جستجو کردن

ویژگی ها: BDES02P کار دقیق با انواع Ppd های سیلیکونی خنک نشده با سطح حساس تا 30 سانتی متر مربع و با ظرفیت خود تا 3000 pF. اندازه گیری نمونه های رادیواکتیو با یک منطقه بزرگ 10-30 سانتی متر مربع ، "نقطه فعال" و با حداقل فعالیت تا 0.01 Bq. توانایی کار 8-24 ساعت در حالت آفلاین ، یعنی بدون پمپاژ مداوم هوا از محفظه خلاء. مشاهده بصری خلاء باقی مانده در اتاق خلاء بر روی نشانگر فلش. همراه با طیف سنج تک صفحه ای sbs-50 (Green Star Instruments ، روسیه) و نرم افزار آن ، یک طیف سنج آلفا مدرن بر اساس یک کامپیوتر سازگار با IBM را تشکیل می دهد. BDES02P2 به عنوان یک مثال ، یک طیف سخت افزاری معمولی از منبع آلفا 238 Pu از کیت OSIAI نشان داده شده است که با استفاده از یک آشکارساز پیپ های سیلیکونی از نوع d4.5a با این واحد تشخیص BDE-1001m و یک پردازنده تک صفحه ای (طیف سنج) SBS-50 به دست آمده است. این می تواند با هر نوع آشکارسازهای نیمه هادی سیلیکونی خنک نشده (Ppd) کار کند. در صورت لزوم تکنیک های نمونه گیری و آماده سازی برای نمونه هایی با یک لایه فعال "نازک" و با یک منطقه بزرگ در دسترس است.

میکروسکوپ MICRAN IR برای کار با طیف سنج های فروسرخ Ft-801 فوریه طراحی شده است. محدوده طیف 6000-600 سانتی متر-1 (با میکروسکوپ و آشکارساز MST خنک شده با نیتروژن مایع) است. رزولوشن 0.5 ، 1 ، 2 ، 4 ، 8 سانتی متر-1 (با رزولوشن طیف سنج فوریه تعیین می شود)

مجموعه انتشار لیزر Grand Globula شامل یک طیف سنج بزرگ ، یک ژنراتور طیف سنجی رعد و برق توپ و یک سه پایه Globula است. این اجازه می دهد تا تجزیه و تحلیل مواد و مواد مختلف در تخلیه قوس و جرقه در هوا ، به عنوان مثال ، با توجه به Gost 17818.15-90 "گرافیت. روش تجزیه و تحلیل طیف "، Gost 9717.1-82 " مس. روش تجزیه و تحلیل طیف بر اساس نمونه های استاندارد فلزی با ثبت طیف فوتوالکتریک" و سایر MVI ها.

طیف سنج MS - 1104e با عملکرد بالا و دقت اندازه گیری های مسباور که از طریق استفاده از هندسه "فشرده" به دست آمده است ، و همچنین استفاده از واحدهای تشخیص درخشش رزونانس بسیار کارآمد و انتخابی ، که وضوح انرژی خطوط جذب رزونانس را تا 30 ٪ بهبود می بخشد ، مشخص می شود. تکنیک تثبیت نرم افزار و سخت افزار مسیر طیف سنجی توسعه یافته و مورد استفاده در طیف سنج اجازه می دهد تا اندازه گیری های طولانی مدت مسباور بدون تنظیم دستی انجام شود. روش مدولاسیون در محدوده های سرعت مشخص شده اجازه می دهد تا حساسیت و بیان اندازه گیری ها را به طور قابل توجهی افزایش دهد و زمان تعیین شدت اثرات جذب رزونانس را ده برابر در مطالعه انتقال فاز دما با غلظت کم عناصر رزونانس کاهش دهد. اجزای الکترونیکی طیف سنج بر اساس یک پایه عنصر مدرن با استفاده از آرایه های منطقی برنامه ریزی شده و میکروپروسسورها توسعه یافته است. مسیرهای طیف سنجی قابل تنظیم و منبع تغذیه ولتاژ بالا PMU در واحدهای تشخیص یکپارچه شده اند ، ماژول های درایور مدولاتور و ذخیره سازی چند کانال در استاندارد ISA ساخته شده اند و در واحد پردازنده رایانه قرار دارند. تنظیم و نظارت بر تمام پارامترهای طیف سنج و پردازش طیف های اندازه گیری شده از پنجره های عملیاتی برنامه های کنترل و پردازش انجام می شود. از سال 2000 ، بیش از ده طیف سنج از این نوع به سازمان های علمی پیشرو در روسیه و کشورهای همسایه عرضه شده است. لازم به ذکر است که یکی از معدود کاربردهای صنعتی طیف سنجی مسباور توسعه و عرضه به Npp Volgodonsk از روش های گواهی شده MS-1104em و طیف سنج برای نظارت بر فرآیندهای خوردگی در مدارهای تبادل گرما راکتور VVER-1000 است.

طیف سنج جذب اتمی ترکیبی با دو نوع اتمی سازی-شعله و الکتروترمال. اهداف اصلی تجزیه و تحلیل: در حالت اتمی سازی شعله: آب های طبیعی و فاضلاب; هوای جوی و هوای منطقه کار; خاک و رسوبات; فولاد و آلیاژها; اشیاء بیولوژیکی. در حالت اتمی سازی الکتروترمال: آب آشامیدنی و طبیعی; هوای جوی; خاک و رسوبات; محصولات غذایی (محصولات غلات و غلات ، ماهی ، تخم مرغ ، شیر و لبنیات ، محصولات صنایع فرآوری چربی و روغن و گوشت); خوراک مرکب; نوشیدنی های الکلی; فولاد و آلیاژها; اشیاء بیولوژیکی ، از جمله: خون کامل ، سرم خون ، مو ، ناخن ، بافت کبد. محدوده طیف 190-900 نانومتر است دقت تنظیم طول موج 0.15 نانومتر است رزولوشن < 0.2 نانومتر ± 0.02 نانومتر ثبات: رانش خط پایه کمتر از ± 0.002 E. O. P. در 30 دقیقه ابعاد 1100 میلیمتر × 535 میلیمتر × 540 میلیمتر وزن 130 کیلوگرم

میکروسکوپ گسترده ir سری MIKRAN که به طیف سنج های فوریه Ft-801 و Infralum ft-801 متصل است ، برای مطالعه نمونه هایی از 10 میکرون در اندازه ، از جمله آنهایی که دارای ترکیب ناهمگن هستند ، طراحی شده است. هنگام کار بر روی میکروسکوپ IR ، اپراتور این فرصت را دارد که جسم مورد مطالعه را با افزایش بیش از 200x مشاهده کند هم با استفاده از دوربین دوچشمی و هم روی مانیتور با استفاده از دوربین ویدئویی دیجیتال ، در طول فوتومتری ، با کمک دیافراگم ها ، یک منطقه محلی با شکل دلخواه را انتخاب کنید و همچنین سطح نمونه را "اسکن" کنید و طیف به دست آمده در زمان واقعی را مشاهده کنید.

ژنراتور تخلیه قوس STARK-5 برای تولید و تثبیت جریان تخلیه قوس در طول تجزیه و تحلیل طیف در طیف سنج های قوس طراحی شده است. ژنراتور تخلیه قوس STARK-5 تمام انواع شناخته شده تخلیه قوس را فراهم می کند: قوس DC ، قوس AC ، قوس متناوب در محدوده 1A تا 25 A. حذف واحد سوئیچینگ و احتراق توسط یک عنصر ساختاری جداگانه به محفظه تخلیه (سه پایه) طیف سنج باعث کاهش تداخل ژنراتور می شود و استفاده از رابط تبادل ویژه امکان کنترل از راه دور ژنراتور را از یک کنترل از راه دور در فاصله تا 100 متر فراهم می کند. واحد الکترونیکی اصلی ، یک واحد سوئیچینگ و احتراق از راه دور و در صورت لزوم یک پنل کنترل از راه دور.

ویژگی های KFK-3-01 محدوده طیف انتخاب شده 5-7 نانومتر است محدوده اندازه گیری SCNP 1-99 % محدوده اندازه گیری تراکم نوری 0.004 -2 B است محدوده قرائت SCNP 0.1 - 120 است % محدوده خوانش های تراکم نوری 0 - 3 B است. محدوده غلظت 0.001-9999 واحد است.

اسپکترومتر برای تعیین محتوای عناصر در محدوده Na تا U در مواد در حالت های جامد ، پودری ، محلول و همچنین رسوب بر روی سطح یا رسوب بر روی فیلترها طراحی شده است. اصل عملکرد طیف سنج اشعه ایکس بر اساس تابش نمونه با تابش اولیه از یک لوله اشعه ایکس ، اندازه گیری شدت تابش فلورسنت ثانویه از نمونه در طول موج های مربوط به عناصر تعیین شده و محاسبه بعدی کسر جرم این عناصر با توجه به یک ویژگی کالیبراسیون از پیش ساخته شده است که وابستگی محتوای عنصر تعیین شده به شدت اندازه گیری شده است. تابش فلورسنت ثانویه با استفاده از یک تحلیلگر کریستال به یک طیف تجزیه می شود. به همین دلیل ، طیف سنج فلورسنت اشعه ایکس دارای وضوح بالایی است و بنابراین توانایی تجزیه و تحلیل دقیق مواد چند جزء پیچیده را دارد.

یک طیف سنج انتشار نوری دسکتاپ منحصر به فرد با منبع تحریک طیف ترکیبی که ترکیبی از جرقه لیزر و تخلیه جرقه الکتریکی در هوا است — LIES برای تجزیه و تحلیل طیف سریع نمونه های حامل جریان ، تجزیه و تحلیل ترکیب عنصری مونولیت های جامد (شیشه ، سرامیک ، پلاستیک ، فلزات ، آلیاژها ، گرانیت ها و غیره) طراحی شده است.) ، پودر های مختلف فشرده (از جمله خاک ، سنگ ، نمونه های زمین شناسی و غیره)). طیف سنج می تواند برای تجزیه و تحلیل میکرو نمونه های ناهمگن (هم در سطح و هم در عمق) ، برای تجزیه و تحلیل نمونه های میکرو ، نمونه های شکل پیچیده استفاده شود. دروغ را می توان در متالورژی آهنی ، غیر آهنی ، پودر استفاده کرد ؛ علم فلز ؛ صنعت معدن ، معدن و پردازش ؛ زمین شناسی و اکتشاف زمین شناسی ؛ تولید مواد ساختمانی ؛ تولید مواد با خلوص بالا ؛ در محیط زیست و حفاظت از محیط زیست ؛ در کشاورزی و صنایع غذایی ؛ در آزمایشگاه های پزشکی قانونی ، پزشکی و داروسازی و غیره. LIES یک طیف سنج انتشار جرقه لیزر ترکیبی دسکتاپ برای تجزیه و تحلیل طیفی مونولیت های جامد است منحصر به فرد بودن طیف سنج ترکیبی انتشار جرقه لیزر در این واقعیت نهفته است که بر خلاف طیف سنج لیزر کلاسیک ، که در آن جرقه لیزر دو عملکرد را به طور همزمان انجام می دهد: ابلیشن (استخراج ماده تجزیه شده از نمونه) و تحریک طیف اتم ها و یون های استخراج شده ، طیف سنج دروغ از یک تخلیه استفاده نمی کند ، بلکه از دو-جرقه لیزر و جرقه الکتریکی که عملکردهای فوق را به اشتراک می گذارد: جرقه لیزر ابلیشن و جرقه الکتریکی را انجام می دهد به عنوان منبع تحریک طیف اتم ها و یون های ماده تجزیه و تحلیل شده عمل می کند. این رویکرد به طور قابل توجهی (3-10 بار!) ویژگی های اندازه گیری طیف سنج (حساسیت و قابلیت بازتولید) را بهبود می بخشد.