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      Linnik MII-4M微针仪
      Linnik MII-4M微针仪
      它的目的是获得物体表面的显微测量图像,这是基于光的双光束干涉的方法。 技术规格: 粗糙度参数Rmax、Rz和膜厚、微米的测量范围 0,1 – 0,8 显微镜的可见放大倍数,倍 500 视觉附件 单眼/单眼 眼管倾斜角度,度数 45 可见放大目镜,多 15 对象空间中的线性视场,mm 0,3 移动滑台,mm 在纵向和横向上0-10,工作台的旋转 划分表的测微螺钉的鼓的刻度的价格,mm 0,005 聚焦机构的千分尺螺杆的滚筒的刻度分割的价格,mm 0,002 照明设备 白色或单色光 光源 白光LED 螺钉眼测微计,多 16(电影-1-16) 光电眼测微计 FOM-2-16x* 电力供应 交流电源电压220v,频率50hz通过台式电源 外形尺寸,不大于,mm 300x300x420 重量,不超过,公斤 30
      LOMO
      Saint Petersburg
      生产于: 圣彼得堡
      红外干涉仪 IKI-2.8、IKI-3.5、IKI-10
      红外干涉仪 IKI-2.8、IKI-3.5、IKI-10
      使用干涉仪可以实现: • 红外透镜波前形状的控制 • 材料折射率不均匀性的控制 • 研磨表面形状的控制(波长 10.6 微米)
      NII OEP
      Sosnovyy bor
      生产于: 松林, 列宁格勒地区