جستجو کردن

واحد فیلتر و تهویه AerCO (fvu AerCO) محصولی از فن آوری های مدرن است که به شما امکان می دهد به طور موثر مسائل تصفیه هوا را در شرایط صنایع با استفاده از پردازش فلز حل کنید: - برش لیزر; - برش پلاسما; - جوشکاری; - درمان ساینده. تصفیه هوا در FVU زمانی انجام می شود که از طریق فیلترهای مراحل اول و دوم حرکت کند. از آنجا که در طول عملیات تجهیزات تکنولوژیکی که منبع هوای آلوده (دستگاه های برش لیزر و پلاسما ، جوشکاری و تجهیزات ساینده) است ، تشکیل جرقه ها امکان پذیر است – ذرات فلزی که به دمای بالا گرم می شوند ، سپس یک اتاق آیرودینامیکی به عنوان فیلتر مرحله اول PVF عمل می کند ، که علاوه بر فیلتراسیون ، عملکرد خاموش کننده جرقه را انجام می دهد.

این قفسه مجهز به قفسه های افقی است که ورق فلزی تا 2.5x1. 25m بارگیری/تخلیه می شود

MD-10 یک طیف‌سنج اشعه ایکس است که روش غیر مخرب تجزیه و تحلیل دیفرانکشن اشعه ایکس مواد پلی کریستالی را فراهم می کند. این روش بر اساس پدیده پراش اشعه ایکس بر روی یک شبکه کریستالی است. با اندازه گیری زاویه ها و شدت قله های پراش ، می توان پارامترهای شبکه کریستالی را تعیین کرد ، ترکیب فاز کیفی و کمی یک ماده را انجام داد ، برای روشن کردن اصلاح (فاز) یک ترکیب خاص ، به عنوان مثال ، با استفاده از پایگاه داده JCPDS-ICDD.

طیف‌سنج اشعه ایکس سه دایره ای دو کریستالی اتوماتیک DSO-2P (DSO-2P) (شکل.1) طراحی شده است تا به طور خودکار جهت گیری صفحات کریستال تک نسبت به سطح کریستال را اصلاح کند ، از جمله روشن کردن جهت برش پایه. روش اندازه گیری بر اساس تجزیه و تحلیل الگوی پراش حاصل از چرخش منبع اشعه ایکس در اطراف محور براگ در سطح سطح نمونه است.

این برای اندازه گیری زاویه برش کریستال های منفرد ، به ویژه یاقوت کبود با هر یک از جهت گیری ها ، C(0001) ، A(11-20) ، R(01-12) یا M(01-10) در محدوده سوء جهت ± 5.0 درجه با خطای 15 ثانیه زاویه ای طراحی شده است.

طیف‌سنج اشعه ایکس دو کریستالی DSO-1 (DSO-1) برای اندازه گیری خودکار تعدادی از ویژگی های ساختاری ویفرهای نیمه هادی طراحی شده است: کمال ساختاری نمونه ها با توجه به منحنی های نوسان ، پارامترهای شبکه ، مشخصات تغییر شکل ساختار نزدیک به سطح و غیره. همچنین به شما امکان می دهد جهت کریستال ها را تعیین کنید.

طیف‌سنج اشعه ایکس dso-2g (شکل.1) برای پالایش خودکار جهت گیری کریستال های تک سیلیکونی نسبت به سطح کریستال ، برای پالایش نیمه اتوماتیک جهت گیری نادرست محورهای هندسی و کریستالوگرافی و همچنین برای تعیین دستی و پالایش خودکار جهت گیری بخش پایه طراحی شده است. روش اندازه گیری بر اساس تجزیه و تحلیل بازتاب های پراش حاصل از چرخش یک منبع اشعه ایکس کم قدرت در نزدیکی سطح تجزیه و تحلیل شده یک کریستال تک ثابت است. در این حالت ، موقعیت مکانی سطح تجزیه و تحلیل شده با استفاده از سنسور فاصله لیزر تعیین می شود.

طیف‌سنج اشعه ایکس سه دایره ای اتوماتیک DSO-2v2 (DSO-2V2) (شکل.1) طراحی شده است تا به طور خودکار جهت گیری کریستال های تک و صفحات انبوه را نسبت به سطح کریستال ، از جمله تعیین جهت برش پایه ، اصلاح کند. روش اندازه گیری بر اساس تجزیه و تحلیل الگوی پراش حاصل از چرخش منبع اشعه ایکس در اطراف محور براگ در سطح سطح نمونه است.