جستجو کردن

این برای کنترل فرآیندهای راکتورها ، اتاق های خلاء ، خطوط لوله گاز و غیره طراحی شده است.

این برای اندازه گیری با روش بازتاب داخلی کل مختل شده با تجسم همزمان یک میکرو شی در یک مانیتور یکپارچه و خارجی و همچنین با روش بازتاب پراکنده اسپکولار با زاویه بروز 45 درجه در موقعیت بالایی نمونه طراحی شده است. پیشوند در حالت تک NIP برای ثبت طیف های جذب استفاده می شود: مایعات هر درجه ویسکوزیته (راه حل ها ، تعلیق ها ، روغن ها و غیره)) ، از جمله کسانی که فعالیت شیمیایی بالایی دارند; اجسام جامد با شکل دلخواه ، از جمله نمونه هایی با سختی بسیار بالا (هر پلیمری ، قطعات پوشش رنگ و غیره)); مواد پودری ، از جمله پودرهای با سختی بسیار بالا (داروها ، داروها ، مواد منفجره ، ترکیبات غیر آلی); نمونه ها به شکل فیلم های نازک; نمونه ها به شکل الیاف. حداکثر سختی و مقاومت شیمیایی الماس به طور قابل توجهی امکانات روش را گسترش می دهد ؛ نیازی به جایگزینی دوره ای کریستال نیست. جعبه بالا به شما اجازه می دهد تا طیف ها را بدون آماده سازی نمونه وقت گیر ثبت کنید و وجود یک سیستم بازرسی بصری برای سطح مورد مطالعه با یک دوربین ویدئویی با کیفیت بالا و یک مینی مانیتور با کیفیت بالا در هنگام کار با نمونه های کوچک افزایش می یابد–قطعات الیاف نازک ، ریز ذرات و غیره. مانیتور داخلی دارای عملکردهای زوم دیجیتال 10x ، معکوس کردن و غیره است. تصویر را می توان به طور همزمان بر روی صفحه نمایش کامپیوتر (با استفاده از رابط USB) نمایش داد و سپس به عنوان یک فایل ذخیره کرد. فلنج قابل جابجایی تغییر سریع و راحت نمونه و تمیز کردن سطح کریستال را تضمین می کند. طراحی با یک عنصر الماس که از سطح پایه npvo بیرون زده است به شما امکان می دهد نمونه هایی با ابعاد کلی به اندازه کافی بزرگ را بررسی کنید. کیفیت بالا و تکرار پذیری نتایج به دلیل عدم تأثیر ضخامت لایه ماده بر شکل طیف و شدت نوارهای جذب حاصل می شود. نمونه خواص فیزیکی-شیمیایی اصلی خود را حفظ می کند و در صورت لزوم می تواند با روش های دیگر بیشتر مورد بررسی قرار گیرد. گیره اتصال جهانی مجهز به مکانیسم اهرم دقیق برای کاهش سریع نوک و پیچ میکرومتر است که به شما امکان می دهد درجه بهینه فشار را از قبل تنظیم کنید–این تغییر سریع نمونه و تکرار نتایج اندازه گیری را تضمین می کند. برای راحتی در هنگام کار با نمونه های مایع و خمیر مانند ، و همچنین در حالت ZDO ، امکان چرخش کنسول بستن توسط 180o وجود دارد.جعبه بالا با دو نوک قابل تعویض مجهز شده است–با یک قسمت کار کروی و با یک سر چرخشی مسطح. سختی بالای الماس اجازه استفاده از نیروهای گیره بزرگ را می دهد که یک عامل تعیین کننده برای به دست آوردن طیف های با کیفیت بالا است. یک جدول جایگزین برای ثبت طیف های بازتاب اسپکولار و پراکنده استفاده می شود. نمونه در سطح شی قرار دارد و سطح مورد مطالعه رو به پایین است. این روش برای تعیین ویژگی های طیفی قطعات نوری ، فیلم های نازک روی سطح ، کریستال ها و سایر اشیاء جامد بزرگ با شکل و اندازه دلخواه استفاده می شود.

برای خودکار کردن فرآیندهای مختلف تکنولوژیکی که نیاز به کنترل دما

طراحی دو بلوک: کنترل پنل ، سنسور IR ، کابل اتصال 3m ، خروجی rs 232 ، خروجی جریان ، ضریب تابش تنظیم ، تنظیم آستانه ، مخاطبین رله برای کنترل محرک ها.

لیزرهای CDL سری KLM-980 منابع بهینه تابش مداوم برای سیستم های کنترل و اتوماسیون ساختمان، برای اهداف علمی و پزشکی هستند.

برای اندازه گیری پوشش های بسیار نازک با ضخامت در محدوده نانومتر و مطالعه لایه های تک مولکولی استفاده می شود.

برای خودکار کردن فرآیندهای مختلف تکنولوژیکی که نیاز به کنترل دما

لنزها نسبت کنتراست بالاتری (BCH) و کیفیت تصویر دارند. لنز با فاصله کانونی 174/74 میلی متر به شما امکان می دهد مقیاس تصویر را در آشکارساز بیش از دو بار تغییر دهید.

این برای آماده سازی نمونه در طول بررسی نمونه ها با استفاده از میکروسکوپ IR و کنسول های بازتاب آینه در نظر گرفته شده است. این اجازه می دهد تا شما را به شکل یک لایه نازک (تا چند میکرون) به اشیاء مختلف: قطعات پلیمری ، ریز ذرات LCP ، مواد پودری ، الیاف ، و غیره. لایه های نازک حاصل بر روی صفحات آینه ای ساخته شده از فولاد آلیاژی با روش انتقال دوگانه مورد بررسی قرار می گیرند – هنگامی که تابش که از طریق یک لایه ماده عبور کرده است از سطح صفحه منعکس می شود و دوباره از طریق ماده عبور می کند. طیف های ثبت شده توسط این روش کاملا با طیف های انتقال به دست آمده یکسان هستند ، به عنوان مثال ، پس از فشار دادن مواد با KBr. مزایای این مورد عبارتند از: - سرعت آماده سازی نمونه - نیازی به استفاده از پرس و قالب های هیدرولیک و دستی ، ملات سنگ زنی و غیره نیست. - نیازی به استفاده از kbr با خلوص بالا یا روغن ژله نفتی نیست - نمونه از دست نرفته و در صورت لزوم با روش های دیگر قابل بررسی است - هنگام استفاده از میکروسکوپ IR ، می توان لایه نازک حاصل را "اسکن" کرد تا آموزنده ترین منطقه را انتخاب کند و همچنین ، اگر لایه از نظر ترکیب ناهمگن باشد ، ویژگی های طیفی اجزای آن را بدست آورد.

طراحی دو بلوک: کنترل پنل ، سنسور IR ، کابل اتصال 3m ، خروجی rs 232 ، خروجی جریان ، تنظیم ضریب تابش ، تنظیم آستانه، مخاطبین رله برای کنترل دستگاه های اجرایی

FSM 2211 بر اساس طیف سنج FSM 2211 است ، یک تداخل سنج نوع میشلسون با جبران خود که نیازی به تنظیم پویا ندارد. مشخصات فنی: محدوده طیف ، cm-1 3700-12500 رزولوشن طیف ، cm - 1 2 نسبت سیگنال به نویز (زمان اندازه گیری 1 دقیقه در محدوده 2100-2200 سانتی متر-1 و وضوح 4 سانتی متر-1) >60,000 حداقل زمان برای به دست آوردن یک طیف کامل کمتر از 1 است تقسیم کننده پرتو چند لایه CaF2 بر اساس Ge منبع تشعشع یک لامپ هالوژن است آشکارساز فوتودیود InGaAs Si فوتودیود ابعاد محفظه cuvette ، میلی متر 150x190x170 ابعاد کلی ، میلی متر 520x370x250 وزن ، کیلوگرم 28