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NT-MDT光谱仪器是为红外光谱范围设计的INTEGRA纳米红外散射扫描近场光学显微镜（r–扫描进场显光学显微镜）。 原子力显微镜探针位于光学系统的焦点中，该光学系统将IR激光辐射引导到样品并收集光学响应。 收集到的辐射被送到迈克尔逊干涉仪进行光学分析。 通过同步检测抑制采集信号的远场分量。 INTEGRA Nano IR系统允许检测近场信号的幅度和相位。 产生的反射和吸收对比的空间分辨率约为10nm，仅由探针尖端的大小决定。

它具有空气中电弧放电光谱的激发源、碳电极、200-930nm范围的双空气光谱仪和在线性CCD探测器上的配准。 粉末材料和导流样品的光谱快速分析.

平面平行扫描压电片。 该装置是一个整体的金属体（由优质合金制成，通常是铝），其中压电陶瓷致动器、可移动工作台元件等的通道是通过电蚀和其他精密加工方法形成的。这种设计提供了出色的线性和运动的平面性，不同于传统的压电扫描仪，后者的扫描面是一个球体。此外，与脆弱的压电管相比，平面平行扫描器在机械上很坚固。

TRS5009和TRS5009-01系列的机械和机电硬度测试仪分别设计用于按照GOST22975-78标准使用Super-Rockwell方法测量金属、合金和结构塑料的硬度。 硬度计在使用以下缩进时的硬度测量范围为15刻度：角度为120gr的金刚石尖端。 和直径为1.588;3.175; 6.35毫米和12.7毫米。这些系列硬度计的负载变化是通过旋转手柄进行的，其中TRS 5009系列硬度计采用手动负载驱动，TRS 5009-01系列硬度计采用机电驱动。 TRS 5009和TRS 5009-01系列硬度计具有模拟计数器（时钟类型指示器），裂变成本为0.5 hr。产品的负载保持时间可调，设置在1到99 s之间。 硬度计的功能可以通过使用根据特殊要求提供的各种附件来增强。

DT13支架设计为通过直径为13mm的片剂的机械夹具固定，从粉末状固体样品和KBr晶体的混合物中压缩。

NTEGRA Spectra II已经是第二代测量系统，成功地展示了两个世界的统一：原子力显微镜和拉曼光谱。 从浮雕映射到二维光谱分析，从电气和机械性能的研究到分辨率低于衍射极限的光学测量。 现在科学家可以一次对样品的表面性质进行完整的物理化学分析。 因此，研究人员获得了发展实验室技术的无限机会。

它用于测量厚度在纳米范围内的非常薄的涂层，并研究单分子层。

Craftest Storm-Camera设计用于自动和手动将粉末显影剂涂抹在零件和复杂几何形状的难以接近的区域，以进行毛细管检查。 •通过自动均匀应用粉末显影剂和减少人为因素，提高毛细管控制的可靠性。 •通过将粉末显影剂应用于复杂几何形状零件的难以接近区域，增加了零件和部件的完整控制。 •减少显影剂对人体的有害影响。 •允许在紫外线下进行目视检查。 特点 •废旧消耗品回收能力，可重复使用。 •侧面板上的控制面板允许您控制照明、排气通风和附加设备。 •可选：旋转台、用于吹除剩余粉末显影剂的气枪、用于在复杂几何形状零件上均匀应用粉末显影剂的喷雾器（手动枪）。

2143系列机电硬度计是用超罗克韦尔方法测量金属和合金硬度的。该仪器可根据ISO P1024-1969、DIN 50103（第2部分）和ASTM E18-74测量硬度。 该仪器属于一组硬度计，具有手动将产品引入端子、预压缩试验样品、数字测量结果显示的压头嵌入深度电子测量、自动零度设置、自动产品负载保持、指定硬度公差限值，产品的视觉分割分为三组：硬度低/正常/大。 2143 TPS硬度计可用于机械制造和冶金企业的车间和实验室，以及研究机构的实验室，环境温度为+10-35，相对湿度为50-80%。

八角形 "系列管式炉设计用于加热各种物质、材料和产品样品以及化学技术设备中的元件（单元），在空气环境中使用电子温度控制装置，最高温度可达 1000ºC。

容积L:74 工作温度范围，-70/+100°C 温度梯度，°C，不超过±3.0 相机平均温度偏离设定值，°C，不超过±2.0 温度达到最低温度的时间分钟，不超过80 温度达到最高温度的时间分钟，不超过60 最大温度振幅，°C，不超过±0.5 工作室内安装的相对湿度范围，%不小于20…98 摄影机中达到的相对湿度与控制器上设定的相对湿度的偏差不超过±3% 程序中的最大步骤数：15 最大程序开发周期数：999 电缆输入直径，mm:100 工作室尺寸，mm，不小于：宽度×深度×高度：440x400x420 尺寸，mm，不超过：宽度x深度x高度：1080x880x1528 制冷剂：R23、R404A 所需功率，kW，不超过3.0 电源电压/频率，V/Hz 220±10%/50 重量，kg，不大于：260 表演：地板 控制系统：微处理器 计算机通信：RS485接口 平均寿命，年，不少于10 材质：不锈钢

特点: 空间分辨率为 1 μm 透射/反射测量 集 532 nm 和 785 nm 激光于一体的显微镜 用于自动识别物质的专业软件 扩展光谱范围，可同时分析拉曼和发光，提供有关被测物体的更多重要信息