جستجو کردن

طیف‌سنج اشعه ایکس سه دایره ای دو کریستالی اتوماتیک DSO-2P (DSO-2P) (شکل.1) طراحی شده است تا به طور خودکار جهت گیری صفحات کریستال تک نسبت به سطح کریستال را اصلاح کند ، از جمله روشن کردن جهت برش پایه. روش اندازه گیری بر اساس تجزیه و تحلیل الگوی پراش حاصل از چرخش منبع اشعه ایکس در اطراف محور براگ در سطح سطح نمونه است.

این برای اندازه گیری زاویه برش کریستال های منفرد ، به ویژه یاقوت کبود با هر یک از جهت گیری ها ، C(0001) ، A(11-20) ، R(01-12) یا M(01-10) در محدوده سوء جهت ± 5.0 درجه با خطای 15 ثانیه زاویه ای طراحی شده است.

طیف‌سنج اشعه ایکس دو کریستالی DSO-1 (DSO-1) برای اندازه گیری خودکار تعدادی از ویژگی های ساختاری ویفرهای نیمه هادی طراحی شده است: کمال ساختاری نمونه ها با توجه به منحنی های نوسان ، پارامترهای شبکه ، مشخصات تغییر شکل ساختار نزدیک به سطح و غیره. همچنین به شما امکان می دهد جهت کریستال ها را تعیین کنید.

این دستگاه امکان اندازه گیری با روش های پراکندگی نور استاتیک و پویا را در طیف گسترده ای از زاویه های پراکندگی فراهم می کند. این دستگاه برای مطالعات فیزیکی و شیمیایی پراکندگی نور سنتی و همچنین برای کاربردهای فناوری نانو ، بیوشیمی و بیوفیزیک موثر است.

اصل عملکرد Photocor Compact بر اساس روش پراکندگی نور پویا است. این دستگاه مطابق با استاندارد بین المللی اندازه گیری اندازه ذرات ISO 22412:2008 است. اندازه گیری اندازه ذرات در زاویه 90 درجه انجام می شود. یک ماژول backscattering به عنوان گزینه ای برای اندازه گیری در زاویه 160 درجه در دسترس است. این گزینه به شما امکان می دهد اندازه ذرات را در سیستم های متمرکز و مات اندازه گیری کنید. با تشکر از زبان ماکرو ساخته شده در نرم افزار ، امکان خودکار سازی فرآیند اندازه گیری وجود دارد. طراحی محفظه cuvette و انتخاب زیادی از آداپتورها امکان استفاده از انواع cuvettes استوانه ای و مربع را فراهم می کند.

یکی از ویژگی های مهم مدل Photocor Compact-Z توانایی اندازه گیری پتانسیل zeta است. این به طور قابل توجهی دامنه دستگاه را گسترش می دهد. اطلاعات مربوط به میزان پتانسیل زتا در بسیاری از وظایف تولید و تحقیق مهم است. روش پراکندگی نور الکتروفورتیک برای اندازه گیری پتانسیل زتا استفاده می شود.

طیف‌سنج اشعه ایکس dso-2g (شکل.1) برای پالایش خودکار جهت گیری کریستال های تک سیلیکونی نسبت به سطح کریستال ، برای پالایش نیمه اتوماتیک جهت گیری نادرست محورهای هندسی و کریستالوگرافی و همچنین برای تعیین دستی و پالایش خودکار جهت گیری بخش پایه طراحی شده است. روش اندازه گیری بر اساس تجزیه و تحلیل بازتاب های پراش حاصل از چرخش یک منبع اشعه ایکس کم قدرت در نزدیکی سطح تجزیه و تحلیل شده یک کریستال تک ثابت است. در این حالت ، موقعیت مکانی سطح تجزیه و تحلیل شده با استفاده از سنسور فاصله لیزر تعیین می شود.

مشخصات فنی: محدوده عملیاتی LM-3 220-650 نانومتر محدوده عملیاتی LM-4 220-900 نانومتر شبکه دیفرانکشن (ماکت) 1200 ضربه در میلی متر شعاع خمیدگی 125 میلی متر است مساحت حداکثر غلظت انرژی 300-400 نانومتر است پراکندگی خطی معکوس در محدوده طیف مشخص شده 6.7 nm / mm است باز شدن نسبی 1:3.3 شکاف ها الیاف فیبر نوری با قطر 200 میکرون هستند که در 1 ردیف انباشته شده اند. ارتفاع شکافها 5 میلیمتر است وضوح تک رنگ با شکاف های مشخص شده در محدوده 220-650 نانومتر بدتر از 1.5 نانومتر نیست وضوح تک رنگ با شکاف های مشخص شده در محدوده 650-900 نانومتر بدتر از 2.5 نانومتر نیست دقت تنظیم طول موج بدتر از 0.2 نانومتر نیست ابعاد بیش از 205x125x150 میلی متر وزن بیش از 3 کیلوگرم ولتاژ تغذیه 90-120 / 187-242 V مصرف برق بیش از 12 وات فرکانس جریان 50/60 هرتز

این شامل یک واحد تشخیص ، یک واحد تشدید کننده است و می تواند برای کنترل اشعه ایکس به عنوان بخشی از دستگاه های مختلف اشعه ایکس ، به ویژه دیفرانکتومترهای اشعه ایکس استفاده شود. شدت سنج با استفاده از یک دستگاه اشاره گر ، یک خواندن بصری از شدت تابش را فراهم می کند. تقویت کننده می تواند هم در حالت دستی و هم با کنترل رایانه کار کند.