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双射流电弧等离子炬"火炬"
双射流电弧等离子炬"火炬"
等离子体炬设计用于粉末样品的直接原子发射光谱分析。 原子的激发发生在直流氩弧等离子体中。 弱基质影响和低检出限使得可以使用这种激发源分析各种样品,包括矿物基质和有机基质。
生产于: 新西伯利亚
固定式氢气流量计 AVP-01T
固定式氢气流量计 AVP-01T
"AVP-01T 分析仪配有流量测量室,用于测量液体流动中的氢浓度和温度。它们可用于热电和核电工程中水和化学处理过程的分析控制和管理:CHPP、GRES、NPP、供热网络和锅炉房。 AVP-01T 分析仪用于控制技术设备的高温腐蚀过程。 分析仪还用于化工、炼油工业和国民经济的其他领域"。
生产于: 莫斯科
便携式氢气测量仪 AVP-02GM
便携式氢气测量仪 AVP-02GM
"AVP-02GM 气体分析仪设计用于测定气体介质中的氢浓度和/或氢分压。 AVP-02GM 气体分析仪可用于热能和核能工程、化工、炼油和汽车行业以及军工企业。在热能和核电工程中,AVP-02GM 用于测定电解室、发电机冷却系统、液态核废料罐中的氢气 "泄漏",以及监测工业区的空气成分,以确保防火防爆的安全生产条件。 AVP-02GM 分析仪用于化工和炼油行业,对有机和无机化合物合成、石油裂化、聚乙烯等化学工艺过程中的氢浓度进行工业控制。 AVP-02GM 分析仪配有内置微型压缩机,可以在排放和超压情况下自动从烟囱、井、锅炉、蓄水池、储罐和容器中对分析气体进行采样"。
生产于: 莫斯科
OPTOGAZ-500.4C-CO,CO2 (大气中CO和CO2的固定式分析仪)
OPTOGAZ-500.4C-CO,CO2 (大气中CO和CO2的固定式分析仪)
“OPTOGAZ-500.4”分析仪是一种自动连续指示装置,设计用于测量大气和工作区域空气中二氧化碳的浓度。
OPTEK
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
用于闪烁的MAES分析仪
用于闪烁的MAES分析仪
用于记录时间分辨率为1ms的原子发射光谱的MAES分析仪基于高灵敏度光电二极管和用于同时读取光谱的多个部分的特殊开关板。 标尺的组装安装在"Grand"光谱仪上。 为了激发粉末样品的原子发射光谱,使用"流"装置或双射流电弧等离子体激元。 ATOM软件注册选定的谱线,并根据指定的算法提供它们的处理,同时考虑到闪光的数量和亮度(即颗粒大小)。 以大的时间分辨率记录粉末样品的光谱,可以估计单个颗粒的数量和大小,识别它们的组成并确定每个颗粒中元素的浓度,迅速评估要确定的某些元素分布的均匀性,并在样品制备过程中不发生重大变化的情况下扩大光谱分析的可能性。 主要应用领域: 通过闪烁对粉末地质样品进行质量分析,以确定金,银,铂族金属,铱,铑等。 检出限高达0.01g/t; 内含物和矿物颗粒组成的定性测定。
生产于: 新西伯利亚
测量室
测量室
"ICPG "是一个用于分析气体流量的测量室。在这种设计中,传感器通过环 3 密封,当拧紧螺母 1 时,环 3 会被压碎。测量室本身安装在支架 4 上。连接配件专为内径 6 毫米的管道设计。ICPG 的直径为 24 毫米,长度为 130 毫米。 ICPG 是用于分析液体流量的测量室。这种测量室的设计与 ICPG 不同,在测量室的下部装有单向阀。 测量室配有内径为 6 毫米的 PVC 管。 ICMA - 用于微量分析的测量室。安培传感器 1 安装在测量室的外壳 2 中,并用螺母 3 固定。拧紧螺母 3 后,传感器的敏感部位通过密封橡胶帽 4 密封。入口接头 5 和出口接头 6 分别用于输入待分析的样品。ICMA 可以测量微量液体(50 微升)和气体。该仪器还可用于血液微量样本的测量"。
生产于: 莫斯科
案头的绕射器"蜂鸟"
案头的绕射器"蜂鸟"
该装置旨在分析各种起源的多晶物体的相组成和结构状态。
Burevestnik
municipal district of Kolomyagi
生产于: 圣彼得堡
火焰光度计S-20-2
火焰光度计S-20-2
火焰光度计S20-2 型是一款全自动多元素火焰光度计,具有高灵敏度,可测定 Ca、K、Li、Na 和 Ba。 特点: - 微处理器控制 - 可同时测量 2 种元素(Na 和 K,Ba 可根据要求进行测量) - 可进行线性和二次曲线平滑处理 - 标准支持自动点火 - 断电时可自动切断气体 - 可储存复杂的校准曲线,所有量程均可使用 20 种标准物质 - 打印机输出 - 自动样品输入 - 压缩机
生产于: 莫斯科
汞氢化物发生器GRG-112,114
汞氢化物发生器GRG-112,114
它是原子吸收光谱仪KVANT.Z(KVANT-Z.ETA)的附加装置,测定光谱仪上汞的微量杂质。 技术特点 仪器的一般特征和计量特性 将发生器与原子吸收光谱仪 "KVANT.Z"(KVANT-Z.ETA)一起使用时,汞浓度测量结果的系统误差和均方根偏差(MSD)的相对值不应超过表1所示的数值。 表1 元素汞浓度,mcg/l均方根,%系统误差分量, % 汞0.16 20 0.8 4 8 表2 每次测定的样品消耗量不超过20毫升 每次测定还原剂消耗量1.0-1.5ml 发生器组成 发生器包括:汞基光谱灯; 一套替换零件; 一套备用零件; 汞测定指南; 试剂(双氯化锡); 10毫升手动分配器。
KORTEK
Moscow
生产于: 莫斯科
NEXT II
NEXT II
14 个高精度步进电机控制着显微镜的所有运动部件,而智能软件则模糊了光学成像和扫描探针显微镜成像之间的界限。 NEXT 提供从毫米全景光学图像到原子分辨率的连续放大,同时自动执行激光指向悬臂、样品定位、软方法和高级扫描探针显微镜技术配置等中间操作。
生产于: 莫斯科, 泽列诺格勒
通用光谱仪"Express"
通用光谱仪"Express"
光谱仪设计用于对工厂和研究实验室中的各种物质和材料(粉末,金属,溶液)进行定量和定性分析。 由于Paschen-Runge光学系统的垂直布置,光谱仪结构紧凑。 它由两台MAES分析仪组成,10行光电二极管安装在半径为520mm的圆上,一个非经典凹面衍射光栅,一个内置计算机的特殊工作台和一个光谱激发源。
生产于: 新西伯利亚