搜索

干燥器 2-210 mm Primelab 旨在将内容物与外部环境隔离，并防止因缺少水龙头而受潮。 由于干燥器由深色玻璃制成，可防止内容物直接暴露于紫外线。 主要优点： • 坚固可靠的设计； • 使用方便; • 精确调节储存条件。 尺寸：干燥器直径为210毫米，高度为275毫米

该机顶盒与NPVO和ZDO的通用机顶盒的主要区别在于棱镜用作MNPVO的工作元件，它允许从与所研究样品接触的区域获得多次反射，这导致光谱质量的改善和 此机顶盒上未提供镜面和漫反射光谱(ZDO)的配准。 MNPVO前缀在记录尺寸（数量）足以确保与棱镜工作面的整个区域接触的样品的吸收光谱方面是有效的: *任何粘度的液体（溶液、悬浮液、油等）); *固体弹性样品（足够大尺寸的聚合物碎片，橡胶，塑料等。); *粉末状样品的数量足以应用于整个表面和薄膜形式的样品; 通用夹具配有一个精密杠杆机构，用于快速降低尖端和一个千分尺螺钉，允许您预先设置最佳的压力程度–这确保快速更换样品和测量结果的重复性。 为了方便处理液体和糊状样品，可以将夹紧控制台旋转180o。 注意：MNPVO前缀不排除记录尺寸小于棱镜工作面积的样品光谱的可能性（所研究表面的视觉检查系统的存在增加了处理小尺寸物体时的便利性），但该方法的总体有效性明显低于使用通用NPVO和ZDO前缀时。 在频谱的工作范围内传输，输入信号的%至少为25 *配准光谱时建议扫描次数为25次 *25次扫描（分辨率4cm-1）时的频谱配准时间，30秒 *辐射穿透样品的深度，微米5–15 *固体样品的最小面积，mm21 ·测试液体的最小体积，ml0.3 *分析对象的允许pH范围为5至9 *晶体衬底材料ZnSe CVD,Ge *焦点直径，mm3 *反射次数3 *棱镜工作面的尺寸，mm21X6 ·4x微型镜头的放大倍数 *视觉通道总放大率75X *光学系统的视场，mm2X2.5 *数码摄像机分辨率640x480 *外形尺寸，mm145×125×240 *重量，公斤2

小型红外傅里叶光谱仪，具有集成机顶盒和两个探测器，包括高度敏感的冷却MST。 工作模式：传输和反射，NIP，测量使用光纤探针（可能的版本与一个或两对内置连接器）。 可以连接红外显微镜，望远镜来记录外部辐射的光谱。 该光谱仪可用作便携式光谱仪，除其他外，还可用于技术过程的快速监测、储罐和管道中液体的质量控制、生物对象在线分析、远程气体分析等。 该装置旨在在各种材料上创建高质量图像，并提供橡胶陈词滥调密封件和邮票的生产，分辨率至少为1800dpi。

资料描述

它是在创新的Shtrik平台的基础上创建的，该平台基于独特的控制系统，其硬件和软件完全由我们公司的专家开发。
该装置旨在在橡胶，金属，塑料等材料上创建高质量图像，并提供至少1800dpi分辨率的陈词滥调印章和邮票的制作。
在安装中使用的光纤激光器与镀锌扫描仪系统相结合，可确保在静态模式下进行高质量的雕刻，不需要水冷却和特殊维护。
在组装系统时，只使用经过测试和认证的部件，这保证了特别长的使用寿命，而无需额外的投资。

特征:

一种用于样品的双坐标高精度定位系统，借助该系统可沿X、Y轴移动物体工作台。 由于定位系统和图像片段的顺序雕刻，可以根据操作员设定的加工程序在自动模式下以高精度加工尺寸高达200×300mm的工件;
使用用于沿Z坐标移动扫描头的高精度机构的自动逐层雕刻的算法允许您在金属工件（钢，黄铜，铝，钛等）中形成深达5mm的高度详细的3D图像。);
由于采用了自动算法，无需操作员参与，即可对深度3d图像进行长时间的逐层雕刻（可能需要数十小时）;
该装置配备了一个内置系统，用于从激光辐射暴露区去除gorenje产品，因此确保了扫描镜头不受生产产品的气味和保护，这在雕刻橡胶和塑料时尤为重要;
安装体完全复盖激光辐射的加工和传播区域，在安装外壳关闭的情况下，根据操作员设定的程序进行雕刻。 这种安装设计允许它归因于危险等级1的激光设备。

它用于记录中等大小和任意形状的固体样品–各种厚度的聚合物薄膜、光学部件、半导体晶片、大晶体等的透射光谱。 •由于快速释放螺母，它提供了方便的紧固样品

单通和多通比色皿用于气体混合物的定性和定量分析。 多通比色皿的使用使得可以自信地检测所研究气体中极小浓度的组分（小于ppm单位）。 •提供三种比色皿: 1. 单通道，行程长度为100毫米，玻璃体和窗户由ZnSe、KBr、NaCl制成 2. 多通，光束行程长度可达几十米 3. 多通，光束行程长度可达几十米，配有工作腔的加热系统，最高可达200°C和热控制器 多通比色皿具有由石英玻璃制成的透明工作腔；具有金(99.999)涂层的反射镜在IR区域提供至少98%的反射系数；此外，比色皿可配备压力和温度传感器、用于控

UVV-105 分光光度检测器既可用于常规分析，也可用于完成相当复杂的分析任务，包括微量分析和制备色谱分析。 技术特点 光源 氘灯 卤素灯 工作波长范围 190 - 600 纳米 波长设置精度 ±1 nm 波长设置重复性 ±0.5 nm 零信号波动噪声（测试比色皿，254 nm） 1-10-6 E.O.P. 零信号漂移（测试比色皿，254 纳米） 1-10-4 E.O.P./h. 检测限（苯酚） < 6-10-10 г 标准比色皿 AC 05（体积/光程） 8 微升/5 毫米 时间常数 0.5；1.0；1.5 c 液路材料、 AC 05 比色皿 * PTFE, Vespel, SS 316、 熔融石英 入口和出口配件、 比色皿 AC 05 毛细管 1/16" 外径 运行时间 45 分钟 可进行远程微处理器软件更新 接口 Akvilon BUS、RS-232、 USB、模拟输出 电源、电压/频率 220 伏/50 赫兹，110 伏/60 赫兹 功耗，不超过 80 VA 外形尺寸（高、宽、深） 210x330x300 毫米 重量 11 千克

R1064® 便携式拉曼光谱分析仪 "Inspector "是一款用于快速检测液体和固体的仪器。

它允许记录尺寸为500微米的物体（宝石，光学部件，半导体材料）的透射光谱。 它也用于研究用KBr压缩成小直径片剂的样品（该方法便于粉状物质的光谱分析-前缀允许您使用手动压力机使用少量样品来制造片剂）。 *聚焦光斑直径小于3毫米 *设计采用抛物面镜光学 •机顶盒配有一组可更换的膜片支架，用于不同尺寸的样品 *窗户-由红外透明材料制成的衬底可以在粘贴、液体物质或提取物后放入支架中，然后干燥各层 *滑台具有垂直和水平方向平滑移动的可能性，以达到最大信号电平

设计用于制备直径为3.5mm的压缩片剂形式的样品，由测试物质与微晶溴化钾（KBr）的混合物组成。 -设备的运作的原则根据创造压的必要的压力由于一个机械杠杆系统 -压力机采用优质合金硬化钢制成 -制造直径为3.5毫米的片剂时，需要最少量的测试物质及KBr -对于在傅里叶光谱仪上研究成品样品，使用垂直或水平微聚焦前缀

它用于使用红外显微镜和镜面反射前缀检查样品时的样品制备。 允许您将薄层（高达几微米）塑造成各种物体：聚合物碎片，LCP的微粒，粉状物质，纤维等。 由合金钢制成的镜板上产生的薄层通过双透射法进行研究-当已经穿过物质层的辐射从板的表面反射并再次穿过物质时。 用这种方法记录的光谱与例如用KBr压制物质后获得的透射光谱完全相同。 在这种情况下的优点是: -样品制备速度 -无需使用液压和手动压力机和模具，研磨砂浆等。 -无需使用高纯度KBr或凡士林油 -样品不会丢失，如有必要，可以通过其他方法进行检查 -当使用IR显微镜时，可以"扫描"所得薄层以选择最具信息性的区域，并且如果该层在组成上是异质的，则可以获得其组分的光谱特征。

它用于研究用KBr压缩成小直径片剂的样品（该方法便于粉状物质的光谱分析-前缀允许您使用手动压力机使用少量样品来制造片剂）。 *聚焦光斑直径小于3毫米 *设计中使用抛物面镜光学 *窗口-基板可以放置在前缀后，糊状，液体物质或提取物施加到他们，然后干燥的层 *使用有限–用于研究尺寸小于5毫米的整个样品（最好使用垂直型微聚焦附件）

它设计用于通过在集成和外部监视器上同时可视化微物体的干扰全内反射方法以及在样品上部位置入射角为45o的镜面漫反射方法进行测量。 单个NIP模式中的前缀用于登记吸收光谱: 任何粘度的液体(溶液、悬浮液、油等).)，包括具有高化学活性的那些; 任意形状的固体物体，包括具有非常高硬度的样品（任何聚合物，油漆涂层的碎片等。); 粉状物质，包括具有非常高硬度的粉末（药物，药品，爆炸物，无机化合物）; 薄膜形式的样品; 纤维形式的样品。 金刚石的最大硬度和耐化学性显着扩展了该方法的可能性;不需要定期更换晶体。 机顶盒允许您注册光谱，而无需耗时的样品制备，并且具有高品质摄像机和内置高清微型监视器的研究表面视觉检测系统的存在提高了处理小样品时的效率-细纤维碎片，微粒等。 内置监视器具有数字10倍变焦，反相等功能。 图像可以同时显示在计算机屏幕上（使用USB接口），然后保存为文件。 可拆卸法兰提供了一个快速和方便的样品更换和清洁晶体表面。 在NPVO的基础平面上方突出金刚石元件的设计允许您研究具有足够大的整体尺寸的样品。 由于没有物质层厚度对光谱形状和吸收带强度的影响，结果的高质量和可重复性得以实现。 样品保留了其原始的物理化学性质，如果需要，可以通过其他方法进一步研究。 通用附件夹配有一个精密杠杆机构，用于快速降低尖端和一个千分尺螺钉，允许您预先设置最佳的压力程度–这确保快速更换样品和测量结果的重复性。 为了方便处理液体和糊状样品，以及在ZDO模式下，可以将夹紧控制台旋转180o。该控制台配有两个可更换的尖端-一个球形工作部件和一个平铰头。 金刚石的高硬度允许使用大的夹紧力，这是获得高质量光谱的决定因素。 替换表用于登记镜面和漫反射光谱。 样品向下位于被调查表面的被调查平面上。 该方法用于测定光学零件、表面薄膜、晶体和其他任意形状和大小的大型固体物体的光谱特性。