکثر غلظت انرژی 300-400 نانومتر است پراکندگی خطی معکوس در محدوده طیف مشخص شده 6.7 nm / mm است باز شدن نسبی 1:3.3 شکاف ها الیاف فیبر نوری با قطر 200 میکرون هستند که در 1 ردیف انباشته شده اند. ارتفاع شکافها 5 میلیمتر است وضوح تک رنگ با شکاف های مشخص شده در محدوده 220-650 نانومتر بدتر از 1.5 نانومتر نیست وضوح تک رنگ با شکاف های مشخص شده در محدوده 650-900 نانومتر بدتر از 2.5 نانومتر نیست دقت تنظیم طول موج بدتر از 0.2 نانومتر نیست ابعاد بیش از 205x125x150 میلی متر وزن بیش از 3 کیلوگرم ولتاژ تغذیه 90-120 / 187-242 V مصرف برق بیش از 12 وات فرکانس جریان 50/60 هرتز

این شامل یک واحد تشخیص ، یک واحد تشدید کننده است و می تواند برای کنترل اشعه ایکس به عنوان بخشی از دستگاه های مختلف اشعه ایکس ، به ویژه دیفرانکتومترهای اشعه ایکس استفاده شود. شدت سنج با استفاده از یک دستگاه اشاره گر ، یک خواندن بصری از شدت تابش را فراهم می کند. تقویت کننده می تواند هم در حالت دستی و هم با کنترل رایانه کار کند.

روش اندازه گیری بر اساس تجزیه و تحلیل الگوی پراش حاصل از چرخش منبع اشعه ایکس در اطراف محور براگ در سطح سطح نمونه است.