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设计用于研究各种类型的固体样品，包括光学和半导体材料、宝石和其他任意形状的物体 •样品位于被调查表面的被调查平面上向下，中心光束在样品上的入射角为15° *允许您检查小尺寸的样品（测试区域的直径为1mm） •机顶盒配有一组可更换的膜片支架，用于不同尺寸的样品 •当使用微型压力机时，它允许您检查在由合金钢制成的镜板上滚出的薄层形式的样品（辐射穿过物质层两次，从镜面反射） *不使用：用于研究散装和液体物质

实验室红外傅里叶光谱仪FSM2211专为近红外范围内的定量和定性研究而设计。 它具有光谱BIC分析方法的所有优点：接收数据的信息含量高，测量的速度和准确性，不需要样品的初步准备和人员的特殊培训。 波段在红外吸收光谱中的位置携带关于样品的定性组成的信息，而波段的强度允许其定量分析，即确定相应组分的浓度（或其它性质）。 这是使用校准模型完成的，该模型是吸收指数（透射）和组分浓度（样品的性质）之间的关系。 根据校准的结果预先计算校准模型，该校准模型包括用已知的（通过标准化学方法建立的）组分浓度或其他已知性质配准一批样品的光谱。 FSM2211光谱仪基于具有自补偿功能的迈克尔逊型干涉仪，不需要动态调整。

Prefix旨在与IR傅里叶光谱仪FSM一起测量光谱中近红外区域的散射表面和分散样品的漫反射光谱。

它用于快速分析各种类型的固体和液体样品，包括聚合物颗粒、薄膜和纤维、粉状物质、油漆涂层碎片、燃料和润滑剂。 用于对所研究表面进行视觉检查的光学系统的存在增加了75x，确保了在处理小样品时的高效率-薄纤维的碎片，微粒等。 通用夹具配有一个精密杠杆机构，用于快速降低尖端和一个千分尺螺钉，允许您预先设置最佳的压力程度–这确保快速更换样品和测量结果的重复性。 为了方便处理液体和糊状样品，以及在ZDO模式下，可以将夹紧控制台旋转180o。该控制台配有两个可互换的尖端-一个球形工作部件和一个平铰头。 替换表用于登记镜面和漫反射光谱。 样品位于被调查表面的被调查平面上向下，中心光束在样品上的入射角为45°。 该方法用于测定表面光学零件、晶体、薄膜的光谱特性，以及对大型固体物体的吸收光谱进行配准。 在频谱的工作范围内传输，输入信号的%至少为30 配准光谱时推荐的扫描次数为25 25次扫描时的频谱配准时间（分辨率4cm-1），sec30 辐射穿透样品的深度，微米5–15 固体样品的最小面积，mm0.2×0.2 所研究液体的最小体积，ml1 纤维样品的最小尺寸：截面直径/长度，mm0.1/1 衬底晶体材料ZnSe CVD,Ge 聚焦光斑直径，mm1 Zdo模式下辐射（中心光束）在样品上的入射角45o 微透镜的放大倍数/视觉通道的总放大倍数4X/75X 光学系统的视场，mm2X2.5 数码摄像机分辨率640x480 外形尺寸,mm150×150×260 重量,kg2.15 *允许您研究小尺寸的物体（从200微米-取决于材料的几何形状，表面质量和物理化学性质） *附件允许您在没有样品准备的情况下工作，使用配备颜色指示器的夹具固定调整样品上的压力 •由于带有NPVO元件的可拆卸法兰，提供了快速方便的样品更换和晶体表面清洁 •在给定的最佳接触力下，由于物质层的厚度不影响光谱的形状和吸收带的强度，该方法提供了高质量和可重复性的结果 *样品保留其原始物理和化学性质，如有必要，可以通过其他方法进一步研究

控制台设计用于在透射或反射模式下控制直径达200mm的半导体晶片的参数。 板材的参数通过高度敏感的非接触式方法在操作员指定的点进行控制。

MICRAN系列的宽范围红外显微镜连接到FT-801和Infralum FT-801傅立叶光谱仪，旨在研究10微米大小的样品，包括异质成分。 当在红外显微镜上工作时，操作员有机会使用双筒望远镜和使用数字摄像机的监视器以超过200倍的放大倍数观察被研究对象，在光度测定期间，在膜片的帮助下选择任意形状的局部区域，并"扫描"样品表面，实时观察获得的光谱。

用于监测半导体晶片参数的测试仪FSM1201P允许按照操作者设定的程序，自动测量放置在测量台上的直径为76、100、125、150和200毫米的平面平行抛光硅晶片。 一点的标准测量时间不超过20秒。 主要受控参数: 间质氧的浓度(板厚0.4-2.0mm)内(5×1015-2×1018)±5×1015 sm-3(半MF1188); 取代碳浓度(板厚0.4-2.0mm)范围:(1016-5×1017)±1016cm-3(半MF1391); 硅片中氧分布的径向不均匀性(半MF951); n-n+和p-p+类型的硅结构的外延层的厚度在(0.5–10.0)±0.1微米、(10-200)±1%微米(SEMI MF95)的范围内; CNS结构中外延硅层的厚度在(0.1-10.0)±1%微米范围内; FSS层中的磷和bfss层中的硼/磷的浓度在(1-10)±0.2重量％以内。

它允许记录尺寸为500微米的物体（宝石，光学部件，半导体材料）的透射光谱。 它也用于研究用KBr压缩成小直径片剂的样品（该方法便于粉状物质的光谱分析-前缀允许您使用手动压力机使用少量样品来制造片剂）。 *聚焦光斑直径小于3毫米 *设计采用抛物面镜光学 •机顶盒配有一组可更换的膜片支架，用于不同尺寸的样品 *窗户-由红外透明材料制成的衬底可以在粘贴、液体物质或提取物后放入支架中，然后干燥各层 *滑台具有垂直和水平方向平滑移动的可能性，以达到最大信号电平

它用于记录中等大小和任意形状的固体样品–各种厚度的聚合物薄膜、光学部件、半导体晶片、大晶体等的透射光谱。 •由于快速释放螺母，它提供了方便的紧固样品

以安装在FT-801光谱仪的比色皿隔室中的光学-机械附件的形式制成具有所研究液体的可调层厚度的液体比色皿。 它包含聚焦光学器件，两个直径为10mm的窗口基板的可拆卸支架和放置在控制台外壳的上面板上的两个调节螺钉，旨在设置窗口之间所需的间隙。 任何粘度程度的液体以小滴的形式预先施加到下部窗口，然后，在窗口平滑收敛的过程中，均匀地填充它们之间的间隙。 通过旋转调节螺钉并在线观察透射光谱，用户有机会设置所需的液体层厚度，由整个光谱的整体强度或由特定吸收带的强度引导。 在存在校准（使用ZaIR3.5程序对已知浓度的多个样品易于创建）的情况下，比色皿可进行定量测量。 比色皿在分析含有小比例杂质的混合物时是必不可少的。 技术规格 在频谱的工作范围内传输，输入信号的%至少为50 配准光谱时推荐的扫描次数为16 16次扫描时的频谱配准时间（分辨率4cm-1），sec20 研究液体的最小体积，mm31 焦点的直径，mm3 外形尺寸,mm200×90×160 重量,公斤1,1 该图显示了粘性润滑剂"Buxol"的几个光谱，说明了在窗口之间选择样品层厚度的过程。 测量过程具有较高的表达性和再现性，采用廉价的可更换衬底窗，系统易于配置和清洁，需要极少量的样品以获得高质量的光谱。

INFRASKAN4200谱分析器已经在全俄门捷列夫计量科学研究院进行了测试，进入了第83050-21号测量仪器的统一国家登记册。 所有制造的设备都经过初步验证并具有适当的证书。 分析各种质量指标（蛋白质/蛋白质、水分、麸质的数量和质量、脂肪/油含量、吸水能力、酸数、过氧化物数、磷化物质的小剂量率等） 被校准以评估全谷物（小麦，大麦）中的水分和蛋白质。 用于分析散装，液体和糊状产品的比色皿隔室允许分析液体植物油，而无需使用额外的设备。 内置的白度模块允许您与其他质量指标（水分，蛋白质，麸质含量）同时确定产品的白度。 宽光谱范围（400-2500纳米）提供了分区反射系数的测量，以根据GOST26361-2013方法确定面粉的白度。 由此可以计算饲料组分的氨基酸组成。 为了组织ECANET网络中分析仪的工作，INFRASKAN-4200谱分析器可用作存储和传输数据的服务器。 远程访问模式允许您远程更新现有校准，安装其他校准模型并为新产品开发新的校准模型，以及在必要时对技术设置进行调整。

设计用于监测反应器、真空室、气体管道等过程.