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EG-1100控制器设计用于控制压电定位器的运行，如Ratis扫描平台和Vectis单轴运动，或其他压电设备。 一般特征: CPU, 32比特；RISC PC接口， USB2.0 其他接口，RS232，RS485， SYNC I/O 高电压输出 电压，-10..150伏 噪音，<5ppm 电路数量，3个 DAC（数模转换器）比特率，18比特

专为监控对准光束相对于近场中光学元件的光圈和远场中真空空间滤波器的焦距光阑的位置而设计。

用途使用: 测量动力 在各种结构和机械的动态测试的时候，可以一个传感器使用还有可以跟振动测试系统和振动传感器结合使用。 特征: 坚固的结构和密封的外壳。 轴向灵敏度、固有频率和抗冲击性的高值的组合。 特性的稳定性和运行过程中的可靠性。 宽的温度范围。 度变化的敏感性低。 一个深度至少6毫米的螺纹孔M5-7n用于安装传感器。拧紧扭矩从1.9Nm 到 2.1Nm。

在操作低温恒温器的额外设备中，只需要一个温度控制器和一个真空泵（板转子或螺旋，或涡轮分子泵站）。 这种型号的低温恒温器没有任何抑制振动的方法-它们直接从低温冷冻器传输到样品，并且根据所使用的模型，样品上振动的近似值范围从20到200微米。 申请范围: -电气和磁性实验; -热、电、磁敏感性; -热容量; -DLTS(deep level transient spectroscopy,深能级光谱); -观察塞贝克效应。

主镜直径 - 250 mm 主镜相对孔径-F/3 次镜直径 - 102 mm 等效相对光圈 - F/8 等效焦距 - 2000 mm 焦平面偏移超出主镜顶部 - 291 mm 镜子之间的距离 - 466 mm 主镜厚度 - 30 mm 次镜厚度 - 15 mm 主镜中心孔直径为 90mm 镜面材质：LK-7（低线膨胀温度系数光学玻璃） 根据协议，光学元件可以由 Sital 制造 光学精度：整个系统波前畸变1/4λ以下，均方根偏差（RMS）1/25λ以下，斯特列尔准则0.95以上 镜面涂层 - Al + SiO2（石英）

专为动态和静态状态下各种设备的特性和参数的快速测量、记录和分析而设计，包括振动和冲击、转速、静态力、直流电压。 应用： • 旋转机械的动态平衡（转子、汽轮机组、泵、风机、天线站）； • 解决设备运行、维修和保养过程中的技术状态控制和诊断问题； • 在台架和实地振动和冲击试验中进行测量。

性能说明: 焦点规模，mm 0,6；1,2 功率，kW 25；50 阳极转速，RPM 9000 靶材径，mm 88 靶材角14度 靶材热容量，kJ 225 Max电压 kV 150 白炽参数（Max Uн,В; Max Iн,А）7.5；15,0; 6,2;6,5 Max烧瓶直径，mm 130

它的设计用于通过光学显微镜，光谱学和扫描探针显微镜对表面性质的复杂研究。 它能够获得完整的拉曼散射和/或荧光光谱、共焦激光和共焦光谱图像（表面绘图）以及SPM图像。 Centaur I HR的设计既允许使用单独技术（如原子力显微镜），也允许组合技术（AFM-拉曼、共焦激光和AFM）。

扫描探针显微镜标配版Certus，旨在解决广泛的研究和任务分析。 沿X、Y、Z轴进行平面平行扫描，可以获得图像表面，并以最小的失真和信息损失进行后续的图像编辑; 使用探针（传统扫描仪捏的探头Certus）和三维平面扫描仪对样品进行扫描。 探针保证平行扫描到样品的平面，不需要手动移动探头到试样上。 探针向样品的平面平行供给，解决了人工向样品供给探针费力的问题。 保障由三个机动支架进行; 扫描头的开放式设计使得能够以0-90°的角度观察测试样品的表面，安装额外的装置和设备; 标准化配置允许Certus标准扫描探针显微镜安装在传统光学显微镜（直接或倒置）上，与光学设备结合并升级为Certus Optic和Centaur改装。 扫描探针显微镜的基本技术已经实现。 要改变扫描探针显微镜的操作模式（例如，从原子力显微镜模式中的操作切换到扫描隧道显微镜模式），改变探针架就足够了。

工作模式：连续 输出稳定电流，A：1-80 输出电压，V：0-35 电源：三相网络220/380 V 50 Hz 工作温度范围，°C：+10…+35 储存温度，°C：-20…+45 相对湿度（无冷凝），%：90 重量，kg：5.3 总体尺寸（宽 x 高 x 深），毫米：390 x 75 x 200。

通常，辐射监测仪安装在控制区的边界：行人和交通检查站。 辐射监测仪是检测电离辐射源的主要手段，是建设辐射监测综合体的基础；它们不是电离辐射源，不会对人体健康构成危险。