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设计用于通过经典光学显微镜，共焦激光显微镜，共焦光谱学和扫描探针显微镜（原子力显微镜）的方法对物质表面的特征进行复杂的研究。 它可以获得完整的拉曼（Raman或Raman CR）散射和/或荧光光谱、共焦激光和共焦光谱图像（表面绘图）和SPM（AFM）图像。 Centaur u的设计可以使用单独的技术（例如，共焦显微镜/光谱学）和技术的组合（包括联合扫描场，AFM/拉曼研究等）。

扫描探针显微镜 Certus Light V是扫描探针显微镜的一个紧凑版本，具有最低的功能和成本。 与基本版本Certus Light的主要区别在于样品扫描和更精确的供应系统。 该设备由读取悬臂状态的磁头，多功能平面扫描仪，供应系统和磁头安装组成。 该装置的操作是直接由主体中内置的最小配置的电子控制的，即该设备是单体设备。它可以通过平板电脑使用Android操作系统的专用软件进行远程控制。

纳米领域的跨学科研究：AFM +共聚焦拉曼+ SNOM + TERS SPM和共聚焦显微镜/拉曼散射光谱仪的集成。由于尖端增强了拉曼散射，因此可以以高达10 nm的分辨率进行光谱/显微镜

NTEGRA Prima是一款具备原子级分辨的高端科研型原子力显微镜。NTEGRA代表N个integration，即NTEGRA作为开放的原子力显微镜平台，在具备了形貌、电学、磁学、力学、刻蚀、操纵等SPM技术的同时，还能根据用户的潜在需求配备相应的部件或提供最佳的自由搭建空间。例如：近场光学、拉曼/荧光光谱联用、外加磁场、声学原子力等功能。得益于开放式平台的设计，这些功能只需要升级相应部件，无需更换基座、控制箱、软件等。大大提升了仪器的潜力，丰富了用户的科研手段！

NT-MDT S.I.展示了NTEGRA II，世界上最受欢迎的原子力显微镜的第二代。 由于附加功能和高级功能，它提供了前所未有的模块化和灵活性，成为研究人员的真正合作伙伴。 智能，快速，可靠，准确，无疑易于使用。 为了消除嘈杂环境的影响，NTEGRA II采用标准机柜，提供温度控制、声学和振动隔离。 这种组合揭示了NTEGRA II作为世界上最稳定的原子力显微镜的真实性质，提供小于0.2nm/min的温度漂移。

14 个高精度步进电机控制着显微镜的所有运动部件，而智能软件则模糊了光学成像和扫描探针显微镜成像之间的界限。 NEXT 提供从毫米全景光学图像到原子分辨率的连续放大，同时自动执行激光指向悬臂、样品定位、软方法和高级扫描探针显微镜技术配置等中间操作。

过使用内置的声学和振动隔离、热稳定、业界最佳灵敏度的光学配准系统以及探头扫描系统的独特设计，确保了最终的显示质量，从而在常规测量中实现原子分辨率。 在基本配置中，有 50 多种原子力显微镜技术可供使用，包括 HybriD 方法，它允许您进行所有尖端的纳米机械、电学和磁学研究。 ScanTronic™ 智能算法一键优化扫描参数，允许使用振幅调制方法进行完美的浮雕测量，而不考虑操作员的经验。 使用简单的用户界面自动检查多个样本，以创建逐点扫描脚本和存储采集图像的数据库。 以 1 微米 的定位精度在表面任意点控制尺寸最大为 200×200 mm、厚度最大为 40 mm 的样品。 广泛的定制选项：安装额外的光学设备、开发专用样品架、结合传输系统、根据客户要求进行测量和数据分析的自动化。

与研究级直接光学显微镜相结合的扫描探针显微镜（SPM） 专为光学和原子力显微镜研究而设计。 三维扫描探针显微镜头Certus，用于获取AFM图像（一般为结构研究）和/或根据样品表面调整探针的位置; 定位和三维扫描装置(Ratis)根据显微镜的视野调整样品的位置和/或扫描样品; 直接光学显微镜（有基本配置的Olympus BX51），用于显示研究对象并将探针指向研究对象或根据显微镜的视野调整样品的位置; 物镜进行机械Z型移动; Vectus镜头采用单轴压电运动，可实现更高的聚焦精度、自动聚焦和获得分层宽场三维图像; 样品定位装置可以在表面或体积中选择区域; EG-3000控制器来控制综合体的所有部分; NSpec软件。

NanoEducator II，尽管其紧凑和易于操作，支持原子力和扫描隧道显微镜的所有基本技术，因此它可以用于任何常规原子力显微镜和扫描隧道显微镜测量和科学研究中的实验。 例如，显示了各种科学应用中的一些实验的结果: 原子结构研究 金属纳米结构的研究 磁性结构的研究 聚合物物体的研究 生物对象的研究 碳纳米材料的研究

紧凑的尺寸 全自动化系统 原创光谱仪设计 装置具有最小光学损失的高亮度 共焦电路根据原始设计图制成，提供了紧凑的尺寸和光学元件的最小漂移 内置的光学显微镜提供寻找测量点的简单方法 设计中使用了精密的机械部件和光学元件. 它既可用于工业实验室，也可用于研究型大学。

EG5000是最新EG电子控制器。 设计用于控制所有型号的扫描探针显微镜和纳米定位设备。其主要的显著特点是： 使用功能强大的FPGA Cyclone V，使数据处理和控制信号输出更快。。 内置的PC与Linux操作系统，安装你统一系统的软件，避免安装和更新软件时的困难。

具有光学和原子力显微镜技术的复合型设备Certus Optic i，用于检查生物物体和聚合物薄膜。 三维扫描探针显微镜头Certus，用于获取AFM图像（一般为结构研究）和/或根据样品表面调整探针的位置; 定位和三维扫描装置(Ratis)根据显微镜的视野调整样品的位置和/或扫描样品; 经典的倒置光学显微镜，用于显示研究对象并将探针指向研究对象或根据显微镜的视野调整样品的位置； 样品定位装置可以在表面或体积中选择区域; EG-3000控制器来控制综合体的所有部分; NSpec软件。