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用于记录位于远程封闭体积中的物质光谱的光学系统
用于记录位于远程封闭体积中的物质光谱的光学系统
设计用于监测反应器、真空室、气体管道等过程.
SIMEKS
Novosibirsk
生产于: 新西伯利亚
光谱测量复合体:自动红外傅里叶光谱仪"FT-801"与红外显微镜"MIKRAN-2"
光谱测量复合体:自动红外傅里叶光谱仪"FT-801"与红外显微镜"MIKRAN-2"
2 个卖家有售
100 500 ₽
MICRAN系列的宽范围红外显微镜连接到FT-801和Infralum FT-801傅立叶光谱仪,旨在研究10微米大小的样品,包括异质成分。 当在红外显微镜上工作时,操作员有机会使用双筒望远镜和使用数字摄像机的监视器以超过200倍的放大倍数观察被研究对象,在光度测定期间,在膜片的帮助下选择任意形状的局部区域,并"扫描"样品表面,实时观察获得的光谱。
SIMEKS
Novosibirsk
生产于: 新西伯利亚
红外显微镜"MIKRAN"
红外显微镜"MIKRAN"
红外显微镜"MIKRAN"设计用于与IR傅里叶光谱仪"Infralum FT-801"一起工作。 光谱范围为6000-600cm-1(用显微镜和用液氮冷却的MST检测器)。 分辨率0.5,1,2,4,8cm-1(由傅里叶光谱仪的分辨率决定)
SIMEKS
Novosibirsk
生产于: 新西伯利亚
红外显微镜"MIKRAN-3"
红外显微镜"MIKRAN-3"
一个具有极高灵敏度的更高级别的设备和一组额外的功能,使您能够扩展进行光谱研究的可能性: *带4个可互换镜头的左轮手枪机构-镜面IR15X,NPVO,镜头4x,镜头10X; *镜面和漫反射、透射和NIP模式下的光谱配准; *提高灵敏度,可记录尺寸为5微米的微物体的光谱; ·内置控制面板,具有高级功能; *自动绘图系统; *矩形狭缝膜片由特殊玻璃制成-选择片段后,其余视场也可供用户查看,这大大简化了具有局部不均匀性的扩展表面的光度测量; *用于控制显微镜和处理结果的专用软件。 液氮需要与红外显微镜一起工作。
SIMEKS
Novosibirsk
生产于: 新西伯利亚
NTEGRA SPECTRASPM和共聚焦显微镜/拉曼散射光谱仪
NTEGRA SPECTRASPM和共聚焦显微镜/拉曼散射光谱仪
纳米领域的跨学科研究:AFM +共聚焦拉曼+ SNOM + TERS SPM和共聚焦显微镜/拉曼散射光谱仪的集成。由于尖端增强了拉曼散射,因此可以以高达10 nm的分辨率进行光谱/显微镜
NT-MDT
Zelenograd
生产于: 莫斯科, 泽列诺格勒
NTEGRA Prima原子级分辨的高端科研型原子力显微镜
NTEGRA Prima原子级分辨的高端科研型原子力显微镜
NTEGRA Prima是一款具备原子级分辨的高端科研型原子力显微镜。NTEGRA代表N个integration,即NTEGRA作为开放的原子力显微镜平台,在具备了形貌、电学、磁学、力学、刻蚀、操纵等SPM技术的同时,还能根据用户的潜在需求配备相应的部件或提供最佳的自由搭建空间。例如:近场光学、拉曼/荧光光谱联用、外加磁场、声学原子力等功能。得益于开放式平台的设计,这些功能只需要升级相应部件,无需更换基座、控制箱、软件等。大大提升了仪器的潜力,丰富了用户的科研手段!
NT-MDT
Zelenograd
生产于: 莫斯科, 泽列诺格勒
NTEGRA AURA是基于探针显微镜的纳米实验室
NTEGRA AURA是基于探针显微镜的纳米实验室
NTEGRA AURA是在真空中使用扫描探针显微镜技术的高效研究装置,使其能够比同类高真空系统更快地达到运行状态,在这种真空条件下Q值在1分钟内能增长10倍!尺寸紧凑和易于维护是仪器重要的优势。
NT-MDT
Zelenograd
生产于: 莫斯科, 泽列诺格勒
高灵敏度HICMOS数码相机
高灵敏度HICMOS数码相机
1 个卖家有售
Abisens LLC制造的高灵敏度HICMOS数码相机用于实时配准包括生物发光在内的微弱光信号,具有光子计数功能并实时可视化信号累积过程(无需等待曝光时间终 它被用作科学研究的高科技实验室设备的组成部分,包括安装在Abisens LLC制造的LumoTrace®生物样品中的荧光和生物发光成像系统中。
Abisens
Sirius
生产于: 天狼星, 克拉斯诺达尔地区
自动配料系统
自动配料系统
1 个卖家有售
与 LumoTrace 生物样品荧光和生物发光成像系统兼容的自动试剂分配系统。与 LumoTrace 一起使用时,可在自动移液过程中同时实时记录 96 孔板中的荧光和生物发光。
Abisens
Sirius
生产于: 克拉斯诺达尔地区
轮廓仪型号 220
轮廓仪型号 220
去除并测量零件的几何形状,获得25个粗糙度参数;在圆度计模式下使用主轴上的旋转体: 走线长度:0.1 毫米 – 220 毫米 高度测量范围:0.1 微米 – 120毫米 Ra 测量范围:0.005 - 500 微米 圆度偏差:最大 4 微米 配备一套探头、一套 10 个校准和参考标准,以及一台现代化计算机。
生产于: 莫斯科, 泽列诺格勒
轮廓仪型号 130
轮廓仪型号 130
测量粗糙度参数Ra;Rz;Rmax;Rp;Rv;Rq;Sm;S;la;lq;tp;Lo;D;da;dq等,查看轮廓图并测量不均匀性的大小 走线长度:0.5 毫米 – 40 毫米 Ra 测量范围:0.012 – 50 微米 准确度 1 级(准确度 2%) 在 > 3毫米" 的孔内工作
生产于: 莫斯科, 泽列诺格勒