搜索

入门级扫描探针显微镜(SPM) 沿X、Y、Z轴进行平面平行扫描，可以获得表面的图像，并以最小的失真和信息损失进行后续的图像编辑; 扫描头的开放式设计允许以0-90°的角度观察测试样品的表面，安装额外的装置和设备; 模块化配置可以将Certus Light扫描探针显微镜安装在传统的光学显微镜上（直立式或倒置式），并与光学仪器相结合，升级为Certus标准版、Certus光学版和Centaur版本

紧凑的尺寸 全自动化系统 原创光谱仪设计 装置具有最小光学损失的高亮度 共焦电路根据原始设计图制成，提供了紧凑的尺寸和光学元件的最小漂移 内置的光学显微镜提供寻找测量点的简单方法 设计中使用了精密的机械部件和光学元件. 它既可用于工业实验室，也可用于研究型大学。

筛分分析仪旨在确定样品制备过程中的粒度分布。产生一定幅度的高频冲击的元件是振动驱动；执行机构 - 一组带有托盘和盖子的筛子，根据确定颗粒尺寸等级的要求而形成。

设计用于通过经典光学显微镜，共焦激光显微镜，共焦光谱学和扫描探针显微镜（原子力显微镜）的方法对物质表面的特征进行复杂的研究。 它可以获得完整的拉曼（Raman或Raman CR）散射和/或荧光光谱、共焦激光和共焦光谱图像（表面绘图）和SPM（AFM）图像。 Centaur u的设计可以使用单独的技术（例如，共焦显微镜/光谱学）和技术的组合（包括联合扫描场，AFM/拉曼研究等）。

扫描探针显微镜（SPM），配备专用的探针支架和必要的光学设备，用于近场研究。 近场光学显微镜是基于利用近场（蒸发场）的特性，来克服经典光学显微镜的衍射限制。 所有近场显微镜都包含几个基本设计元素: 探针; 沿着二维(X-Y)或三维(X-Y-Z)在样品表面移动探针的系统(扫描系统); 注册系统; 光学系统。

NT-MDT光谱仪器是为红外光谱范围设计的INTEGRA纳米红外散射扫描近场光学显微镜（r–扫描进场显光学显微镜）。 原子力显微镜探针位于光学系统的焦点中，该光学系统将IR激光辐射引导到样品并收集光学响应。 收集到的辐射被送到迈克尔逊干涉仪进行光学分析。 通过同步检测抑制采集信号的远场分量。 INTEGRA Nano IR系统允许检测近场信号的幅度和相位。 产生的反射和吸收对比的空间分辨率约为10nm，仅由探针尖端的大小决定。

扫描探针显微镜 Certus Light V是扫描探针显微镜的一个紧凑版本，具有最低的功能和成本。 与基本版本Certus Light的主要区别在于样品扫描和更精确的供应系统。 该设备由读取悬臂状态的磁头，多功能平面扫描仪，供应系统和磁头安装组成。 该装置的操作是直接由主体中内置的最小配置的电子控制的，即该设备是单体设备。它可以通过平板电脑使用Android操作系统的专用软件进行远程控制。

平面平行扫描压电片。 该装置是一个整体的金属体（由优质合金制成，通常是铝），其中压电陶瓷致动器、可移动工作台元件等的通道是通过电蚀和其他精密加工方法形成的。这种设计提供了出色的线性和运动的平面性，不同于传统的压电扫描仪，后者的扫描面是一个球体。此外，与脆弱的压电管相比，平面平行扫描器在机械上很坚固。

用于 CVD 和 ALD 前体的不锈钢圆筒附有制造商的个人护照。 不锈钢钢瓶专为 CVD 和 ALD 试剂及前体而设计。气缸采用电化学抛光不锈钢制成，粗糙度小于 1 Ra。 内表面和焊缝是专门针对腐蚀性前体而准备的。气密性由氦检漏仪控制。 整套起泡器根据客户的规格确定，包括适配器和隔膜阀。 重量，公斤：0.8 最大工作压力，MPa：6.8 工作体积，毫升：50 总体积，毫升：75 起重能力m3/h（Kv）：0.28 工作温度范围，°C：-62 至 315 高度取决于配置，毫米：230 气缸宽度/包括阀门的宽度，毫米：38/69。

Vectus单轴滑台的设计是为了沿单轴移动和定位各种设备 特别是沿光轴移动透镜，来改变样品表面或样品体积内物体的焦点位置。 此外，这种移位是三维共聚焦显微镜的基本要素。 结合在XY平面中操作的双轴运动，这种系统能够获得各种物体的完整的三维共焦图像。

振动筛是按粒度等级连续筛分散装物料的装置. 产生具有一定振幅的高频往复螺杆振动的元件是具有不平衡振动器的振动驱动器。 筛分直接在筛网（甲板）上进行，筛网的数量和筛布细胞的大小由技术任务设定。