搜索

63 商品
类​型
  • 已选择:
    用途
  • 已选择:
    名称
  • 已选择:
    公司
  • 已选择:
    原产地
  • 已选择:
    此外
筛选条件
  • 14
    用途
  • 15
    名称
  • 7
    公司
  • 6
    原产地
  • 此外
类​型
63 商品
红外傅里叶光谱仪FSM2211
红外傅里叶光谱仪FSM2211
实验室红外傅里叶光谱仪FSM2211专为近红外范围内的定量和定性研究而设计。 它具有光谱BIC分析方法的所有优点:接收数据的信息含量高,测量的速度和准确性,不需要样品的初步准备和人员的特殊培训。 波段在红外吸收光谱中的位置携带关于样品的定性组成的信息,而波段的强度允许其定量分析,即确定相应组分的浓度(或其它性质)。 这是使用校准模型完成的,该模型是吸收指数(透射)和组分浓度(样品的性质)之间的关系。 根据校准的结果预先计算校准模型,该校准模型包括用已知的(通过标准化学方法建立的)组分浓度或其他已知性质配准一批样品的光谱。 FSM2211光谱仪基于具有自补偿功能的迈克尔逊型干涉仪,不需要动态调整。
Infraspek
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
石英比色皿型SF
石英比色皿型SF
石英比色皿专为研究液体样品而设计,具有固定的光程长度。 它们特别用于通过IR吸收光谱(控制区域-2925cm-1)确定水中石油产品和液氨中石油的质量浓度。 SF型比色皿由KV品牌的光学石英玻璃制成。 它们配有由氟塑料制成的盖子。 光程长度1, 5, 10, 20, 30, 40 嗯
Infraspek
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
漫反射PDO的前缀
漫反射PDO的前缀
Prefix旨在与IR傅里叶光谱仪FSM一起测量光谱中近红外区域的散射表面和分散样品的漫反射光谱。
Infraspek
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
红外显微镜"MIKRAN"
红外显微镜"MIKRAN"
红外显微镜"MIKRAN"设计用于与IR傅里叶光谱仪"Infralum FT-801"一起工作。 光谱范围为6000-600cm-1(用显微镜和用液氮冷却的MST检测器)。 分辨率0.5,1,2,4,8cm-1(由傅里叶光谱仪的分辨率决定)
SIMEKS
Novosibirsk
生产于: 新西伯利亚
具有硒化锌元件的通用光学机顶盒和外部监视器上的集成可视化系统
具有硒化锌元件的通用光学机顶盒和外部监视器上的集成可视化系统
它用于快速分析各种类型的固体和液体样品,包括聚合物颗粒、薄膜和纤维、粉状物质、油漆涂层碎片、燃料和润滑剂。 用于对所研究表面进行视觉检查的光学系统的存在增加了75x,确保了在处理小样品时的高效率-薄纤维的碎片,微粒等。 通用夹具配有一个精密杠杆机构,用于快速降低尖端和一个千分尺螺钉,允许您预先设置最佳的压力程度–这确保快速更换样品和测量结果的重复性。 为了方便处理液体和糊状样品,以及在ZDO模式下,可以将夹紧控制台旋转180o。该控制台配有两个可互换的尖端-一个球形工作部件和一个平铰头。 替换表用于登记镜面和漫反射光谱。 样品位于被调查表面的被调查平面上向下,中心光束在样品上的入射角为45°。 该方法用于测定表面光学零件、晶体、薄膜的光谱特性,以及对大型固体物体的吸收光谱进行配准。 在频谱的工作范围内传输,输入信号的%至少为30 配准光谱时推荐的扫描次数为25 25次扫描时的频谱配准时间(分辨率4cm-1),sec30 辐射穿透样品的深度,微米5–15 固体样品的最小面积,mm0.2×0.2 所研究液体的最小体积,ml1 纤维样品的最小尺寸:截面直径/长度,mm0.1/1 衬底晶体材料ZnSe CVD,Ge 聚焦光斑直径,mm1 Zdo模式下辐射(中心光束)在样品上的入射角45o 微透镜的放大倍数/视觉通道的总放大倍数4X/75X 光学系统的视场,mm2X2.5 数码摄像机分辨率640x480 外形尺寸,mm150×150×260 重量,kg2.15 *允许您研究小尺寸的物体(从200微米-取决于材料的几何形状,表面质量和物理化学性质) *附件允许您在没有样品准备的情况下工作,使用配备颜色指示器的夹具固定调整样品上的压力 •由于带有NPVO元件的可拆卸法兰,提供了快速方便的样品更换和晶体表面清洁 •在给定的最佳接触力下,由于物质层的厚度不影响光谱的形状和吸收带的强度,该方法提供了高质量和可重复性的结果 *样品保留其原始物理和化学性质,如有必要,可以通过其他方法进一步研究
SIMEKS
Novosibirsk
生产于: 新西伯利亚
硅片前缀
硅片前缀
控制台设计用于在透射或反射模式下控制直径达200mm的半导体晶片的参数。 板材的参数通过高度敏感的非接触式方法在操作员指定的点进行控制。
Infraspek
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
半导体晶圆测试仪FSM1201P
半导体晶圆测试仪FSM1201P
用于监测半导体晶片参数的测试仪FSM1201P允许按照操作者设定的程序,自动测量放置在测量台上的直径为76、100、125、150和200毫米的平面平行抛光硅晶片。 一点的标准测量时间不超过20秒。 主要受控参数: 间质氧的浓度(板厚0.4-2.0mm)内(5×1015-2×1018)±5×1015 sm-3(半MF1188); 取代碳浓度(板厚0.4-2.0mm)范围:(1016-5×1017)±1016cm-3(半MF1391); 硅片中氧分布的径向不均匀性(半MF951); n-n+和p-p+类型的硅结构的外延层的厚度在(0.5–10.0)±0.1微米、(10-200)±1%微米(SEMI MF95)的范围内; CNS结构中外延硅层的厚度在(0.1-10.0)±1%微米范围内; FSS层中的磷和bfss层中的硼/磷的浓度在(1-10)±0.2重量%以内。
Infraspek
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
聚焦前缀MKF-Yu
聚焦前缀MKF-Yu
它允许记录尺寸为500微米的物体(宝石,光学部件,半导体材料)的透射光谱。 它也用于研究用KBr压缩成小直径片剂的样品(该方法便于粉状物质的光谱分析-前缀允许您使用手动压力机使用少量样品来制造片剂)。 *聚焦光斑直径小于3毫米 *设计采用抛物面镜光学 •机顶盒配有一组可更换的膜片支架,用于不同尺寸的样品 *窗户-由红外透明材料制成的衬底可以在粘贴、液体物质或提取物后放入支架中,然后干燥各层 *滑台具有垂直和水平方向平滑移动的可能性,以达到最大信号电平
SIMEKS
Novosibirsk
生产于: 新西伯利亚
KBr片座D13mm
KBr片座D13mm
它的目的是固定和安装到样品室的光谱仪插入模具的片剂与溴化钾直径13毫米,获得使用液压机。 它也可用于研究硒化锌(ZnSe)和硅(Si)窗口基板上的液体和糊状样品。
SIMEKS
Novosibirsk
生产于: 新西伯利亚
红外显微镜"MIKRAN-3"
红外显微镜"MIKRAN-3"
一个具有极高灵敏度的更高级别的设备和一组额外的功能,使您能够扩展进行光谱研究的可能性: *带4个可互换镜头的左轮手枪机构-镜面IR15X,NPVO,镜头4x,镜头10X; *镜面和漫反射、透射和NIP模式下的光谱配准; *提高灵敏度,可记录尺寸为5微米的微物体的光谱; ·内置控制面板,具有高级功能; *自动绘图系统; *矩形狭缝膜片由特殊玻璃制成-选择片段后,其余视场也可供用户查看,这大大简化了具有局部不均匀性的扩展表面的光度测量; *用于控制显微镜和处理结果的专用软件。 液氮需要与红外显微镜一起工作。
SIMEKS
Novosibirsk
生产于: 新西伯利亚
各种厚度和薄膜的固体样品的通用支架
各种厚度和薄膜的固体样品的通用支架
它用于记录中等大小和任意形状的固体样品–各种厚度的聚合物薄膜、光学部件、半导体晶片、大晶体等的透射光谱。 •由于快速释放螺母,它提供了方便的紧固样品
SIMEKS
Novosibirsk
生产于: 新西伯利亚
Specord型比色皿
Specord型比色皿
带有密封连接窗口的比色皿具有恒定的光程长度和可折叠的外壳。 比色皿专为定性和定量分析挥发性液体和低粘度液体而设计。
Infraspek
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡