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扫描探针显微镜（SPM），配备专用的探针支架和必要的光学设备，用于近场研究。 近场光学显微镜是基于利用近场（蒸发场）的特性，来克服经典光学显微镜的衍射限制。 所有近场显微镜都包含几个基本设计元素: 探针; 沿着二维(X-Y)或三维(X-Y-Z)在样品表面移动探针的系统(扫描系统); 注册系统; 光学系统。

NT-MDT光谱仪器是为红外光谱范围设计的INTEGRA纳米红外散射扫描近场光学显微镜（r–扫描进场显光学显微镜）。 原子力显微镜探针位于光学系统的焦点中，该光学系统将IR激光辐射引导到样品并收集光学响应。 收集到的辐射被送到迈克尔逊干涉仪进行光学分析。 通过同步检测抑制采集信号的远场分量。 INTEGRA Nano IR系统允许检测近场信号的幅度和相位。 产生的反射和吸收对比的空间分辨率约为10nm，仅由探针尖端的大小决定。

扫描探针显微镜 Certus Light V是扫描探针显微镜的一个紧凑版本，具有最低的功能和成本。 与基本版本Certus Light的主要区别在于样品扫描和更精确的供应系统。 该设备由读取悬臂状态的磁头，多功能平面扫描仪，供应系统和磁头安装组成。 该装置的操作是直接由主体中内置的最小配置的电子控制的，即该设备是单体设备。它可以通过平板电脑使用Android操作系统的专用软件进行远程控制。

平面平行扫描压电片。 该装置是一个整体的金属体（由优质合金制成，通常是铝），其中压电陶瓷致动器、可移动工作台元件等的通道是通过电蚀和其他精密加工方法形成的。这种设计提供了出色的线性和运动的平面性，不同于传统的压电扫描仪，后者的扫描面是一个球体。此外，与脆弱的压电管相比，平面平行扫描器在机械上很坚固。

Vectus单轴滑台的设计是为了沿单轴移动和定位各种设备 特别是沿光轴移动透镜，来改变样品表面或样品体积内物体的焦点位置。 此外，这种移位是三维共聚焦显微镜的基本要素。 结合在XY平面中操作的双轴运动，这种系统能够获得各种物体的完整的三维共焦图像。

设计用于通过经典光学显微镜，共焦激光显微镜，共焦光谱学和扫描探针显微镜（原子力显微镜）的方法对物质表面的特征进行复杂的研究。 它可以获得完整的拉曼（拉曼或拉曼散射）散射和/或荧光光谱，共焦激光和共焦光谱图像（表面绘图），扫描探针显微镜（AFM）图像。 Centaur Duos的设计允许使用单独的技术（例如，共焦显微镜/光谱学）以及技术的组合（包括联合扫描场、AFM/拉曼研究等)

它的设计用于通过光学显微镜，光谱学和扫描探针显微镜对表面性质的复杂研究。 它能够获得完整的拉曼散射和/或荧光光谱、共焦激光和共焦光谱图像（表面绘图）以及SPM图像。 Centaur I HR的设计既允许使用单独技术（如原子力显微镜），也允许组合技术（AFM-拉曼、共焦激光和AFM）。

设计用于通过经典光学显微镜，共焦激光显微镜，共焦光谱学和扫描探针显微镜（原子力显微镜）的方法对物质表面的特征进行复杂的研究。 它能够获得完整的拉曼（拉曼或拉曼散射）散射和/或荧光光谱、共焦激光和共焦光谱图像（表面绘图）以及SPM图像。 Centaur I 的设计既允许使用单独技术（如原子力显微镜），也允许组合技术（AFM-拉曼、共焦激光和AFM）.

NTEGRA Spectra II已经是第二代测量系统，成功地展示了两个世界的统一：原子力显微镜和拉曼光谱。 从浮雕映射到二维光谱分析，从电气和机械性能的研究到分辨率低于衍射极限的光学测量。 现在科学家可以一次对样品的表面性质进行完整的物理化学分析。 因此，研究人员获得了发展实验室技术的无限机会。

EG5000是最新EG电子控制器。 设计用于控制所有型号的扫描探针显微镜和纳米定位设备。其主要的显著特点是： 使用功能强大的FPGA Cyclone V，使数据处理和控制信号输出更快。。 内置的PC与Linux操作系统，安装你统一系统的软件，避免安装和更新软件时的困难。

扫描探针显微镜（SPM）与直接和倒置研究级的光学显微镜相结合。 专设计用于光学和原子力显微镜研究。 Certus 是XYZ三维扫描探针显微镜头，用于获取AFM图像（一般为地形）和/或将探针可以定位在样品表面; Ratis是定位和扫描装置(XY(Z)piezostolic) 显微镜视野追踪样品定位和/或扫描样品; 正置光学显微镜（Olympus BX51为标准配置），用于显示研究对象并将探针指向研究对象或追踪样品定位在显微镜视野中; 倒置光学显微镜（Olympus IX71为标准配置），用于显示研究对象并将探针指向研究对象或追踪样品定位在显微镜视野中; 镜头机械Z字行运动; 用于Vectus镜头的单轴压电运动，可实现更高的聚焦精度、自动聚焦和获得分层宽场3d图像; 样品定位装置，用于选择表面上或在体积中的某个区域; EG-3000单个控制器，控制该系统的所有部分; NSpec软件。