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具有硒化锌元件的通用光学机顶盒和外部监视器上的集成可视化系统
具有硒化锌元件的通用光学机顶盒和外部监视器上的集成可视化系统
它用于快速分析各种类型的固体和液体样品,包括聚合物颗粒、薄膜和纤维、粉状物质、油漆涂层碎片、燃料和润滑剂。 用于对所研究表面进行视觉检查的光学系统的存在增加了75x,确保了在处理小样品时的高效率-薄纤维的碎片,微粒等。 通用夹具配有一个精密杠杆机构,用于快速降低尖端和一个千分尺螺钉,允许您预先设置最佳的压力程度–这确保快速更换样品和测量结果的重复性。 为了方便处理液体和糊状样品,以及在ZDO模式下,可以将夹紧控制台旋转180o。该控制台配有两个可互换的尖端-一个球形工作部件和一个平铰头。 替换表用于登记镜面和漫反射光谱。 样品位于被调查表面的被调查平面上向下,中心光束在样品上的入射角为45°。 该方法用于测定表面光学零件、晶体、薄膜的光谱特性,以及对大型固体物体的吸收光谱进行配准。 在频谱的工作范围内传输,输入信号的%至少为30 配准光谱时推荐的扫描次数为25 25次扫描时的频谱配准时间(分辨率4cm-1),sec30 辐射穿透样品的深度,微米5–15 固体样品的最小面积,mm0.2×0.2 所研究液体的最小体积,ml1 纤维样品的最小尺寸:截面直径/长度,mm0.1/1 衬底晶体材料ZnSe CVD,Ge 聚焦光斑直径,mm1 Zdo模式下辐射(中心光束)在样品上的入射角45o 微透镜的放大倍数/视觉通道的总放大倍数4X/75X 光学系统的视场,mm2X2.5 数码摄像机分辨率640x480 外形尺寸,mm150×150×260 重量,kg2.15 *允许您研究小尺寸的物体(从200微米-取决于材料的几何形状,表面质量和物理化学性质) *附件允许您在没有样品准备的情况下工作,使用配备颜色指示器的夹具固定调整样品上的压力 •由于带有NPVO元件的可拆卸法兰,提供了快速方便的样品更换和晶体表面清洁 •在给定的最佳接触力下,由于物质层的厚度不影响光谱的形状和吸收带的强度,该方法提供了高质量和可重复性的结果 *样品保留其原始物理和化学性质,如有必要,可以通过其他方法进一步研究
SIMEKS
Novosibirsk
生产于: 新西伯利亚
聚焦前缀MKF-Yu
聚焦前缀MKF-Yu
它允许记录尺寸为500微米的物体(宝石,光学部件,半导体材料)的透射光谱。 它也用于研究用KBr压缩成小直径片剂的样品(该方法便于粉状物质的光谱分析-前缀允许您使用手动压力机使用少量样品来制造片剂)。 *聚焦光斑直径小于3毫米 *设计采用抛物面镜光学 •机顶盒配有一组可更换的膜片支架,用于不同尺寸的样品 *窗户-由红外透明材料制成的衬底可以在粘贴、液体物质或提取物后放入支架中,然后干燥各层 *滑台具有垂直和水平方向平滑移动的可能性,以达到最大信号电平
SIMEKS
Novosibirsk
生产于: 新西伯利亚
KBr片座D13mm
KBr片座D13mm
它的目的是固定和安装到样品室的光谱仪插入模具的片剂与溴化钾直径13毫米,获得使用液压机。 它也可用于研究硒化锌(ZnSe)和硅(Si)窗口基板上的液体和糊状样品。
SIMEKS
Novosibirsk
生产于: 新西伯利亚
各种厚度和薄膜的固体样品的通用支架
各种厚度和薄膜的固体样品的通用支架
它用于记录中等大小和任意形状的固体样品–各种厚度的聚合物薄膜、光学部件、半导体晶片、大晶体等的透射光谱。 •由于快速释放螺母,它提供了方便的紧固样品
SIMEKS
Novosibirsk
生产于: 新西伯利亚
用于清洗氩气和其他惰性气体的装置惰性50
用于清洗氩气和其他惰性气体的装置惰性50
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惰性50是用于从氧气,氢气,氮气,碳氢化合物,一氧化碳和二氧化碳以及水分中净化(后处理)惰性气体(氩气,氖气,氦气,氪气,氙气)的装置。 氩气和其他惰性气体净化装置"惰性50"的操作是基于高温破坏含氧、含氢以及碳和含氮化合物的过程,其随后被温度活化的吸附剂和分子筛吸收。 该装置是为制备工艺装置和房间、密封室(箱)、气相色谱仪、发射吸收光谱仪等对惰性气体质量要求较高的研究和生产设备而设计的。
Iskrolajn
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
石油产品中硫的波色散分析仪ASV-2
石油产品中硫的波色散分析仪ASV-2
ASV-2波色散硫分析仪用于测量汽油(无铅)、柴油、石油、煤油、油渣、润滑油基、液压油、喷气燃料、原油及其他馏分石油产品中硫的质量分数。 ASV-2分析仪允许您在测量室的真空模式和氦气吹扫模式下执行硫检测功能。 为此,该设备配备了一组附件,用于将分析仪连接到氦站。
Burevestnik
municipal district of Kolomyagi
生产于: 圣彼得堡
测试液层厚度可调的液体比色皿
测试液层厚度可调的液体比色皿
以安装在FT-801光谱仪的比色皿隔室中的光学-机械附件的形式制成具有所研究液体的可调层厚度的液体比色皿。 它包含聚焦光学器件,两个直径为10mm的窗口基板的可拆卸支架和放置在控制台外壳的上面板上的两个调节螺钉,旨在设置窗口之间所需的间隙。 任何粘度程度的液体以小滴的形式预先施加到下部窗口,然后,在窗口平滑收敛的过程中,均匀地填充它们之间的间隙。 通过旋转调节螺钉并在线观察透射光谱,用户有机会设置所需的液体层厚度,由整个光谱的整体强度或由特定吸收带的强度引导。 在存在校准(使用ZaIR3.5程序对已知浓度的多个样品易于创建)的情况下,比色皿可进行定量测量。 比色皿在分析含有小比例杂质的混合物时是必不可少的。 技术规格 在频谱的工作范围内传输,输入信号的%至少为50 配准光谱时推荐的扫描次数为16 16次扫描时的频谱配准时间(分辨率4cm-1),sec20 研究液体的最小体积,mm31 焦点的直径,mm3 外形尺寸,mm200×90×160 重量,公斤1,1 该图显示了粘性润滑剂"Buxol"的几个光谱,说明了在窗口之间选择样品层厚度的过程。 测量过程具有较高的表达性和再现性,采用廉价的可更换衬底窗,系统易于配置和清洁,需要极少量的样品以获得高质量的光谱。
SIMEKS
Novosibirsk
生产于: 新西伯利亚
分光光度检测器 UVV-105
分光光度检测器 UVV-105
UVV-105 分光光度检测器既可用于常规分析,也可用于完成相当复杂的分析任务,包括微量分析和制备色谱分析。 技术特点 光源 氘灯 卤素灯 工作波长范围 190 - 600 纳米 波长设置精度 ±1 nm 波长设置重复性 ±0.5 nm 零信号波动噪声(测试比色皿,254 nm) 1-10-6 E.O.P. 零信号漂移(测试比色皿,254 纳米) 1-10-4 E.O.P./h. 检测限(苯酚) < 6-10-10 г 标准比色皿 AC 05(体积/光程) 8 微升/5 毫米 时间常数 0.5;1.0;1.5 c 液路材料、 AC 05 比色皿 * PTFE, Vespel, SS 316、 熔融石英 入口和出口配件、 比色皿 AC 05 毛细管 1/16" 外径 运行时间 45 分钟 可进行远程微处理器软件更新 接口 Akvilon BUS、RS-232、 USB、模拟输出 电源、电压/频率 220 伏/50 赫兹,110 伏/60 赫兹 功耗,不超过 80 VA 外形尺寸(高、宽、深) 210x330x300 毫米 重量 11 千克
Akvilon
Podolsk
生产于: 莫斯科地区, 波多利斯克
火焰光谱仪"孔雀"
火焰光谱仪"孔雀"
火焰光谱仪设计用于快速测定技术解决方案中钠,锂,钾,钙,钡,铯,铷的广泛浓度(高达8个数量级)。 原子的激发发生在空气-乙炔火焰中。 该装置由带火焰控制的三狭缝燃烧器,气动喷雾器,喷雾室,进入Kolibri-2光谱仪的光辐射输入系统和自动空气和乙炔供应系统组成,具有控制和调节气体流 由于外部火焰层,使用三狭缝燃烧器可以提高燃烧器中央狭缝的火焰温度。 这使得可以测定低浓度的钙和钡。 与此同时,仍然可以在不堵塞燃烧器槽的情况下确定高浓度溶液中的杂质。 光谱仪的照明系统是镜面透镜,能够从火焰两侧收集光辐射,并将其引入多色器。
生产于: 新西伯利亚