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用于记录时间分辨率为1ms的原子发射光谱的MAES分析仪基于高灵敏度光电二极管和用于同时读取光谱的多个部分的特殊开关板。 标尺的组装安装在"Grand"光谱仪上。 为了激发粉末样品的原子发射光谱，使用"流"装置或双射流电弧等离子体激元。 ATOM软件注册选定的谱线，并根据指定的算法提供它们的处理，同时考虑到闪光的数量和亮度（即颗粒大小）。 以大的时间分辨率记录粉末样品的光谱，可以估计单个颗粒的数量和大小，识别它们的组成并确定每个颗粒中元素的浓度，迅速评估要确定的某些元素分布的均匀性，并在样品制备过程中不发生重大变化的情况下扩大光谱分析的可能性。 主要应用领域: 通过闪烁对粉末地质样品进行质量分析，以确定金，银，铂族金属，铱，铑等。 检出限高达0.01g/t; 内含物和矿物颗粒组成的定性测定。

KM-04碳测定仪用于油井地质技术研究站和石油物理实验室，用于污泥和岩心的研究，也用于测定土壤碳酸盐含量和碳酸盐原料的质量控制。 碳测定仪被设计与个人计算机一起工作。 测量数据由Carbon程序处理，该程序随设备提供，并在Windows XP，7环境中运行。 KM-04设备是KM系列的碳测定仪的基本模型。 该产品具有认证的验证程序MP 21-251-2012和SSGP 01.1.1-194合格证书.

MAES分析仪是测量谱线强度，然后计算要确定的元素浓度的现代工具。

淤浆孔隙度和密度分析仪设计用于确定污泥和压碎岩心碎片的外部体积、密度和开放孔隙度，以及确定钻井泥浆、油和储层流体的比重（当使用比重计时）。

UKS-4装置用作油井地质和技术研究站的一部分。 在每个干燥室中分别控制干燥过程中污泥的温度。 UKS-4设备提供四个图象的同时干燥。

对辊式破碎机利用位置可调的旋转辊来破碎各种硬质材料。可以使用辊式破碎机进行细碎。我们的设备用于研究、科学和生产实验室，以及工业用途 - 用于生产各种产品。由于相对简单的机构和高效的破碎原理，辊式破碎机具有可靠性高、可维护性好的特点。现代辊式破碎机具有调节进料速度的系统。

行星式研磨机 MPP 1-4 设计用于使用干法或湿法以周期性模式将不同强度和硬度的材料研磨至精细分散状态。该模型由 VIBROTECHNIK 公司根据设计文档并在其开发商 V.G. 的监督下制作。科赫涅娃。 在行星式研磨机中，研磨是由于球运动过程中的冲击破坏以及磨损（同时压缩和剪切变形）而发生的。破碎物料的大小取决于磨机的运行时间、物料的物理性质、转鼓的装载量以及磨球的装载量。

搅拌筒是一个与水平面成 30 至 60 度角的圆柱体，由不锈钢制成。与 45 号钢部件相比，不锈钢部件在磨损情况下的使用寿命可长达八倍。根据设计和尺寸的不同，滚筒可以拆卸。滚筒旋转时，物料颗粒以不同的速度和轨迹相对移动，从而产生混合。因此，混合物的均匀度很高。变频调速器可改变滚筒转速，从而调整搅拌机以适应不同的任务。滚筒清洁简单方便，可靠性高，无 "死区"（与螺杆和桨叶式搅拌机不同）。 设备特点 品牌桶容积（升） 件尺寸，不超过（毫米） 混合机构。 尺寸 长 x 宽 x 高***，不超过（毫米） 重量不超过***（千克） SPB-1 1 3 3-10 25-60 干湿 0.37, 220/380 670x575x600 65 SPB-2 2 3 0.37, 220/380 670x575x600 65 SPB-3 3 5 0.37，220/380 670x575x600 65 SPB-5 5 5 0.37，220/380 670x575x600 65 SPB-8 8 6 0.55 220/380 670x575x600 80 SPB-10 10 6 0.55，220/380 670x575x600 80 SPB-20 20 15 0.75, 220/380 1100x900x900 90 SPB-30 30 15 15 0.75，220/380 1100x900x1000 90 SPB-30Ok 30 15 15 0.75, 220/380 1100x900x1000 110 SPB-40 40 20 1.1, 220/380 1290x1300x1000 130 SPB-40 Ok 40 20 20 1.1, 220/380 1290x1300x1000 155 SPB-50 50 20 1.1, 220/380 1290x1300x1230 150 SPB-50 Ok 50 20 1.1, 220/380 1290x1300x1300 180

技术规格: 双通道电探针的主要参数由GOST19912-2012规范，其中显示了探针的几何尺寸和测量土壤电阻指标的基本误差的要求。 A2/350探头是模拟设备。 测量锥体上的力和探头的摩擦耦合的允许范围由它们的设计特征决定。 A2/350探头没有安装测斜仪。 根据GOST19912-2012，第5.2.4条：当测试土壤深度超过10m时，应使用配备测斜仪的探头，其读数必须用于确定探测的实际深度并防止探头故障。 如果需要探测深度超过10米，我们建议使用K4M套件。 TEST-K2M套件中使用的探针的主要参数 探头类型根据GOST19912-2012electric 锥形底座直径，mm35.7 顶部的角度，60度 摩擦联轴器的直径，mm35.7 摩擦离合器长度，mm310 摩擦耦合面积，cm2 350 土壤电阻率沿锥测量范围，MPa0.2–50 摩擦耦合测量土壤电阻率范围，kPa3-571 测量土壤比电阻的基本误差不超过5% 记录式双通道测量装置TEST-K2M设计用于测量应变片半桥的不平衡，放大和数字化信号，显示测量结果，将其存储在内存中并传输到计算机进行处理。